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Presse-InformationDatum: Februar 2016
Anlage: jpg.
Kennziffer: PR-0003-CPE-260116-TMSP
Die TopMap Familie bekommt ZuwachsBerührungslose Oberflächenmesstechnik bestimmt Formabweichung und Rauheitbequem in einem
Die TopMap Produktfamilie umfasst die berührungslos arbeitenden, optischen Topografie-
Messysteme von Polytec. Für alle Belange der Oberflächencharakterisierung anhand von Parametern
wie Ebenheit, Stufenhöhen, Parallelität oder Rauheit bietet das Portfolio kundenspezifische
Lösungen. Dabei bestechen unter anderem das große Messfeld, um sogenanntes „Stitching“
(nachträgliches Zusammenfügen mehrerer Einzelbilder) zu umgehen, die telezentrische Optik, um
schwer zugängliche Bereiche zu erfassen sowie die exzellente vertikale Auflösung unabhängig von
Bildfeldgrößen.
Bereits jetzt erstreckt sich das Angebot der TopMap Familie von Einstiegslösungen für das Messlabor
(TopMap Metro.Lab) über Lösungen für die Fertigungslinie (TopMap In.Line), für mikroskopische
Anwendungen (TopMap µ.Lab), in Fertigungslinien integrierbare Punktsensoren zur Abstands- und
Rauheitsbestimmung (TopSens) bis hin zum High-End System für eine schnelle Ermittlung von
Formabweichungen (TopMapPro.Surf).
Nun wird dieses Portfolio noch um ein All-In-One System ergänzt (TopMapPro.Surf+) um
Formabweichungen und Rauheit auf einen Blick zu bestimmen. Damit sind noch aussagekräftigere
und effizientere Qualitätskontrollen auch direkt an der Fertigungslinie möglich, wo gerade Zeit und
Maßhaltigkeit wichtige Erfolgsfaktoren sind.
Zuständig bei RückfragenAbdruck honorarfrei – Beleg erbeten Christina, Petzhold
Tel. 07243-604-3680
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