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Pulverdiffraktometrie Polykristallines Material Fingerprintmethode Homogenität/ Phasenanalyse/Zusammensetzung - quantitativ ! Kristallsystem + Gitterparameter + Laue-Symmetrie Raumgruppe ?? Textur Partikelgröße und Stress/Strain Strukturlösung Strukturverfeinerung - Rietveldmethode nicht destruktiv

Polykristallines Material Fingerprintmethode Homogenität/ Phasenanalyse ... · 2007. 7. 23. · FK9_XRD3SS2007 [Schreibgeschützt] Author: wbensch Created Date: 7/23/2007 4:18:29

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  • Pulverdiffraktometrie

    Polykristallines Material

    Fingerprintmethode

    Homogenität/ Phasenanalyse/Zusammensetzung - quantitativ !

    Kristallsystem + Gitterparameter + Laue-Symmetrie

    Raumgruppe →→→→ ??

    Textur

    Partikelgröße und Stress/Strain

    Strukturlösung

    Strukturverfeinerung - Rietveldmethode

    nicht destruktiv

  • Informationen

    Lage der Reflexe

    Intensität der Reflexe

    Form der Reflexe

    Intensitäten im Vergleich zu berechneten Intensitäten

  • Einsatzgebiete

    Stahlindustrie - Homogenität, Zusammensetzung, Textur

    Pharmaindustrie - Zusammensetzung, Homogenität, Temperaturstabilität,Polymorphie, Reversibilität

    Halbleiterindustrie - Textur und Spannung

    Baustoffindustrie - Zusammensetzung, Homogenität, Teilchengröße

    Beschichtungen/Filme - Dicke, Zahl der Schichten, Rauhigkeit, Kristallinität

  • Polykristalline Substanzen

    Textur

  • Xe-Proportional-Zählrohr

    Austrittsblende

    Sollerblende Sollerblende Röntgenquelle

    Kristall-Monochromator

    RotierenderProbenträger

    AutomatischeDivergenzblende

    Geometrie bei Zählrohrdiffraktometern

  • Meist Bragg-Brentano-Fokussierung

    Probe

    Zählrohr

    Schlitz- undSollerblende

    Soller-blende

    X-Ray

    Ebenes, pulverförmiges Präparat be-findet sich in der Mitte des Meßkreis

    Üblicherweise θ-2θ-Geometrie (Zählrohr bewegt sich mit bestimmter Geschwindigkeit entlang des Mess-kreises

    Präparat wird mit 1/2 Geschwindig-keit bewegtInterferenzen werden nacheinander registriert

    Brennfleck der Röntgenröhre und Eintrittsblende des Zählrohrs befinden sich stets am Umfang des Fokussierungskreis

    Geometrie bei Zählrohrdiffraktometern

  • Das Pulverdiffraktogramm

  • Fundamentale Beziehung:

    Ihkl ∼∼∼∼ Fhkl2

    Strukturfaktor enthält Information über Koordinaten

    Fhkl = ΣΣΣΣj=1n fiT e2ππππi(h⋅⋅⋅⋅xj + k⋅⋅⋅⋅yj + l⋅⋅⋅⋅zj)

    fjT = Atomformfaktor

  • Intensität I der Streuung eines einzelnen freien Elektrons:

    e4

    1 + cos2φφφφI = I0 ( )m2⋅⋅⋅⋅c4⋅⋅⋅⋅R2

    2

    I0 = einfallende Intensität e = Ladung des Elektrons

    m = Masse des Elektrons c = Lichtgeschwindigkeit

    R = Abstand zwischen Elektron und Beobachtungsort

    Klammer: Polarisationskorrektur, wenn Strahl vorher unpolarisiert war

    e4/m

    2⋅⋅⋅⋅c4 = 7.94 ⋅⋅⋅⋅ 10-26 cm2

    Intensität

  • Totale Streukraft P eines Reflexes hkl

    V ⋅⋅⋅⋅ λλλλ3 ⋅⋅⋅⋅ m ⋅⋅⋅⋅ F2 1 + cos2 2θθθθP = I0 ( )4⋅⋅⋅⋅va

    2 2⋅⋅⋅⋅sin θθθθe4

    me2 c

    4( )

    F = Strukturfaktor λλλλ = Wellenlänge va = EZ-Volumen

    m = Flächenhäufigkeitsfaktor 1.Klammer: Lorentz-Polarisation

    V = effektives Volumen der Pulverprobe

    λλλλ3-Problem: Cu Kαααα = 3.66 und Mo Kαααα = 0.359 !!

  • Zahl der Reflexe in einem PD: nur bestimmt durch Größe und

    Symmetrie der EZ und der Wellenlänge der Strahlung

    N ≈≈≈≈ 32ππππ/3 V/λλλλ3 sin3ΘΘΘΘ/Q

    V = EZ-Volumen, λ = Wellenlänge, Q = Produkt der durchschnittlichen Multiplizität der Reflexe und Zahl der Gitterpunkte pro EZ

    Dichte an Reflexen pro Grad 2 ΘΘΘΘ

    D ≈≈≈≈ 4 ππππ2/45 V/ λλλλ3 sin2ΘΘΘΘ cosΘΘΘΘ/Q

    Beispiel: triklin, V = 1000 Å3, λλλλ = 1Å, 2ΘΘΘΘ bis 180°:

    17 000 Reflexe, 170/Grad bei 2ΘΘΘΘ = 110°

    Das Pulverdiffraktogramm

  • 20 30 40 50 60 70 80

    -600

    1320

    3240

    5160

    7080

    9000

    2 Theta (deg.)

    Inte

    nsi

    ty(a

    .u.)

    NaCl, CuKαααα

    111

    200

    220

    311222

    400331

    420

    Atomformfaktor: Intensität nimmt mit steigendem 2ΘΘΘΘ ab

  • Analyse

    111, 200, 220, 311, 222, 400, 331, 420

    Gesetzmäßigkeit:

    h+k = 2n h+l = 2n k+l = 2n

    F-Bravais-Gitter

    Weitere Analyse: Gitterparameter verfeinern aus Reflexlagen

    Indizes:

    4 sin2θθθθ/λλλλ2 = 1/d2 = (h2 + k2 + l2)/a2

    Erster Schritt: Indizieren

  • 20 30 40 50 60 70 80

    -700

    1440

    3580

    5720

    7860

    10000

    2 Theta (deg.)

    Inte

    nsi

    ty(a

    .u.)

    NaCl, CuKαααα1 + αααα2, kein Monochromator

    Bei höheren Winkeln tritt ein zweiter Reflex auf, Intensitätsverhältnis 1:2 Reflex = 2 : 1

  • 10 20 30 40 50 60 70 80

    -3000

    5600

    14200

    22800

    31400

    40000

    2 Theta (deg.)

    Inte

    nsi

    ty(a

    .u.)

    NaCl, MoKαααα, λλλλ = 0.7107 Å

  • Atomare und molekulare Bewegung in Kristallen

    Temperaturbewegung erniedrigt die Auflösung ---> Erniedrigung der Temperatur

    fj = fj0e-Bj(sin2θθθθ/λλλλ2)

    Bj = 8 ππππ2 u2

    Folge: Intensität vs. 2ΘΘΘΘ nimmt im PD schneller ab als ohne Bewegung

  • 20 30 40 50 60 70 80

    -300

    560

    1420

    2280

    3140

    4000

    2 Theta (deg.)

    Inte

    nsity

    (a.u

    .)

    NaCl, Cuk-alpha, Thermische Schwingung

    Ycalc Bragg_position

    111

    200

    220

    311222

    400331

    420

    NaCl, CuKαααα, thermische Schwingung

  • 20 30 40 50 60 70 80

    -700

    1240

    3180

    5120

    7060

    9000

    2 Theta (deg.)

    Inte

    nsi

    ty(a

    .u.)

    20 30 40 50 60 70 80

    111

    200

    220

    311222

    400331

    420

    NaCl, CuKαααα, 100-Textur

    Berechnete und gemessene Intensitäten unterscheiden sich deutlich

  • 20 30 40 50 60 70 80

    -200

    440

    1080

    1720

    2360

    3000

    2 Theta (deg.)

    Inte

    nsi

    ty(a

    .u.)

    111

    200

    220

    311222

    400331

    420

    NaCl, CuKαααα, 111-Textur

  • 20 30 40 50 60 70 80

    -400

    780

    1960

    3140

    4320

    5500

    2 Theta (deg.)

    Inte

    nsi

    ty(a

    .u.)

    111

    200

    220

    311222

    400331

    420

    NaCl, CuKαααα, 110-Textur

  • Beugung - Röntgenbeugung versus Neutronenbeugung -

    Röntgenbeugung:Beugung an Elektronen

    Neutronenbeugung:Beugung an Atomkernen(104 mal kleiner)Atomformfaktor keine Fkt. von Z

    Dieser hängt ab von:1. Atomare Masse (A) 1/3

    2. Energie der Wechselwirkung zwischen Neutron und Atomkern

    Folge:Nahezu kein Abfall der Beugungs-intensität mit zunehmenden Beugungswinkel

  • 20 30 40 50 60 70 80

    -600

    1120

    2840

    4560

    6280

    8000

    2 Theta (deg.)

    Inte

    nsi

    ty(a

    .u.)

    NaCl, Neutronen

    111

    200

    220

    311222

    400

    331

    420

    Deutlich weniger starker Intensitätsabfall bei Neutronen

  • Was ist strain und welche Auswirkungen werden beobachtet ?

  • 20 30 40 50 60 70 80

    -80

    156

    392

    628

    864

    1100

    2 Theta (deg.)

    Inte

    nsi

    ty(a

    .u.)

    111

    200

    220

    311222

    400

    331

    420

    NaCl, CuKαααα, Teilchengrösseneffekt

  • 2Theta12.0 16.0 20.0 24.0 28.0 32.0 36.0 40.0

    2000

    4000

    6000

    8000

    10000

    12000

    Abs

    olut

    e In

    tens

    ity

    Isostrukturelle Verbindungen

  • 2Theta7.0 12.0 17.0 22.0 27.0 32.0 37.0 42.00

    200

    400

    600

    800

    1000

    1200

    1400

    Abs

    olut

    e In

    tens

    ity

    MoS2 mit Fehlordnung der Schichten zueinander

  • 2Theta10.0 20.0 30.0 40.0 50.0 60.0 70.00

    4000

    8000

    12000

    16000

    20000

    24000

    Abs

    olut

    e In

    tens

    ity

    Verbindung mit ausgeprägter Fehlordnung in der Struktur

  • 2Theta2.0 4.0 6.0 8.0 10.0 12.0 14.00.0

    10.0

    20.0

    30.0

    40.0

    50.0

    60.0

    70.0

    80.0

    90.0

    100.0

    Rel

    ativ

    e In

    tens

    ity (

    %)

    Verbindung mit großer Elementarzelle

  • Mesoporöses SBA-15 – Einfluss von Teilchen in den Poren

  • Auftreten einer Überstruktur

  • 3.0 3.5 4.0 4.5 5.0 5.5 6.00

    1

    2

    AFM: 70 K

    1.5 K

    40 K120 K

    300 K

    FM: 220 K

    d /Å

    Inte

    nsity

    (a.

    u.)

    Neutronenbeugung – Koexistenz von F- und AF-Strukturen