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aldrick-adelsperger
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Thema :
Statistische Prozessregelung
(SPC)von :
Andy Burger
Einführung
Vorbereitung
Anwendung
Inhalt :
Ziele
Einführung :
SPC = Methode zur Prozesslenkung
Überwachung von
Prozessen
Regelung von
Prozessen
Aufgrund von Stichproben während der Fertigung
Einführung
Vorbereitung
Anwendung
Ziele
Untersuchung der Maschinenfähigkeit
Gleichbleibende Einstellungen
Kein Werkstoffwechsel
Keine Unterbrechungen
Gleiches Klima
Kein Personalwechsel
bei gleichbleibenden Bedingungen
Einführung
Vorbereitung
Anwendung
Ziele
Maschinenfähigkeitsindex :
Cm =T
6 · σ
Cmk = ∆ krit
3 · σ
Cm und Cmk ≥ 1,33
Einführung
Vorbereitung
Anwendung
Ziele
Untersuchung der Prozessfähigkeit
Werkzeuge
Hilfsstoffe
Unterbrechungen
Temperaturschwankungen
Personalwechsel
bei realen Bedingungen
Einführung
Vorbereitung
Anwendung
Ziele
Prozessfähigkeitsindex :
Cp =T
6 · σ
Cpk = ∆ krit
3 · σ
Cp und Cpk ≥ 1,33
Einführung
Vorbereitung
Anwendung
Ziele
O 12 -0,1
Beispiel :
25 Stichproben (n = 5) ; stündlich
Stiftschraube
m x s
1
2
3
5
7
8
4
9
13
10
11,991
11,985
11
12
14
11,960
11,965
15
16
22
21
24
20
25
23
19
18
17
6
11,992
11,982
11,970
11,971
11,976
11,973
11,960
11,965
11,985
11,977
11,975
11,965
11,972
11,974
11,960
11,980
11,980
11,971
11,974
11,980
11,991
0,013
0,011
0,013
0,010
0,009
0,012
0,012
0,012
0,011
0,010
0,015
0,013
0,012
0,013
0,009
0,010
0,013
0,015
0,008
0,010
0,011
0,014
0,013
0,011
0,011
Einführung
Vorbereitung
Ziele
Anwendung
Schätzwerte :
σ =1m
s 2
i=1
m
·√ √= si2
Einführung
Vorbereitung
Anwendung
Ziele = 0,0115 mm
µ = xi
m
i=1
· 1m
= 11,975 mm
Eingriffs- und Warngrenzen :
OEG = µ + A E · σ
OWG = µ + A W· σ
M = µ
UWG = µ - A W · σ
UEG = µ - A E · σ
OEG = B OEG · σ
OWG = B OWG· σ
M = a n
UWG = B UWG· σ
UEG = B UEG· σ
für Standardabweichung s
für Mittelwerte x
Einführung
Vorbereitung
Anwendung
Ziele
Shewhart - Karte
BUEG
0,155
0,227
0,287
0,746
0,006
Standardabweichung s
an BOEG
5
6
4
2
n BOWG BUWG
0,921
50
0,2681,7652,069
0,940 1,927 1,669
1,602
0,348
0,408
0,8021,1971,2640,995
0,952 1,830
2,2412,807 0,0310,798
Mittelwert x
n AE AW
4
1
5
6
50
1,9602,576
1,288 0,980
0,8771,152
1,052
0,2770,364
0,800
Einführung
Vorbereitung
Ziele
Anwendung
Auswertung :
für s :
OEG = 0,022 mm
OWG = 0,019 mm
M = 0,011 mm
UWG = 0,004 mm
UEG = 0,003 mm
für x :
OEG = 11,988 mm
OWG = 11,985 mm
M = 11,975 mm
UWG = 11,965 mm
UEG = 11,962 mm
Einführung
Vorbereitung
Ziele
OEG = µ + A E · σ
OEG = 11,975mm + 1,152 · 0,0115mm =11,988mm
Anwendung
Einführung
Vorbereitung
Ziele
Anwendung
Zweispurige Qualitätsregelkarte Auswerteblatt
x-Karte
s-Karte
Zeit
Datum
Merkmal :
Einheit :
Stichprobenumfang :
O 12 -0,1
mm
n = 5
OEG
OWG
OWG
M
M
UWG
UWGUEG
UEG
TRENDRUN
Ziele :
Geeignete Prozessdokumentation
Erkennung einer evtl. Änderung der Fertigungslage
Ständige Prozessoptimierung aufgrund aktueller Daten
Ausschuss u. Nacharbeitoptimierung => zero defect
Optimierung des Prüfumfangs => Prüfkostenreduktion
Verkleinerung von Terminproblemen
Einführung
Vorbereitung
Anwendung
Ziele