Verzeichnis der verwendeten Formelzeichen - Springer978-3-662-01173-7/1.pdf · Verzeichnis der verwendeten Formelzeichen 207 UrejReferenzspannung ua Ausgangsspannung ûa Ausgangsspitzenspannung

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Verzeichnis der verwendeten Formelzeichen

A Fläche Km multiplikative Korrektur-a Abstand konstante B MagnetfluBdichte Kn additive Korrekturkonstante b Konstante k Konstante C Kondensator I Abstand, Länge C Konstante L Induktivität cH Hallkonstante M Moment, Drehmoment CB Boltzmann-Konstante m multiplikative Konstante Cw Widerstandsbeiwert (Steilheit), Masse D Durchmesser, mw Masse des Dampfanteils

Rohrinnendurchmesser N Anzahl, Windungszahl d Durchmesser, Dicke n additive Konstante (Nullpunkt) dO Blendendurchmesser p Druck E Empfindlichkeit pH pH-Wert e Extinktion /).p Differenzdruck eo Elementarladung Q Ladungsmenge F Fehler, Kraft Qm Massendurchfl uB FA Auftriebskraft Qv VolumendurchfluB FG Gewichtskraft R Widerstand

FQ Quantisierungsfehler RO Grundwiderstand (bei einer FR Reibungskraft bestimmten Temperatur bzw. Fs systematischer Fehler Induktion) Fz zufàlliger Fehler RB elektrischer Widerstand bei

J Frequenz einer magnetischen lnduktion

Jo Grundfrequenz Re Reynoldszahl Jabs absolute Feuchtigkeit Rm magnetischer Widerstand Jrel relative Feuchtigkeit s Standardabweichung, Weg g Erdbeschleunigung s2 Stichprobenvarianz h Höhe Sr Strouhal-Zahl h(Y) Häufigkeitsverteilung T Temperatur I Strom t Zeit ID DurchlaBstrom U Spannung IS Sperrstrom UD Sperrspannung

Zählvariable UH Hallspannung

Verzeichnis der verwendeten Formelzeichen 207

UrejReferenzspannung ua Ausgangsspannung ûa Ausgangsspitzenspannung ue Eingangsspannung ûe Eingangsspitzenspannung V Volumen Vp Volumen des Partikels v Geschwindigkeit X EingangsgröBe Xc kapazitiver Widerstand XL induktiver Widerstand Y AusgangsgröBe, MeBergebnis YE Erwartungswert Yi EinzelmeBwert Yu unkorrigiertes MeBergebnis a DurchfluBzahl, Konstante p Konstante E Dehnung,

Dielektrizitätskonstante, Extinktionskoeffizient, Expansionszahl

Er relative Dielektrizitätskonstante

4> magnetischer FluB, Winkel, Phasenwinkel

11 dynamische Viskosität À Wellenlänge

!l Permeabilität v kinematische Viskosität û) Kreisfrequenz, Winkelge-

schwindigkeit

P spezifischer Widerstand, Dichte pp Dichte des Partikels

PF Dichte der Flüssigkeit

208

Literaturverzeichnis

Kap. 1: Das Me6system als Informationssystem

[1] Fey, P.: Informationstheorie. Berlin: Akademie Verlag 1963.

[2] KrauB, M., Woschni, E. G.: MeBinformationssysteme. 2. Auflage. Berlin: Verlag Technik 1975.

[3] Vieweg, R.: MaB und Messen in kulturgeschichtlicher Sicht. Wiesbaden: Steiner-Verlag 1962.

[4] Wolf, W.: Nachrichtenübertragung. Berlin: Springer-Verlag 1974.

Kap. 2: Kennfnnktionen nnd Kennwerte von Me6systemen

[5] DIN 1301: Einheiten. Ausg. Nov. 1971.

[6] DIN 1319-1: Grundlagen der MeBtechnik. Teil 1: Grundbegriffe. Ausg. Januar 1995.

[7] DIN 1319: Grundbegriffe der MeBtechnik. Teil 1: Allgemeine Grundbegriffe. Ausg. Juni 1985.

[8] DIN 1319: Grundbegriffe der MeBtechnik. Teil 2: Begriffe für die Anwendung von MeBgeräten. Ausg. Januar 1980.

[9] DIN 1319: Grundbegriffe der MeBtechnik. Teil 3: Begriffe für die MeBunsicherheit und für die Beurteilung von MeBgeräten und MeBeinrichtungen. Ausg. August 1983.

[10] DIN 1319: Grundbegriffe der MeBtechnik. Teil 4: Behandlung von Unsicherheiten bei der Auswertung von Messungen. Ausg. Dezember 1985.

[11] Kronmüller, H., Barakat, F.: ProzeBmeBtechnik. Berlin: SpringerVerlag 1974.

[12] Novickij, P. V.: Gütekriterien für MeBeinrichtungen. Berlin: Verlag Technik 1987.


[13] Profos, P.: Einführung in die Systemdynamik. Stuttgart: B. G. Teubner Verlag 1982.

[14] Schlitt, H.: Systemtheorie für regellose Vorgänge. Berlin: S pringer-Verlag 1960.

[15] Strobel, H.: Systemanalyse mit determinierten Testsignalen. Berlin: Verlag Technik 1972.

[16] Vahldiek, H.: Übertragungsfunktionen. München: OldenbourgVerlag 1973.

[17] VDI / VDE 2600, Blatt 1-6: Metrologie (MeBtechnik). Berlin, Köln 1973.

[18] Woschni, E. G.: MeBdynamik. Leipzig: Hirzel-Verlag 1972.

Kap. 3: Me6fehler

[19] Hart, H., Lotze, W., Woschni, E.-G.: MeBgenauigkeit. 2. Auflage. Berlin: Verlag Technik 1989.

[20] Heinhold, H., Gaede, K.-W.: Ingenieur-Statistik. München, Wien: Oldenbourg-Verlag 1968.

209

[21] Kreyszig, E.: Statistische Methoden und ihre Anwendungen. 3. Auflage. Göttingen: Vandenhoeck & Ruprecht 1968.

[22] Prof os, P.: MeBfehler. Stuttgart: B. G. Teubner Verlag 1984.

[23] Täbert, P.: Abschätzung der Genauigkeit von MeBergebnissen. Berlin: Verlag Technik 1987.

[24] Woschni, E. G.: MeBfehler bei dynamischen Messungen. Berlin: Verlag Technik 1972.

Kap. 4: Messung mechanischer Grö6en aD Festkörpern

[25] Corsepius, H.-W.: Ultraschall-Prüftechnik für den Praktiker. Bad Wörishofen: H. Holzmann-Verlag 1982.

[26] Dutschke, W.: FertigungsmeBtechnik. Stuttgart: B. G. Teubner-Verlag 1990.

[27] Ernst, A.: Digitale Längen und WinkelmeBtechnik. 2. Auflage. Landsberg / Lech: Verlag Moderne Industrie 1991.

210 Literaturverzeichnis

[28] Haug, A.: Elektronisches Messen mechanischer GrÖBen. München: Hanser Verlag 1969.

[29] Hoffmann, K.: Eine EintUhrung in die Technik des Messens mit DehnungsmeBstreifen. Darmstadt: Hottinger Baldwin MeBtechnik GmbH 1987.

[30] Kochsiek, M. (Hrsg.): Handbuch des Wägens. 2. Auflage. Wiesbaden: Vieweg-Verlag 1989.

[31] Kramer, H., Bonfig, K. W.: Praxis der LängenmeBtechnik. Bad Wörishofen: Hans Holzmann Verlag 1977.

[32] Krautkrämer, J., Krautkrämer, H.: Werkstoffprüfung mit Ultraschall. 5. Auflage. Berlin: Springer Verlag 1986.

[33] Lang, H.: Längenmessung an bewegten Teilen mit berührungslos wirkenden Aufnehmem. Mainz: Krausskopf-Verlag 1978.

[34] Lutzke, D.: Betrieb und Schaltungstechnik von Fotodioden. elektronik industrie (1981) Nr. 2, S. 27/32.

[35] Müller, R. K.: Mechanische GröBen elektrisch gemessen-Grundlagen und Beispiele zur technischen AustUhrung. Grafenau / Württ.: ExpertVerlag 1980.

[36] Neumann, H. 1. u.a.: CNC-KoordinatenmeBtechnik, Stand der Technik, neue Technologien, MeBunsicherheit, Einsatzerfahrungen. Grafenau / Württ.: Expertverlag 1988.

[37] N.N.: Referateorgan "Elektrisches Messen mechanischer GrÖBen". Bundesanstalt tUr Materialprüfung Berlin, Fachgruppe MeBwesen und Grundlagen der Versuchstechnik.

[38] Pfeifer, T., Rühl, F.: Laser-MeBverfahren. Berlin: Springer Verlag 1991.

[39] Rohrbach, C.: Handbuch tUr elektrisches Messen mechanischer GrÖBen. Düsseldorf: VOl-Verlag 1967.

[40] Tichy, J., Gautschi, G.: Piezoelektrische MeBtechnik. Berlin, Heidelberg, New York: Springer-Verlag 1980.

[41] VDI -Berichte Nr. 549: Laserinterferometrie. Düsseldorf: VOl -Verlag 1985.

[42] VOl-Berichte Nr. 749: Laserinterferometrie in der industriellen MeBtechnik. Düsseldorf: VOl-Verlag 1989.


[43] Warnecke, H. J., Dutschke, W.: FertigungsmeBtechnik, Handbuch rur Industrie und Wissenschaft. Berlin, Heidelberg, New-York, Tokyo: Springer Verlag 1984.

Kap. 5: Messung mechanischer Grö8en an Flüssigkeiten und Gasen

[44] Albrecht, H.-E.: Laser-Doppler-Strömungsmessung. Berlin: Akademieverlag 1986.

[45] Bonfig, K. W.: Technische DurchfluBmessung mit besonderer Berücksichtigung neuartiger DurchfluBmeBverfahren. 2. Auflage. Essen: Vul kan-Verlag 1986.

[46] Bonfig, K. W.: DurchfluBmessung von Flüssigkeiten und Gasen. Ehningen: Expert-Verlag 1990.

[47] Bonfig, K. W.: Technische Füllstandsmessung und Grenzstandskontrolle. Ehningen: Expert-Verlag 1990.

[48] Bonfig, K. W., Liske, A.: FüllstandmeBtechnik. Bad Wörishofen: Hans Holzmann Verlag 1972.

[49] Edinger, M.: DurchfluBmessung von Flüssigkeiten. Bern: HallwagVerlag 1965

[50] Früh, K.F.: Zu den Anfàngen der magnetisch-induktiven DurchfluBmessung. Automatisierungstechnische Praxis atp 27 (1985) Nr. 1, SA3 /44.

[51] Hart, H.: Kontinuierliche Flüssigkeitsmessung. Braunschweig: Vieweg Verlag 1969.

[52] Herning, F.: Grundlagen und Praxis der DurchfluBmessung. Düsseldorf: VOl-Verlag 1967.

[53] Hogrefe, W.: Magnetisch-induktive DurchfluBmesser Regelungstechnische Praxis rtp 18 (1976) Nr. 12, S. 321/348.

[54] Mayer, N., Rohrbach, C.: Handbuch rur die fluidische MeBtechnik. Düsseldorf: VOl -Verlag 1977.

211

[55] Miller, R. W.: Flow measurement engineering handbook. 2nd edition. New York: Mc Graw-HillI989.


[56] Orlicek, A. F., Reuther, F. L.: Zur Technik der Mengen- und DurchtluBmessung von Flüssigkeiten. München, Wien: OldenbourgVerlag 1971.

[57] Pfeifer, G., Werthschützky, R.: Drucksensoren. Berlin: Verlag Technik 1989.

[58] Ruck, B. (Hrsg.): Lasermethoden in der StrömungsmeBtechnik. Stuttgart: AT-Fachverlag 1990.

[59] Schommartz, G.: lnduktive Strömungsmessung. Berlin: Verlag Technik 1974.

[60] Schurz, J.: Viskositätsmessung an Hochpolymeren. Berlin, Stuttgart: Verlag Berliner Union 1972.

[61] Stricker, H.: Hitzdraht- und Hitzfilmanemometrie. Berlin: Verlag Technik 1974.

[62] Ubbelohde, L.: Zur Viskosimetrie. 7. Autlage. Stuttgart: S. Hirzel Verlag 1965.

[63] Umstätter, H.: Einfiihrung in die Viskosimetrie und Rheometrie. Berlin, Göttingen, Heidelberg: Springer Verlag 1952.

[64] VOl-Berichte Nr. 254: DurchtluBmeBtechnik. Düsseldorf: VOl-Verlag 1976.

[65] Walters, K.: Rheometry. London: Verlag Chapman & Hall 1975.

[66] Wuest, W.: StrömungsmeBtechnik. Braunschweig: Vieweg Verlag 1969.

Kap. 6: Messung thermischer Grö6en

[67] Adunka, F.: Wärmemengenmessung. Essen: Vul kan-Verlag 1984.

[68] Bamard, R. D.: Thermoelectricity in Metals and Alloys. Taylor & Francis 1972.

[69] Eder, F. x.: Arbeitsmethoden der Thermodynamik. Berlin: Springer Verlag 1981.

[70] Engel, F.: Temperaturmessung mit Strahlungspyrometem. Reihe Automatisierungstechnik, Band 157. Berlin: Verlag Technik 1974.

Literaturverzeichnis 213

[71] Euler, J., Ludwig, R.: Arbeitsmethoden der optischen Pyrometrie. Karlsruhe: G. Braun-Verlag 1960.

[72] Henning, F., (Hrsg. H. Moser): Temperaturmessung. 3. Auflage. Berlin, Heidelberg, New York: Springer-Verlag 1987

[73] Hofmann, D.: Dynamische Temperaturmessungen. Berlin: Verlag Technik 1976.

[74] Klempfner, F.: Widerstandsthermometerschaltungen. FrankfurtlM: Hartmann & Braun 1976.

[75] Körtvelyessy, L. v.: Thermoelement-Praxis. 2. Auflage. Essen: Vul kan Verlag 1987.

[76] Lieneweg, F.: Handbuch Technische Temperaturmessung. Braunschweig: Vieweg-Verlag 1976.

[77] Lindorf, H.: Technische Temperaturmessungen. 4. Auflage. Essen: Girardet-Verlag 1970.

[78] Michalski, L., Eckersdorf, K., McGhee, J.: Temperature measurement. Chichester: Wiley 1991.

[79] Riesen, R., Widmann, G.: Thermoanalyse. 2. Auflage. Heidelberg: Hüthig Verlag 1987.

[80] Schrüfer, E.: Temperaturmessung mit elektrischen Berührungsthermometem. Parat Jahrbuch MeBtechnik, S. 1/46. Weinheim: Verlag VCH 1987.

[81] VDI-Bericht Nr. 198: Technische Temperaturmessung. Düsseldorf: VDI -Verlag 1973.

[82] Weichert, L. u.a.: Temperaturmessung in der Praxis-Grundlagen und Praxis. Grafenau / Württ.: Lexika-Verlag 1976.

[83] Ziegier, H.: Temperaturmessung mit Schwingquarzen. Technisches Messen tm 54 (1987), S.124 /129.

Kap. 7: Messung optischer Grö8en

[84] Bleicher, M.: Halbleiter-Optoelektronik. Heidelberg: Hüthig-Verlag 1976.

[85] DIN 5030: Spektrale Strahlungsmessung. Ausg. Dezember 1987

214 Literaturverze ichnis

[86] Grum, F., Becherer, R.: Optical radiation measurements. Vol. 1 Radiometry. New Vork, San Francisco, London: Academic Press 1979.

[87] Grum, F.: Optical radiation measurements. Vol. 2 Color measurement and avaluation. New Vork, San Francisco, London: Academic Press 1980.

[88] Keyes, RJ.: Optical and Infrared Detectors. Berlin: Springer Verlag 1977.

[89] Ross, D.A.: Optoelektronik. München: Oldenbourg Verlag 1982.

[90] Schmidt, W., Feustel, 0.: Optoelektronik. Würzburg: Vogel-Verlag 1978.

[91] Texas Instruments ed.: Das Opto-Kochbuch-Theorie und Praxis der Optoelektronik. Freising: Texas Instruments Deutschland GmbH 1975.

Kap. 8: Messung von Konzentrationen

[92] Allen, T.: Particle Size Measurement. Fourth edition. London, Glasgow, New Vork, Tokyo, Melbourne, Madras: Chapman & Hall 1990.

[93] Batel, W.: Einfiihrung in die KorngröBenmeBtechnik. Berlin, Heidelberg, New Y ork: Springer Verlag 1971.

[94] Brandmüller, 1., Moser, H.: Einfiihrung in die Ramanspektroskopie. Darmstadt: Steinkopff-Verlag 1962.

[95] Brügel, W.: Einfiihrung in die Ultrarot-Spektroskopie. Darmstadt: Steinkopff Verlag 1969.

[96] Colthup, N. B., Daly, L. H., Wiberley, S., E.: Introduction to Infrared and Raman Spectoscopy. 3rd Edition. New Vork: Academic Press 1990.

[97] DiCesare,1. L., Dong, M. W., Ettre, L. S.: Introduction to High-Speed Liquid Chromatography. Norwalk: Perkin-Elmer 1981.

[98] DIN-Taschenbuch 133: PartikelmeBtechnik. Berlin, Köln: BeuthVerlag 1987.

[99] Engelhardt, H.: Hochdruck-Flüssigkeitschromatographie. Berlin: Springer Verlag 1977.

[100] Engelhardt, H. (Hrsg.): Practice of High Performance Liquid Chromatography. Berlin: Springer Verlag 1986.


[101] Günzler, H., Böck, H.: IR-Spektroskopie-Eine Einfiihrung. 2. Auflage. Weinheim: Verlag Chemie 1983.

[102] Hediger, H. J.: Quantitative Spektroskopie. Heidelberg: Hüthig Verlag 1985.

[I03] Herres, W.: HRGC-FTIR: Capillary Gas Chromatography-Fourier Transform Infrared, Spectroscopy, Theory and Applications. Heidelberg: Hüthig-Verlag 1987.

[104] Long, D. A.: Raman Spectroscopy. London: McGraw-Hill1977.

[105] MeBlinger, R.: pH-Wertmessung. Regelungstechnische Praxis rtp 23 (1981) Nr. 9, S. 304/308.

[106] Meyer, V.: Praxis der Hochleistungs-Flüssigchromatographie. FrankfurtlM: Diesterweg Verlag 1990.

[107] Oehme, F.: Angewandte Konduktometrie. Heidelberg: Hüthig Verlag 1961.

[108] Oehme, F.: Ionenselektive Elektoden. Heidelberg: Hüthig Verlag 1990.

[109] Oehme, M.: Hochauflösende Gas-Chromatographie. Heidelberg: Hüthig Verlag 1986.

[110] Schneider, F., Plato, M.: Elektronenspin-Resonanz. München: ThiemigVerlag 1971.

[111] Schomburg, G.: Gaschromatographie. Weinheim: VCH Verlagsgesellschaft 1987.

[112] Smith, A. L.: Applied Infrared Spectroscopy. New York: Wiley & Sons 1979.

[113] Schwabe, K.: pH-MeBtechnik. 4. Auflage. Dresden: Verlag Theodor Steinkopff 1977.

[114] Schwaier, A.: Festkörpersensoren zur Messung der Gas- und Ionenkonzentration sowie der Feuchte. Regelungstechnische Praxis rtp (1984) Nr. 7, S. 298 /306.

[115] Volkmann, H. (Hrsg.): Handbuch der Infrarotspektroskopie. Weinheim: Verlag Chemie 1972.

[116] Weitkamp, H., Barth, R.: Einfiihrung in die quantitative IRSpektrometrie. Stuttgart: Thieme Verlag 1976.


[117] Welz, B.: Atomabsorptionsspektrometrie. Weinheim: Verlag Chemie 1983.

[118] Wilson, E. B. jr., Decius, J. C., Cross, P., c.: Molecular Vibrations, The Theory ofInfrared and Raman Vibrational Spectra. New York: McGraw-HillI955.

Kap. 9: Messung akustischer Grö8en

[119] Broch, J. T.: Akoustic noise measurements. Kopenhagen: Brüel & Kjaer 1970.

[120] Bürck, W.: Die SchallmeBfibel für die Lärmbekämpfung. 4. Auflage. München: Oldenbourg-Verlag 1968.

[121] Heckl, M., Müller, H. A.: Taschenbuch der technischen Akustik. Berlin, Heidelberg, New York: Springer Verlag 1975.

[122] Kraak, W., WeiBing, H.: SchallpegelmeBtechnik. Berlin: Verlag Technik 1970.

[123] Meyer, E., Neumann, E. G.: Physikalische und technische Akustik. Braunschweig: Vieweg-Verlag 1967.

Kap. 10: Messung ionisierender Strahlung

[124] Adam, H.: Einftihrung in die Kerntechnik. München: OldenbourgVerlag 1967.

[125] Beeker, K., Scharmann, A.: Einftihrung in die Festkörperdosimetrie. Thiemig Taschenbuch Band 56. München: Karl Thiemig Verlag 1975.

[126] Kiefer, H., Koelzer, W.: Strahlen und Strahlenschutz. Berlin: SpringerVerlag 1986.

[127] Kleinknecht, K.: Detektoren ftir Teilchenstrahlen. Stuttgart: B. G. Teubner Verlag 1972.

[128] KnolI, G.F.: Radiation detection and measurement. New York: Wiley 1979.

[129] Oberhofer, M.: Strahlenschutzpraxis MeBtechnik. Thiemig Taschenbuch Band 6. 2. Auflage. München: Karl Thiemig Verlag 1972.


Kap. 11: Zeitmessung

[130] Beuth, K.: Digitaltechnik. Würzburg: Vogel Buchverlag 1990.

[131] Seifart, M.: Digitale Schaltungen und Schaltkreise. Heidelberg: Hüthig Verlag 1982.

[132] Haack, 0.: Einfiihrung in die Digitaltechnik. Stuttgart: Teubner Verlag 1980.

Kap. 12: Analog / Digital-Wandler

[133] Datel GmbH (Hrsg.): Handbuch der Datenwandlung. 2. erweiterte Auflage. München 1990.

[134] Föllinger, 0.: Lineare Abtastsysteme. 4. Auflage. München, Wien: Oldenbourg Verlag 1990.

[135] N. N. The Fundamentals of Data Acquisition. Hewlett Packard 1990.

[136] N. N. Precision Time and Frequency Handbook. 6th Edition, BalI Efratom Division 1987.

[137] Stearns, S. D.: Digitale Verarbeitung analoger Signaie. München, Wien: Oldenbourg Verlag 1979.

Kap. 13: Intelligente Sensoren und Feldbussysteme

[138] Färber, G. (Hrsg.): Bussysteme. München, Wien: R. OldenbourgVerlag 1987.

[139] Rogos, J.: Intelligente Sensorsysteme in der Fertigungstechnik. Berlin: Springer Verlag 1989.

[140] Walz, G.: Grundlagen und Anwendungen des IEC-Bus. Verlag Markt und Technik 1982.

Allgemeine weiterführende Literatur

[141] Ahlers, H., Waldmann, 1.: Mikroelekronische Sensoren. Berlin: Verlag Technik 1990.

[142] Arnolds, F.: Elektronische MeBtechnik. Stuttgart: Verlag Berliner Union 1976.


[143] Bartak, H. W.: Elektrische MeBgeräte und ihre Anwendung in der Praxis. München: Richard Pflaum Verlag 1973.

[144] Bauer, H.: Lasertechnik. Würzburg: Vogel-Verlag 1991.

[145] Benz, W.: MeBtechnik. 3. Auflage. Frankfurt a.M.: Kohl + Noltemeyer 1983.

[146] Bergmann, K.: Elektrische MeBtechnik. Braunschweig, Wiesbaden: Vieweg-Verlag 1986.

[147] Bimberg, D. u.a.: Laser in der Industrie. Sindelfingen: Expert-Verlag 1985.

[148] Bley, H., Goldmann, A.: Elektronische MeBflihler. Stuttgart: Franckh'sche Verlagsbuchhandlung 1963.

[149] Bonfig, K. W.: Sensoren und Sensorsysteme. Ehningen: ExpertVerlag 1991.

[150] Bonfig, K. W., Bartz, W. J., Wolff, 1.: Sensoren, MeBwertaufnehmer. Ehningen: Expert Verlag 1988.

[151] Donges, A., NoU, R.: LasermeBtechnik. Heidelberg: Hüthig-Verlag 1993.

[152] Dosse, J.: Elektrische MeBtechnik. Frankfurt a. M.: Akad. Verlagsges. 1973.

[153] Drain, L. E.: The Laser Doppier Technique. Chichster, New Vork, Brisbane, Toronto: John Wiley & Sons 1980.

[154] Durst, F., MeUing, A., Whitelaw, J.H.: Theorie und Praxis der LaserDoppler-Anemometrie. Karlsruhe: Verlag G. Braun 1987.

[155] Felderhoff, R.: Elektrische und elektronische MeBtechnik. 5. Auflage. München, Wien: Carl Hanser Verlag 1990.

[156] Fritz, R.: Elektronische MeBwertverarbeitung. Heidelberg: Hüthig Verlag 1977.

[157] Frohne, H., Ückert, E.: Grundlagen der elektrischen MeBtechnik. Stuttgart: B. G. Teubner Verlag 1984.

[158] Gatzmanga, H., Gruhn, G., Fratzer, W., Richter, W.: ProzeBmeBtechnik. Leipzig: Dt. Verlag Grundstoffindustrie 1987.

[159] Gerber, D., Walther, L.: InfrarotmeBtechnik. Berlin: Verlag Technik 1981.


[160] Germer, H., Wefers, N.: MeBelektronik. Band 1 und 2. Heidelberg: Hüthig-Verlag 1985.

[161] Göpel, W.,Hesse, J., Zemel, J. N. (Hrsg.): Sensors. Vol. 1, Fundamentals and General Aspects. Weinheim: VCH Verlagsgesellschaft mbH 1989.

219

[162] Göpel, W.,Hesse, J., Zemel, J. N. (Hrsg.): Sensors. Vol. 2/3, Mechanical Sensors. Weinheim: VCH Verlagsgesellschaft mbH (scheduled for 1991).

[163] Göpel, W.,Hesse, J., Zemel, 1. N. (Hrsg.): Sensors. Vol. 4, Thermal Sensors. Weinheim: VCH Verlagsgesellschaft mbH (scheduled for 1990).

[164] Göpel, W.,Hesse, J., Zemel, 1. N. (Hrsg.): Sensors. Vol. 5, Magnetic Sensors. Weinheim: VCH Verlagsgesellschaft mbH 1989.

[165] Göpel, W.,Hesse, J., Zemel, J. N. (Hrsg.): Sensors. Vol. 6, Optical Sensors. Weinheim: VCH Verlagsgesellschaft mbH (scheduled for 1991 ).

[166] Göpel, W.,Hesse, J., Zemel, J. N. (Hrsg.): Sensors. Vol. 7/8, Chemical and Biochemical Sensors. Weinheim: VCH Verlagsgesellschaft mbH (scheduled for 1990).

[167] Grave, H.F.: Elektrische Messung nichtelektrischer GrÖBen. Akademische Verlagsgesellschaft 1965.

[168] Gutnikov, V.S., Lenk, A., Mende, u.: Sensorelektronik. Berlin: Verlag Technik 1984.

[169] Hart, H.: Einfiihrung in die MeBtechnik. Berlin: Verlag Technik 1987.

[170] Hauptmann, P.: Sensoren. München: Hanser Verlag 1991.

[171] Hengstenberg, J., Sturm, B., Winkier, 0.: Messen, Steuem und Regeln in der chemischen Technik. 3. Auflage. Berlin, Göttingen, Heidelberg: Springer Verlag 1980.

[172] Herold, H.: Sensortechnik. Heidelberg: Hüthig Verlag 1993.

[173] Heywang, W.: Sensorik. Berlin: Springer Verlag 1986.

[174] Hofmann, D.: Handbuch MeBtechnik und Qualitätssicherung. Braunschweig und Wiesbaden: Vieweg-Verlag 1983.

[175] Hofmann, D.: Handbuch MeBtechnik und Qualitätssicherung. 3. Auflage. Berlin: Verlag Technik 1986.


[176] Junge, H.-D. (Hrsg.): brockhaus abc elektronik. Leipzig: F. A. Brockhaus Verlag 1978.

[177] Junge, H.-D. (Hrsg.): brockhaus abc automatisierung. Leipzig: F. A. Brockhaus Verlag 1975.

[178] Jütteman, H.: Grundlagen des elektrischen Messens nichtelektrischer GrÖBen. Düsseldorf: VDI-Verlag 1974.

[179] Kautsch, R.: Elektrische MeBtechnik zur Messung nichtelektrischer GrÖBen. Berlin: Verlag Technik 1967

[180] Kronmüller, H.: Methoden der MeBtechnik. Karlsruhe: SchnäckerVerlag 1988.

[181] Lemme, H.: Sensoren in der Praxis. München: Franzis-Verlag 1990.

[182] Lindner, H., Brauer, H., Lehmann, c.: Taschenbuch der Elektrotechnik und Elektronik. 5. Auflage. Leipzig: Fachbuchverlag 1993.

[183] Merz, L.: Grundkurs der MeBtechnik. Müchen: Oldenbourg-Verlag 1974.

[184] Mesch, F.: MeBtechnisches Praktikum tUr Maschinenbauer und Verfahrenstechniker. 3. Auflage. Mannheim, Wien, Zürich: Bibliographisches Institut 1981.

[185] Millner, R.: Ultraschalltechnik -Grundlagen und Anwendungen. Weinheim: Physik Verlag 1987.

[186] Niebuhr, J.: Physikalische MeBtechnik. Bd. 1 u. 2. München: Oldenbourg-Verlag 1977.

[187] Nührmann, D.: Praxis der MeBtechnik. München: Franzis-Verlag 1990.

[188] Nührmann, D.: Sensor-Praxis. München: Franzis-Verlag 1990.

[189] Obermeier, E., Reichel, H.: MeBwerterfassungssysteme und Sensorprinzipien. Elektronik (1979) Nr. 26, S. 23 /29.

[190] Paul, M.: Digitale MeBwertverarbeitung. Berlin, Offenbach: VDE Verlag 1982.

[191] Pflier, P. M., Jahn, H., Jensch, G.: Elektrische MeBgeräte und MeBverfahren. Berlin, Heidelberg, New York: Springer Verlag 1978.

[192] Profos, P.: Kompendium der Grundlagen der MeBtechnik. Essen: Vulkan-Verlag 1974.


[193] Profos, P., Pfeifer, T. (Hrsg.): Handbuch der industriellen MeBtechnik. Wien: R. Oldenbourg-Verlag 1992.

[194] Profos, P., Pfeifer, T. (Hrsg.): Grundlagen der MeBtechnik. 3. Auflage. München: Oldenbourg-Verlag 1992.

[195] Richter, W.: Elektrische MeBtechnik. 3. bearbeitete Auflage. Berlin: Verlag Technik 1994.

[196] Rissling, C., Wattenberg, H.: ProzeBmeBtechnik. Osnabrück: H. Th. Wenner-Verlag 1991.

[197] Rosenberger, D.: Technische Anwendungen des Lasers. Berlin: Springer-Verlag 1975

[198] Samal, E.: Elektrische Messung von ProzeBgröBen. AEG-Telefunken Handbücher Bd. 17. Berlin: Elitera-Verlag 1974.

[199] Schanz, G. W.: Sensoren-Fühler der MeBtechnik. Heidelberg: Hüthig Verlag 1986.

[200] Schaumburg, H.: Sensoren. Stuttgart: B. G. Teubner Verlag 1992.

[201] Schink, H.: Fibel der VerfahrensmeBtechnik. München, Wien: Oldenbourg Verlag 1968.

[202] Schnell, G. (Hrsg.): Sensoren in der Automatisierungstechnik. 2. Auflage. Wiesbaden: Vieweg Verlag 1993.

[203] Schrüfer, E.: Elektrische MeBtechnik. München: Hanser-Verlag 1992.

[204] Schumny, H.: MeBtechnik mit dem Personal Computer. Berlin: Springer-Verlag 1993.

[205] Seiler, E. (Hrsg.): Grundbegriffe des MeB- und Eichwesens. Braunschweig, Wiesbaden: Vieweg Verlag 1983.

[206] Sprenger, E., Honmann, W. (Hrsg.): Taschenbuch rur Heizung und Klimatechnik. München: Oldenbourg-Verlag 1983.

[207] Stöckl, M., Winterling, K. H.: Elektrische MeBtechnik. Stuttgart: B. G. Teubner Verlag 1987.

[208] Strohrmann, G.: Einruhrung in die MeBtechnik im Chemiebetrieb. 2. Auflage, München, Wien: Oldenbourg-Verlag 1983.

[209] Thiel, R.: Elektrisches Messen nichtelektrischer GrÖBen. Stuttgart: Teubner Studienskripten Nr. 67. B. G. Teubner Verlag 1977.


[210] Tietze, u., Schenk, eh.: Halbleiterschaltungstechnik. 9. Auflage. Berlin: Springer Verlag 1990.

[211] Tränkler, H.-R.: Die Technik des digitalen Messens. München, Wien: Oldenbourg Verlag 1976.

[212] Tränkler, H.-R.: Taschenbuch der MeBtechnik. 3. Auflage. München: Oldenbourg-Verlag 1992.

[213] Walter, L.: InfrarotmeBtechnik. Berlin: Verlag Technik 1983.

[214] Wiegleb, G.: Sensortechnik. München: Franzis-Verlag 1986.

Sachwortverzeichnis

A

A/D-Umsetzung, 195 A/D-Wandlung, 127; 156; 190; 194;

200 Abgase, 143 Abintegration, 199 Abintegrieren, 198 Ableitelektroden, 134 Ablösekraft, 56 absolute Feuchte, 137 absoluter Fehler, 11 Absorber, 126 Absorption, 138; 149; ISO; 151 Absorptionsspektroskopie, 149 Abstand, 47 Abstandsänderung, 71 Abstandsmessung, 30 Abtastfrequenz, 156 Abweichung, 14; 21; 35 Achsabschnitt,4 additive Konstante, 18; 19 additiver Fehler, 114 Adsorbenzien, 146 Adsorption, 146 Aggregatzustand, 133 aggressive Medien, 82; 86; 98 AlKEN-Kode, 187 Aktivkohle, 146 Akustik, 176 akustische Aufnehmer, 71; 95 akustische DurchtluBmeBverfahren,

87 akustische GröBen, 176 Alarmgeber, 144

223

Amplitude, I; 7; 12; 13; 17; 48; SI; 56;58;64; 100; 151;155; 158; 168;182

Amplitude-Zeitdiagramm, 156 Amplitudenerkennung, 156 Amplitudengang, 7 Amplitudenkennlinie, 7 Amplitudensprung, 6 Analog / Digital-Wandier, 190 analoger Wertebereich, 190 Analogsignal, 158; 202 Analogwert, 191; 195 AnalysenmeBtechnik, 133 Analysenwaage,73 Analysenzeit, 173 Andreasenpipette, 172 anisotroper magnetoresistiver Effekt,

62 Anode, 131; 132 Anregung, 154 AnschluBstelle, 120 Anstiegszeit, 6 Antwortfunktion, 5 Anzahl, IS Anzahlhäufigkeit, 159 Anzeige, 187 Approximation, 22; 25 Approximationsverfahren, 25 Aräometer, 107 Arbeitspunkt, 5; 20; 61 Arbeitspunkt, magnetischer, 64 Argon, ISO Asynchronzähler, 187 Atom, 153 Atomemissionsspektroskop, 154

224

Atomfluoreszenzspektroskop, 154 Atomkem, 149; 151 Aufintegration, 198; 199 Auflösung, 9; 69; 71; 74; 166; 190;

191; 193 Auflösungsvermögen, 64 Aufnehmer, 129; 179 Auftrieb, 105; 106; 107 Auftriebskörper, 107 Auftriebskraft, 79; 80; 90; 107; 170 Auge,130 Ausbreitungsgeschwindigkeit, 95 Ausbreitungswiderstands-Sensor,

123 Ausgang,10 Ausgangsbelegung, 186 AusgangsgröBe, 3; 4; 5; 7; 10; 11;17;

19;23;25;59;203 Ausgangssignal, 1; 5; 7; 48; 56; 65;

73;75;104; 127; 151;164 Ausgleichsleitungen, 121 Ausgleichsvorgänge, 3 Auslaufzeit, 101; 102 Auslösezählrohr, 182 AusreiBer, 203 Ausschaltverhalten,83 Austauschbarkeit,116 äuBerer lichtelektrischer Effekt, 129

B

basische Lösung, 134 BCD-Zähler, 187 Beleuchtung, 129 Beleuchtungsstärke, 128; 129; 131 BelichtungsmeBgerät,131 Benetzung, 111 Benetzungseffekt, 160 Beobachtungsmonitor, 162

Sachwortverzeichnis

berührungslose Messung, 125 Beschleunigung, 44; 45; 48; 190 Beschleunigungssensor, 45 Betriebsdichte, 107 Betriebsspannung, 11 Beugungsringe, 168; 169 Bewegungsrichtung, 71 Bezugselektrode, 134 Biegeschwingerquarz, 186 bifiliar, 113 Bildanalysesystem, 162 binäres Ausgangssignal, 194 Binärzähler, 186 bistabile Kippstufe, 185; 187 bistabiIer Kippgenerator, 187 Bit, 190 Bitkombination, 190 Bitzahl,190 Blendenrad, 150; 151 Bodendruckmessung, 80 Brechungsindex, 149 Brechungsindexdetektor, 149 Brennkammer, 145 Brown' sche Molekularbewegung,

174 Brücke,49 Brückenschaltung, 40; 42; 43; 56;

115; 141 Bus, 204 Bussystem, 203

c

CCD-Element, 69 charakteristische Röntgenstrahlung,

157;158 Charge-Baiancing-AID-Wandler,

201 chemische Industrie, 159

Sachwortverzeichnis

Codierung, 190 Coulter-Verfahren, 164 Coulter Counter, 165

D

D/A-Wandler, 195 Dämmerungsschalter,l Deformation, 44; 46 DehnmeBstreifen, 38; 40; 43; 81; 93;

106 DehnrneBstreifen-Wägezelle, 74 Dehnung, 38; 39; 41 Deintegration, 197 Dekoder, 188 Detektor, 148; 149 Diagonalspannung, 49; 75; 115 Diaphragma, 134 Dichte, 79; 80; 86; 101; 105; 106;

107; 110;133;147;160;175 Dielektrikum, 46; 47; 139 Dielektrizitätskonstante, 47; 79; 81;

138; 139 Differentialtauchankeraufnehmer,

53 Differential, totales, 38 Differentialanordnung, 49; 50; 61; 78 Differentialkondensator, 49; 78 Differentialquerankeraufnehmer, 55 Differenzdruck, 92 DifferenzdruckdurchfluBrneB-

einrichtung, 91 Differenzfrequenz,99 Differenzialanordnung, 55 digitale Ausgangszustände, 190 digitaler Ausgangswert, 198 digitaler Wertebereich, 190 digitales Ausgangssignal, 195; 201 digitalisierte AusgangsgröBe, 196

DigitalmeBinstrument, 190 Digitalvoltmeter, 200

225

Digitalwert, 156; 190; 191; 196; 200 Digitalzahl, 185 Diode, 182 Dipol, 43 Dipolmoment, 151 Dissoziationsgrad, 133 DMS-Verformungskörper, 73 Doppiereffekt, 99 Dopplerfrequenz, 99 Dosierpumpe, 102 Dotierung, 129 DrahtdehnmeBstreifen,41 Drehimpuls, 151 Drehkolbenzähler,88 Drehmoment, 40; 103 Drehspule, 104 Drehzahl, 55; 56; 62; 89 Drehzahlmessung, 36; 60; 64 Dreileiterschaltung, 115 Drosselstelle, 91 Druck,40; 45; 76; 80; 102; 107; 149;

151; 176; 190 Druck-Aufnehmer, 76 Druckabfall, 91 Druckbelastung, 52 Dual-Slope-AID-Wandier, 196;

197;200 Dual-Slope-Verfahren, 199 Dünnfilmtechnologie, 62 Dünnschicht-Temperatursensor, 113 Dünnschichttechnik, 113; 114 Dünnschichtwiderstand, 94 DurchfluB, 76; 88; 95 DurchfluB-Aufnehmer,86 DurchfluBrnessung, 90; 91; 98 DurchfluBrneBgeräte, 87 DurchfluBmeBverfahren, 94

226

DurchfluBzahl, 92 DurchlaBrichtung, 68 DurchlaBspannung, 124 Durchmesser, 69; 160; 170 Düse, 166 Düsendurchmesser, 166 dynamische Fehler, 26 dynamische KenngröBen, 12 dynamische Parameter, 28 dynamische Viskosität, 101 dynamisches Verhalten, 3; 5 Dynoden, 131; 132

E

Echomethode, 72 Eigendiagnose, 203 Eigenerwärmung,84 Eigenfrequenz, 108 Einflüsse, 10; 13 Eingang,10 Eingangsbereich, 191 EingangsgröBe, 3; 4; 5; 7; 9; 10; 11;

17; 19;22;25;29;30 Eingangskapazität, 26 Eingangssignal, 1; 5 Eingangsspannung, 199 Eingangssprung, 6; 7 Eingangswiderstand, 12 Einheit,l1 Einschaltverhalten, 83 Einschwingzeit, 7; 26; 112; 122; 123 Einstreuungen, 2; 135 Eintauchtiefe, 107 Einzelmessung, 16; 17 EinzelmeBwerte, 15 elektrische Feldstärke, 97 elektrische Ladung, 43 elektrische Leitfàhigkeit, 133

Sachwortverzeichnis

elektrisches Feld, 46; 57 Elektroden, 65; 82; 97; 98; 136; 138;

139; 144 elektrodynamische Kraftkompen-

sationswägezelle, 75 elektrodynamisches Mikrofon, 178 Elektrolyt, 143; 164; 165; 166 elektromagnetische Wellen, 128 Elektronen, 129; 132 Elektronenemission,131 elektrostatische Felder, 11 Elektrostriktion, 46 Elementbetrieb, 67; 130 Emission, 155 Emissionsspektralfotometer, 154 Emissionsspektrometer, 154 Emissionsspektroskopie, 153 Emissionsspektrum, 154 Emitter, 68 Empfànger, 71; 128; 129 Empfangsbauelemente, 130 Empfindlichkeit, 3; 4; 5; 17; 18; 19;

20;27;41;42;49;50;53;68;69; 78; 122; 123; 125; 127; 129; 179

Empfindlichkeitsgrenze, 161 Endlagenschalter, 59; 62 Energie, 57; 152; 155; 181; 182 Energieauflösung, 183 energiereiche Strahlung, 180 Entfemungsgesetz, 128 Entladung, 154 Erdanziehungskraft, 73 Erdbeschleunigung, 73 Ergebnis, 17 Erschütterungen, 46 Erwartungswert, 29; 30 explosive Medien, 86 Extinktion, 163 Extinktionskoeffizient, 160; 163;

Sachwortverzeichnis

164;166; 168; 169; 174 Extinktionsmessung, 163; 164 Extrapolation, 174 ExzeB 3-Kode, 187

F

Fallkörperviskosimeter, 103 Farbe, 163 Farbpyrometer,126 Farbschichten, 56 Feder,73 Fehler, 5; 9; 10; 13; 21; 22; 25; 26;

31; 74; 115; 127; 144; 163 Fehlerangaben,l1 Fehlerarten, 12; 29 Fehlerdetinition, 10 Fehlereinflüsse, 11 Fehlergrenze, 9; 10; 16; 35 Fehlerkurve, 191 Fehlerminimierung, 21; 22 Fehlerquellen, 116 F einstkombereich, 170 Feldbus, 203 Feldbuskonzept, 203 Feldbussysteme, 202 Feldlinien, 51; 55 Feldlinienlänge, 53 Feldplatte,62 Feldstärke, 64; 181 ferromagnetische Materialien, 62 Festkörper-Sauerstoffsensor, 142;

143 Festkörperelektrolyt, 142 Feststoffkatalysator, 145 Feuchte,137 Feuchte-Aufnehmer,137 Feuchtigkeit, 139 Feuchtigkeitsgehalt,139

Filter, 158 Filterküvette, 151 Flamme, 154 Flammenionisationsdetektor, 144 Flash-Wandler, 191; 193 FlieBgeschwindigkeit, 95; 96; 97 Flügelradzähler, 89 Fluoreszenz, 133 Fluoreszenzstrahlung, 155 fluoreszierender Stoff, 182 Flüssigkeit, 105; 107; 111; 170 Flüssigkeits-Chromatogratie, 146;

148 Flüssigkeitsspiegel, 111 Flüssigkeitsvolumen, 111 FluBverdrängung, 56 FoliendehnmeBstreifen, 41; 42; 77 F örderbandwaage, 73 Fotodiode, 65; 67; 68; 69; 129 Fotoelement, 129 Fotohalbleiter, 129 Fotothyristor, 130 Fototransistor, 68; 69; 129 Fotowiderstand, 31; 64; 65; 129 Fraunhoferbeugung, 168 freie Ladungsträger, 183

227

Frequenz, 7;28; 48; 51; 56;93;99; 149; 152; 176; 184; 185;201

Frequenzbereich, 5; 6; 64 Frequenzgang,8 Frequenzkennlinie, 8 Frequenzmessung, 189 Frequenzspektrum, 176 Füllhöhe, 80; 85 Füllstand, 76; 79; 81; 83; 180 Füllstand-Aufnehmer, 79 Füllstandsmessung, 125 Funke,154 Funkenspektroskop, 154

228

G

galvanische Zelle, 134 Gas, 105; 106; 150; 170 Gas-Chromatografie, 145; 146; 148 Gaschromatogramm, 148 Gasdruck, 105 gasgefüllte Bauelemente, 129 Gaskomponente, 145; 147; 151 Gaskonzentration, 151 Gasströmung, 100 Gaswaage, 106 Gatterschaltung, 188 GauJ3-Verteilung, 13 Ge-Fotodiode, 130 Gefahrenmeldung, 203 Gegenelektrode, 130 Geiger-Müller-Zählrohr, 182 Genauigkeit, 10; 36; 46; 70; 79; 81;

114; 119; 121; 122; 123; 184; 199 Genauigkeitsklasse, 16; 35 Geradenapproximation, 25; 26; 30 Geradengleichung, 22 Geräusch, 176 Geräuschspektrum, 96 Gesamtfehler, 29 Gesamtstrahlungspyrometer, 126 Geschwindigkeit, 44; 100; 170; 176 Gewicht, 73; 110 Gewichtskraft, 73; 74; 75; 170 Gitter, 154 Glasballon, 106 Glaselektrode, 134; 135 Gleichverteilung, 172; 174 Graukeile, 128 Gravitationsfeld der Erde, 174 Gray-Kode, 187 Grenzfläche, 72;109;134; 149 Grenzflächenspannung, 108

Sachwortverzeichnis

Grenzfrequenz, 27; 66; 69; 130 Grenzwertschalter, 125 Grenzwertüberschreitung, 203 GröJ3enbereich, 159 GröJ3enbestimmung, 170 GröJ3enkriterium, 160 GröJ3enspektrum, 159; 162; 163; 175 GröBenverteilung, 172; 173 Güte, 14; 15; 16

H

H2-Flamme, 144 Haarhygrometer, 138; 140 Hagen-Poisseulle' sche Gleichung,

101 Halbbrücke, 40 halbdurchlässiger Spiegel, 71 HalbleiterdehnmeBstreifen, 41; 42;

43 Halbleiter-Mischkristalle, 129 Halbleiter-Strahlungsdetektor, 182 Halbleiterfeldplatten, 61 Halbleitersperrschicht, 130 Halbleiterwiderstand, 82; 124; 125 Hall-Effekt, 58; 59 Hall-Element, 57; 61; 64 Hall-Schaltkreis, 59 Hall-Spannung,58 Handelswaage, 73 Härte,160 Häufigkeit, 13; 155; 159; 169 Häufigkeits-Amplitudendiagamm,

156 Häufigkeitsverteilung, 156 HeiBleiter, 124 Heizstrom, 126 Heizwicklung, 141 Hitzdraht, 93 HitzdrahtdurchfluBmesser, 93; 94

Sachwortverzeichnis

Hochfrequenzfeld, 152 Hochpass, 26; 27 Hohlkörper, 79 HPLC,148 hydraulische Feststofftransporte, 95 hydrostatische Methode, 105 hydrostatischer Druck, 102

I

ideales MeBsystem, 10 IEC-Bus, 205 IEEE-Bus, 205 Impuls, 155; 163; 185 Impulsbreite, 201 Impulshöhenspektrometer, 155; 156;

157; 165 Impulshöhenspektrum, 157 Impulslänge,156 Impulsrate, 200 Impulszahl, 184 Impulszählung,196 Induktion, 61 Induktionsgesetz, 96 induktive Aufnehmer, 51; 52; 55; 106 induktive DurchfluBmessung, 96 induktive DurchfluBmeBverfahren, 87 induktiver Drehzahlaufnehmer, 55 induktiver Druckaufnehmer, 78 Induktivität, 51; 52; 53; 56 Information, 1; 36 Informationsdichte, 204 Informationsquelle, 1 Informationsselektierung, 203 Informationssystem, 1 Infrarotabsorption, 150 Infrarotabsorptionsspektroskopie, 150 Infrarothygrometer, 138 Infrarotstrahlung,138

229

Innenwiderstand, 98; 135 innerer lichtelektrischer Effekt, 129 Integrationskondensator,199 Integrationszeit, 199 Integrator, 196; 197; 198; 201 Integratorspannung, 199 intelligente Sensoren, 24; 202 Intelligenz, 204 Intensität, 99; 176 interferenzoptische Wägezelle, 74; 75 Interferenzstreifen, 71 Interferometer, 70; 71; 74 IntervalI, 22; 23; 24; 25; 26 Intervallgrenzen, 15 Ionen, 97; 134; 144 Ionenpaare, 180; 181 ionensensitive F eldeffekttransistoren,

135 ionensensitive Schicht, 135 Ionenstrom, 145 Ionisation, 182 ionisierende Strahlung, 105; 154;

155;180 IR-Absorptionsanalyse,150 ISFET,135 Isolierstoff, 139

K

k-Faktor,39 Kalibriemormal, 22; 31 Kalibrierspannungsquelle, 19 Kalibrierung, 34; 73; 75; 102; 103;

128 Kaltleiter, 82; 84; 125 Kanäle,157 Kanalelektronenvervielfacher, 129;

132 Kapazität, 47; 48; 50; 139

230

Kapazitätsschwankungen, 151 kapazitive Aufnehmer, 46; 48; 50 kapazitive Feuchteaufnehmer, 139 kapazitive Feuchtemessung, 138 kapazitive Füllstandsmessung, 81 kapazitiver Druckaufnehmer, 78 Kapillarviskosimeter, 101; 102 Kathode, 131 Kennfunktion, 3; 5; 17; 26; 33 Kennlinie, 3; 4; 18; 22; 53; 67; 78;

82; 124; 125; 181; 190 Kennlinienkorrektur, 22; 24; 25; 26;

30;33;34;43; 157;203 Kennlinienverschiebung, 18; 20 Kennwerte, 3; 5; 17;26 Keramik, 134 Kemspin, 151 Kemstrahlung, 84; 85 KEV,132 Kieselgel, 146 kinematische Viskosität, 101 kinetische Energie, 182 Kippgenerator, 201 Kippstufe, 186 Kohle-Mikrofon, 178 Kohlendioxid,144 Kohlenwasserstoffe, 144 Koinzidenzfehler, 163 Kolben, 88 Kollektor, 68 Komparator, 192; 193; 195; 196;

198;201 Kompensation, 27; 43; 104 Kondensatormikrofon, 178 Konstantstromquelle, 58 Kontaktstelle, 119 Konzentration, 133; 135; 136; 143;

144; 145; 150; 151; 153; 159; 163; 172;174; 180

Sachwortverzeichnis

Korrektur, 13; 17; 22 Korrekturfaktor, 18; 23 Korrekturfunktion, 18; 19; 20; 23; 24;

25;26;32;33 Korrekturkonstante, 22; 23; 25 Korrekturwerte, 110 Korrelationsmethode, 96 Korrelator, 96 korrigiertes MeBergebnis, 20 Kraft,40; 45; 56; 57; 75; 109; 111 Kraftaufnehmer, 44; 74 Kraftmessung, 36 KraftmeBdose, 81 Kraftübertragung, 101 Kranwaage, 73 Kristall, 45; 46; 184 Kugel,160 kugeläquivalenter Durchmesser, 162 Kunststoffolien, 140 KurzschluBstrom, 67

L

Ladung, 44; 45; 46; 69 Ladungsbilanzverfahren, 200 Ladungsträger, 98; 129 Ladungsträgerpaare, 66; 129 Lageerkennung, 1;65 Lambda-Sonde, 143 Landwirtschaft, 159 Längenänderung, 138; 140 Längenmessung, 22 Laser-Interferometer, 70 Laserbeugungsspektrometer, 169;

170 Laserdoppleranemometrie, 98; 170 Laserlicht, 71 Laserstrahl, 68; 99; 166 Laufzeit, 6; 85; 96 Lautstärke, 176

Sachwortverzeichnis

Lautstärkeermittlung, 177 LautstärkemeBwert, 179 LDA-Signal, 99 Least Significant Bit, 191 Lebensdauer,139 Leckverlust, 88 Leerlaufspannung, 67 Leistung, 176 Leitfähigkeit, 2; 79; 82; 96; 98; 135;

136; 138; 139; 144; 160 Leitfähigkeitsaufnehmer, 135 Leitungswiderstand, 115; 118 Leitwerthygrometer, 138 Licht, 1; 64; 65; 66; 85; 149; 154 Lichtabstrahlung, 128 Lichtbogen, 154 LichtfalIe, 167 Lichtintensität, 71 Lichtmessung, 128 Lichtquanten, 132 Lichtquelle, 154 Lichtschranke, 1; 69; 85 Lichtschwächung, 128 Lichtstärke-Normale, 128 Lichtstrahl, 149 Lichtstrom, 128; 129 Lichtverteilung, 128 LiCl-Hygrometer, 138 lineare Kennlinie, 4; 20 linearer Zusammenhang, 3; 17; 19 Linearisierung, 22; 48; 50; 53; 78 Linearität, 182 Linearitätseigenschaften, 199 Linearitätsfehler, 37; 38 Lithiumchlorid, 138 Logik, 204 Lorentzkraft, 58; 97 Löslichkeit, 160 LSB, 191; 192

Luftfeuchte, 1; 11; 150 Luftströmung, 179

M

Magnetfeld, 57; 59; 61; 62; 73; 75; 96; 141; 151; 152

Magnetfeldaufnehmer, 57; 61 Magnetfeldempfindlichkeit, 64 MagnetfluB, 51

231

magnetisches Feld, 57 Magnetkupplung, 104 magnetoelastische KraftmeBdose, 52 magnetoelastischer Effekt, 52 magnetoresistive Sensoren, 62 magnetoresistiver Effekt, 61 Mantelthermometer, 122 Masse,45; 73;74;75;79;86; 105;

106; 108; 145 Masseeinheit, 73; 75 Massenfertigung, 42 Massenhäufigkeit, 159 Massenstrom, 86 Materialfehler, 72 Mechanik, 204 mechanisch / volumetrische Durch-

fluBmeBverfahren, 86 mechanische GröBen, 36 Mehrfachanalyse, 162 Mehrphasenströmung, 100 Membran, 45; 77; 151; 178 Membrandose, 107 Meniskus, 85 MeBanordnung, 7 MeBbereich, 3; 4; 5; 9; 21; 22; 26; 31;

40;45;74; 127; 148; 151; 166; 170; 196

MeBbereichseinschränkung, 21 MeBbereichsende, 26

232

MeBbereichsendwert, 35; 144 MeBeinrichtung, 34 MeBergebnis, 10; 12; 13; 18; 28; 34;

35 MeBfehler, 9; 10; 11; 12; 13; 16; 17;

18;88; 175 MeBfiihler, 114 MeBgas, 106; 139; 141; 144; 146 MeBgenauigkeit, 3; 9; 115; 140 MeBgröBe, 1;10; 17; 19; 184 MeBkammern, 87 MeBküvette, 150 MeBlösung, 134; 135 MeBmembran, 78 MeBmethoden, 133 MeBobjekt, 11; 57 MeBprinzipien, 133 MeBreihe, 14; 15; 16; 19; 22; 31; 34 MeBsignal, 106; 179 MeBspannung,196 MeBstellenumschalter, 202 MeBstrahl, 71 MeBsystem, 1; 4; 5; 9; 10; 11; 12; 18;

22;24;28;74 MeBvolumen, 99; 100 MeBwert,1;9; 10;13;22;25;29 MeBwerterfassungskarte, 195 MeBwertübertragung,81 MeBzeit,75 MeBzelle, 142 Metall-Widerstandsthermometer,

112; 113; 114 Metallelektrode, durchsichtige, 130 metallische Schichten, 157 Metallmembran, 150 Metalloxid Silizium -

Feldeffekttransistor, 135 Mikrofon, 96; 178 Mikromechanik, 46

Sachwortverzeichnis

Mikroskopanalyse, 162 Minimierungsbedingungen, 21 Mittelleiter, 115 Mittelwert, 13; 15; 16; 29; 35 mittlerer Fehler, 16 mittlerer Fehler der Einzelmessung,

14 mittlerer Fehler des Mittelwertes, 15 Molekül, 44; 150; 153 monochromatischer Laserstrahl, 71 Monochromator, 154 MOS-Kondensator, 69 MOSFET,135 Most Significant Bit, 194 MSB,194 Multimeter, 196 Multiplier, 131 multiplikative Korrekturkonstante, 19

N

Nachlauf-AlD-Wandler, 195; 196 Näherungsschalter, 127 NAND-Gatter, 185; 189 Netzbrummen, 199 neutrale Lösung, 133 nichtlineare Kennlinie, 20 nichtlineare Übertragungskennlinie, 4 Nichtlinearität, 22; 30; 65; 157 Nichtlöslichkeit, 175 NMR-Spektroskopie, 151; 152 Normalverteilung, 13 Normdichte, 107 NTC-Widerstand, 124 nuclear magnetic Resonance, 151 Nulldurchgänge, 26; 71 Nullpunkt, 11; 19; 22 Nullpunktfehler, 17; 18; 19; 20; 23 Nullpunktkorrektur, 114; 120

Sachwortverzeichnis

Nullwert, 197 Nutzsignal, 28

o

Oberflächenbeschaffenheit, 163 Oberflächenspannung, 109; 110; 111 Oberflächenspannungsaufnehmer,

108 Oberwellen, 176 Objektträger, 162 Offsetfehler, 17 optische Aufnehmer, 64 optische Brechzahl, 133 optische DurchfluBmeBverfahren, 87 optische GröBen, 128 optische Sensoren, 128 optische Strahlung, 84; 128; 173 Oszillator, 184 Oszilloskop, 26

p

Papierbahn, 126 Parallel-A/D-Wandler, 191 paramagnetisches Verhalten 133'

141 ' ,

Parameter, 1; 4; 40; 131 Partialdruck, 143 Partikel, 131; 159 PartikelgröBe, 160; 163 PartikelgröBenanalyse, 159; 160 PartikelgröBenspektrum, 159; 166 PartikelmeBtechnik,157 PDV-Bus, 205 Peak,148; 149; 153 Peakdetektor, 156 Periodendauer, 199

Periodizität, 151 Permeabilität, 51; 52 pH-Wert,133 pH-Wert-Aufnehmer,133 Pharmazie, 159 Phasen,110 Phasengang, 7 Phasenkennlinie, 7 Phasenwinkel, 7 Photon,129; 131; 132; 182 Piezoeffekt, 44

233

piezoelektrische Aufnehmer, 43; 45; 46

piezoelektrische Druckwandler, 96 piezoelektrische Materialien, 127 piezoelektrischer Effekt, 46; 72; 73 piezoelektrisches Mikrofon, 178 piezoresistive Druckwandler 77' 81' , , ,

96 piezoresistiver Effekt, 42 Pipette-Verfahren, 172 Pixel, 69; 70 Plateau, 181 Plattenaufnehmer, 109; 110 pn-Übergang, 68; 123; 129 pn~umatische Feststofftransporte, 95 POissonsche Zahl, 39 Polarisation, 43 Polarisationseinflüsse, 136 Polynom, 25; 127 Polynomapproximation, 25 poröse Elektroden, 143 Position, 36; 46; 69 Positionierung, 68 Positionsbestimmung, 64 Positionsmessung, 36 Potentialdifferenz, 132 potentialfreie Strommessung, 59 Potentiometer, 79

234

potentiometrisches Verfahren, 134 Präzessionsbewegung, 152 Primärelektronen, 132 Priorität, 202; 203 Prisma, 154 Probe, 166 Probenvorbereitung, 166 Profi-Bus, 205 Programm, 24 Proportionalbereich, 181 Proportionalität, 196 Proportionalverhalten, 26 Proportionalzählrohr, 155; 158; 181;

182 Pt 100, 113 PTC-Widerstand,125 Pufferlösung, 134; 135 Pulsfolge, 151 pyroelektrische WandIer, 127 Pyrometer, 125

Q

Quadranten-Fotodiode,67 Quadrantensensor,68 quantifizierte Rückkopplungs-

methode, 200 Quantisierung, 190 Quarz, 46; 74 Quarzkristall, 43; 184 Quarzoszillator, 184; 189 Quarzthermometer, 127 Quecksilber,37 Querankeraufnehmer,53 Querempfindlichkeit, 142 Querkontraktion, 39 Querkräfte, 74 Querschnitt, 38

Sachwortverzeichnis

R

Rampen-AID-Wandler, 196 Rampenverfahren, 196 Raumladungszone, 66 Rauschen, 28; 199 Reaktionswärme, 145 reales MeBsystem, 4; 20 Referenz, 175 Referenzspannung, 191; 197; 198;

201 Referenzstrahl, 71 Reflektion, 72 Reflektor, 71 Regelkreis, 26 Regelstrecke, 26 RegIer, 75 Reibung, 101 Reibungskraft, 171 reine Räume, 166 Reinraumtechnik,159 relative Feuchte, 137 relativer Fehler, 11 Reproduzierbarkeit, 12; 17; 140; 166 resistive Aufnehmer, 36 Resonanz, 149 Resonanzerscheinung, 152 Resonanzfall, 152 Resonanzfrequenz, 108; 127; 152;

184; 186 Resonanzmethode, 72 Resonator, 108 Reynoldszahl, 171 Rheometer, 105 Richtcharakteristik, 179 Ring-Fotodiode, 67 Ringaufnehmer, 109; 110 Ringkammer-Sauerstoffsensor, 141 Ringrohrwinkelaufnehmer, 37

Sachwortverzeichnis

Rohr, 105 Rohrwaage, 105 Röntgenfluoreszenzanalyse, 57; 155;

157 Röntgenstrahlung, 174 Rotationsviskosimeter, 103; 104 Rückkopplung, 184 Rücksetzimpuls, 186 Rückwirkungen, 11; 57

s

Salz-Konzentrations-Aufnehmer, 135

Salzkonzentration, 136 Sättigungsdicke, 158 Sauerstoff, 141; 142; 143 Sauerstoff-Aufnehmer, 141 Sauerstoffanteil,141 Sauerstoffionen, 143 Sauerstoffionenleiter, 142 Sauerstoffmessung, 141 Sauerstoffsensor, 142 saure Lösung, 133 Scanning-Sedimentograf, 173 SchalI, 176 Schalldruckpegel, 176 Schallwelle, 73; 94 Schichtdickenmessung, 56; 157 Schieberegister, 69 Schleppmedium, 148 Schrittmotor, 185 Schüttgüter, 81 Schwebekörper, 90 Schwebekörperverfahren, 90 Schwefeldioxid,144 Schwellwert, 190 Schwellwertschalter, 190 Schwimmer, 79

schwingende Masse, 108 Schwingkreis, 56 Schwingquarz, 127

235

Schwingung, 105; 178 Se-Fotoelement,130 Sedimentation, 171 Sedimentationsanalyse, 170 Sedimentationsflüssigkeit, 175 Sedimentationswaage, 172 Sedimentationszeit, 174 Sedimentationszentrifuge, 174; 175 Seebeckeffekt, 119 Segmentanzeigen, 187 Sektoren, rotierende, 128 Sekundärelektronen, 132 Sekundärelektronenemission, 132 Sekundärelektronenvervielfacher,

129; 131; 166 Sekundärstrahlung, 155; 157; 158 Selektionsgrenze, 161 Sender, 129 Sensorabfrage, 202 Sensoren, 4; 47; 57; 65; 76;82;96;

111; 112; 204 servicefreundlich, 116 Servo-Wandler, 195 SEV, 131; 166; 182 Si-Fotodiode, 130 Sieb,160 Siebanalyse, 160 Siebpfanne, 161 Signal, 1; 11; 48; 57; 72; 73; 77; 85 Signalträger, 36 Signalwandlung, 1 SignalwandlungsprozeB, 1; 11 Silizium-Widerstandstemperatur-

sensor, 123 Sinkgeschwindigkeit, 101; 103; 170;

175

236

Sinterkorund, 134 Sinusantwort, 6; 7 Spalt-Fotodiode,67 Spannung, 36; 37; 45; 57; 82;98;

119; 122; 130; 132 Spannungs-Frequenzwandlung, 200 Spannungsabfall,116 Spannungsklemmen, 118 Spannungsmessung,18 Spannungsquelle,135 Spannungsteiler, 37 Speicherplatz, 25 spektrale Empfindlichkeit, 128; 129;

130; 131 Spektrallinien, 126 Spektrum, 126; 128; 149; 150; 155;

156; 157 Sperrichtung, 66; 68 Sperrschicht, 69; 130 Sperrschichtkapazität,66 Sperrschichtwiderstand, 66; 67 Sperrstrom, 66; 124 spezifischer Widerstand, 42 spreading resistance sensor, 123 Sprungantwort, 6; 7 Spule,51 Stabilität, 199 Stahlschmelze, 126 Standardabweichung, 14; 15; 16; 35 Standzeit, 135 stationärer Endwert, 7 stationärer Zustand, 3; 5; 7 statische Aufladung, 160 statische Fehler, 26 statische KenngröBen, 12 statische Parameter, 28 statisches Verhalten, 3 Stau-DurchfluBmeBverfahren, 86 Stauchung, 38; 41

Sachwortverzeichnis

Staukörper, 92 Stauverfahren, 91 Steiggeschwindigkeit, 101 Steighöhe, 108 Steigung,4 Steilheit, 17 Steuerrechner, 203; 204 Stichprobenvarianz,14 Stickstoff, 150; 183 Stimmgabelresonator, 107 stochastisch, 13 Stoffmenge, 86 Stokes' scher Bereich, 171 Stokes'sches Gesetz, 103 Störeinflüsse, 113 Störempfindlichkeit, 38 Störfelder, 60 StörgröBen, 64; 179 Störquellen, 50 Störunterdrückung, 200 Strahlteiler, 99 Strahlung, 112; 126; 154 Strahlungsabsorption, 149 Strahlungsemission, 153 Strahlungsquelle, 128; 130 Strahlungsschwächung, 133 Strahlungsstreuung, 133 Strähnenbildung, 175 StraBenfahrzeugwaage, 73 StraBenlärm, 179 Streckung,41 Streifenleiter, 62 Streulicht, 99; 166 Streulichtspektrometer, 166; 167; 170 Streusignal, 99 Streuteilchen, 100 Streuung, 13; 29 Strom, 36; 57; 58; 61; 83; 118; 165 Strombahn, 61

Sachwortverzeichnis

Stromklemmen, 118 Stromstärkepeaks, 153 Strömung, 94; 141 Strömungsgeschwindigkeit, 89; 94;

96 Strömungsprofil,100 Strömungssensor, 12 Strömungsverältnisse, 92 Stromweg, 61 Strouhal-Zahl, 93 Strukturanalyse, 153 Stützstelle, 22; 23; 25; 29; 30; 31; 32 Sukzessive Approximation-AID-

Wandier, 193 Suspension, 172 Suspensionsverfahren, 172 Synchronzähler, 187 System,5 systematische Fehler, 12; 16; 17; 19;

25;29;31;38; 120 Szintillationszählrohr, 182

T

t-Verteilung,15 Taktfrequenz, 187 Taktgenerator, 195; 196; 199 Taktimpuls, 187; 198 Tastteiler, 26; 27 Taubelag, 138 Tauchankeraufnehmer,52 Tauchspule, 75 Taupunkt, 137 Tauspiegelhygrometer, 138 Teiler, 185 Teilstrahlungspyrometer, 126 Temperatur, 1; 11; 40; 41; 48; 57; 60;

67;82;84;94;104; 107; 112;114; 119; 124;126; 127; 135; 137;142; 145; 151; 175; 190

237

Temperaturabhängigkeit, 43 Temperaturaufnehmer, 136 Temperaturdifferenz, 119; 120 TemperatureinfluB, 2; 94 Temperaturempfindlichkeit, 40; 64 Temperaturfiihler, 121 Temperaturkoeffizient, 43; 123; 124;

125; 135 Temperaturmessung, 119; 121 TemperaturmeBverfahren,112 Temperaturschwankungen,115 Temperaturüberwachungsschaltung,

125 Temperaturverhalten, 114; 115 Testfunktion, 5; 6; 7 thermische DurchfluBmeBgeräte, 93 thermische DurchfluBmeBverfahren,

86 Thermistoren, 124 thermoelektrisches Verhalten, 121 Thermoelement, 119; 120; 121; 122;

145 thermomagnetische Sauerstoff

analyse, 133 thermomagnetischer Sauerstoff-

sensor, 142 Thermoschenkel, 120; 121 Thermospannung, 119; 120 Thermostat, 120; 121 Thomsonbrücke, 116; 118 Tiefpass, 26; 27 Toleranzband, 7 Tor, 198 Toröffnungszeit, 189 Torschaltung, 189 Torsion, 38 Totalreflektion, 85 Totzeit, 6; 132 Trägheit, 65

238

Transformatorbrucke, 136 Transparenz, 163 Traversiereinrichtung, 174 Trennmembran, 78 Trennsäule, 146; 147 Trubungsmessung, 164 Turbinenzähler, 89

u U-Rohr, 108 U-Rohrresonator, 107; 108 Übergangsfunktion, 6 Übergangswiderstände, 116; 118 Überschichtungsverfahren, 172; 175 Übertragsimpuls, 198 Übertragungsfaktor, 4 Übertragungsfunktion, 18; 32 Übertragungskennlinie, 3 Übertragungsrate, 205 Ultraschall, 71; 84; 85; 176 UltraschalldurchtluBmessung, 95 Ultraschallwandler, 72; 94 Umdrehungszahl, 189 Umlaufpotentiometer,36 Umwelteintlüsse, 11; 60 Umweltschutz, 159; 176 Unsicherheit, 15 Urspannung, 98 Urspannungsquelle, 67; 98 UV-Detektor, 149

v

Vakuum-Bauelemente,129 Varianz,14 Verbrennung, 143; 144 Verbrennungstlamme, 154 Verfahrenstechnik, 159 Verformung,74

Sachwortverzeichnis

Verformungskörper, 40; 43; 45; 74; 77;81

Vergleichsgas, 144 Vergleichskraft, 73 Vergleichsküvette, 150; 151 Vergleichsmessungen,14 Vergleichsschritte, 194 Vergleichsspannung, 193; 201 Verschiebung,21 Verschmutzung, 85; 140 Versorgungsspannung, 2 Verstärker, 69; 75; 129 Verstärkung, 11; 17 Verstopfungsgefahr, 166 Vertrauensbereich, 15; 16; 31 Vertrauensniveau, 15; 16; 29; 31 Verzögerungsglied, 96 Verzögerungszeit, 96 Verzugszeit, 7 VielfachmeBinstrument, 200 Vierleiterschaltung, 116; 117; 118 Vierleitertechnik, 118 Viskosität, 87; 98; 101; 102; 175 Viskositätsaufnehmer, 101 Vollbrucke,40 Volumen, 86; 88; 105; 106; 110; 165 VolumendurchtluB,92 Volumenstrom, 86 Vorbereitungseingang, 187 Vormagnetisierung,61 Vorverarbeitungselektronik, 43; 48;

52;59 Vorverstärker,77 Vorzeichen, 13; 17

w

Waage, 73; 74 Waagschale, 173

Sachwortverzeichnis

Wägeverfahren-AID-Wandier, 193 wahrer Wert, 13; 16 Wahmehmbarkeitsgrenze, 177 Wahmehmungsfàhigkeit,176 Wahrscheinlichkeit, 10; 11; 13; 15;

16 Wälzkolbenzähler, 87; 88 Wanddicke,72 Wandlungsfehler,11 Wandlungsgenauigkeit,199 Wärmeaustrag, 82; 84; 125 Wärmeleitfàhigkeit, 133; 143; 147 WärmeleitfàhigkeitsGaskonzen-

trationsbestimmu-ng,143 Wärmeleitverfahren, 143 Wärmemenge,145 Wärmestrahlung, 127 Wärmetönungsmessung, 145 WärmetönungsmeBgerät, 145 Wärmeübergangswiderstand, 112 Wärmeübertragung, 112 Wamgeräte, 146 Wasseradsorption, 138 Wasserstandskontrolle,82 Wasserstoff,144 Wasserstoffionenkonzentration, 133 Wechselfeld, 56; 152 Wechselspannung, 136 Wechselstrom, 151 Wechselwirkung,l1 Weg, 36; 37; 47; 48;52;53;62;74;

76;77;79 Wegaufnehmer,38 Wegmessung, 36; 107 Weicheisenkem,53 Weichheit, 160 wei Bes Licht, 166 Wellenlänge, 71; 129; 150; 151; 153 Wellenlängenbereich, 150; 151

239

Wellenlängenspektrum,128 Wellrohre,106 Werkstoffprüfung,71 Wheatstone-Brücke, 63; 116; 118 Widerstand, 36; 41; 46 Widerstandsänderung, 42 Widerstandsbeiwert, 171 Widerstandsbetrieb, 67 Widerstandsbrücke, 75 Widerstandsdraht,37 Widerstandskaskade, 132 WiderstandsmeBbrücke, 93 Widerstandssensor, 22 Widerstandsthermometer, 113; 114;

122 Windungszahl, 51 Winkel, 36; 37; 48; 62; 69 Winkelgeschwindigkeit, 104 Winkelmessung, 36; 64 Wirbel, 92 WirbelstromdurchtluBmesser, 93 Wirbelströme, 56 Wirbelvolumenstrommessung, 92 Woltman-Flügelrad,90

y

Yttriumoxid, 142 Z

Zähler, 71; 185; 187; 195; 198 Zählerstand, 186 Zählimpulsamplituden, 181 Zählrate, 158; 181; 183 Zählrohre, 180 Zählumfang, 186; 187 Zählvorgang, 166 Zahnrad,55 Zeilen-Fotodiode, 67

240

Zeit, 17; 103; 184 Zeitbasis, 184 Zeitbereich, 5; 6 Zeitkennwerte, 6 Zeitkonstante, 27; 66; 144 Zeitmessung, 184; 189 Zeitpunkt, 13 Zeitverhalten, 6; 122 Zentrifugalfeld, 174 Zink,158 Zinküberzug, 158 Zirkonoxid, 142 zufállige Fehler, 12; 13; 16; 25; 29;

120 Zugbelastung, 52 Zuleitung, 114; 115 Zuverlässigkeit, 76 Zweileiterschaltung, 114; 115 Zweiphasenströmung, 100 Zweistrahl-Laserdoppler-

anemometrie, 99 Zweistrahlinterferenz,99 Zweistrahlmethode, 99 ZwischengröBe, 11; 36; 184

Sachworlverzeichnis

Neuro + Fuzzy Technologiell- Arlwelldullgell. Hrsg. H.-j. ZimmermoOl'\ 1995. XII, 233 S., 116Abb., 8 Tob. DIN AS. Br. DM 78,oo/öS 608,ooisFr 78,00 ISBN 3·18·401389·8

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Verzeichnis der verwendeten Formelzeichen - Springer978-3-662-01173-7/1.pdf · Verzeichnis der verwendeten Formelzeichen 207 UrejReferenzspannung ua Ausgangsspannung ûa Ausgangsspitzenspannung