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Presse-InformationDatum: Februar 2016

Anlage: jpg.

Kennziffer: PR-0003-CPE-260116-TMSP

Die TopMap Familie bekommt ZuwachsBerührungslose Oberflächenmesstechnik bestimmt Formabweichung und Rauheitbequem in einem

Die TopMap Produktfamilie umfasst die berührungslos arbeitenden, optischen Topografie-

Messysteme von Polytec. Für alle Belange der Oberflächencharakterisierung anhand von Parametern

wie Ebenheit, Stufenhöhen, Parallelität oder Rauheit bietet das Portfolio kundenspezifische

Lösungen. Dabei bestechen unter anderem das große Messfeld, um sogenanntes „Stitching“

(nachträgliches Zusammenfügen mehrerer Einzelbilder) zu umgehen, die telezentrische Optik, um

schwer zugängliche Bereiche zu erfassen sowie die exzellente vertikale Auflösung unabhängig von

Bildfeldgrößen.

Bereits jetzt erstreckt sich das Angebot der TopMap Familie von Einstiegslösungen für das Messlabor

(TopMap Metro.Lab) über Lösungen für die Fertigungslinie (TopMap In.Line), für mikroskopische

Anwendungen (TopMap µ.Lab), in Fertigungslinien integrierbare Punktsensoren zur Abstands- und

Rauheitsbestimmung (TopSens) bis hin zum High-End System für eine schnelle Ermittlung von

Formabweichungen (TopMapPro.Surf).

Nun wird dieses Portfolio noch um ein All-In-One System ergänzt (TopMapPro.Surf+) um

Formabweichungen und Rauheit auf einen Blick zu bestimmen. Damit sind noch aussagekräftigere

und effizientere Qualitätskontrollen auch direkt an der Fertigungslinie möglich, wo gerade Zeit und

Maßhaltigkeit wichtige Erfolgsfaktoren sind.

Zuständig bei RückfragenAbdruck honorarfrei – Beleg erbeten Christina, Petzhold

Tel. 07243-604-3680