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In-Circuit undFunktionstestplattform
WCM COMPLIANTDie World Class Manufacturing (WCM) Richtlinie wurde mit derAbsicht entwickelt, Fertigungspraktiken zu definieren, die weltweitGültigkeit haben. Der Grundtenor dieser Richtlinie ist diesystematische Reduzierung aller Arten von Abfall und Verlustendurch rigorose Anwendung von Methoden und Standards, unterEinbindung aller in der Organisation.Seica’s neue Compact Linie ist die konsequente Weiterentwicklungder erfolgreichen Vorläuferlinie, um den Herausforderungen der“lean production” generell zu entsprechen und speziell auf dieAnforderungen der Hersteller von elektrischen Baugruppenzugeschnitten. Sie ist ergonomisch durchdacht und technologischwettbewerbsfähig durch höchste Flexibilität, Messgenauigkeit undTestdurchsatz, in einer schmalen Bauform mit minimalerStandfläche und begrenztem Verbrauch und damit ein dauerhaftesProdukt mit Spitzenleistung.
COMPACT LINIE DESIGNDen WCM Richtlinien folgend, wurde speziellder Ergonometrie und Sicherheit imArbeitsbereich Beachtung geschenkt:vernünftige Platzierung der beweglichen Teileoder denen, die in Kontakt mit dem Bedienerkommen (Beinfreiheit, Gewicht desPrüfadapters beim Wechseln, automatisierteWerkzeuge zur Unterstützung (Prüfrahmen).Alle Anschlüsse und Anzeigen für dieSystemwartung (Druckluft, Netzwerkeingänge,Stromanschlüsse) sind zur leichten Erkennungfür den Bediener platziert. Die Systeme wurdenmit umfassenden Eigenschaften ausgestattet,um Wartungsarbeiten zu erleichtern, möglicheAusfallzeiten zu reduzieren oder ganzauszuschließen wie z.B.: Lufteinlässe für dieKühlung, Abdeckungen gegen Staub undWasser, Abdeckung der Serviceeingängegegen unbeabsichtigten Zugriff, usw.
HOHE LEISTUNGSFÄHIGKEIT, FLEXIBILITÄT UNDDURCHSATZDie Compact Serie wurde auf Seica’s VIP Plattformentwickelt, um die Konfigurierbarkeit zumaximieren, den unterschiedlichstenTestanforderungen zu entsprechen und um demBenutzer die Auswahl der Konfiguration zuüberlassen, die am besten für seine Anwendungpasst: In-Circuit Test, Funktionstest, Benchtop odereine komplett automatisierte Testlösung, welchedirekt in die Produktionslinie integriert werdenkann. Ersatzteile können über die gesamte Plattformverwendet werden, um die Wartungskosten auf einMinimum zu halten.
DIE COMPACT LINE WURDE ENTWICKELT, UM DEN ANFORDERUNGEN DERSOGENANNTEN “LEAN PRODUCTION” UNTER BERÜCKSICHTIGUNG DERANFORDERUNGEN BEI DER PRODUKTION VON ELEKTRONISCHENBAUGRUPPEN ZU ENTSPRECHEN
Alle Compact Systeme können als Multi-Receiver und Multi-Job Testerkonfiguriert werden:
Anzahl der Einzel JOB MULTI-JOBS (2/4)Prüfaufnahmen
Einzelprüfaufnahme Standard Synchroner Paralleltesthoher Durchsatz, typisch für Nutzen
Zwei Prüfaufnahmen Alternativ Mode Asynchroner ParalleltestHoher Durchsatz, teure Ressourcen gemeinsamgenutzt
Die Systeme können in unterschiedlichste ergonomische Gehäuseintegriert werden , die unterschiedliche Stufen der Erweiterbarkeitbieten: COMPACT TK, COMPACT MULTI und COMPACT SL.
SCHNELLE, LEISTUNGSFÄHIGE, AUTOMATISCHE TESTPROGRAMMENTWICKLUNGWie alle SEICA Systeme basiert die Compact Serie auf der leistungsfähigen VIVA Software Umgebung. Mit über 20Jahren Testerfahrung, bietet die VIVA Umgebung eine einzigartige Leistungsfähigkeit, ist leicht zu bedienen, flexibel undhat einen reichhaltigen Satz von Werkzeugen, um allen Anforderungen bezüglich der Testprogrammgeneration,
Debugging, Ausführung, Diagnose, Reparatur und Datenerfassung gerecht zuwerden. Weiterhin wurde alles getan, um die Geschwindigkeit bei der
Testprogrammgeneration, den Umfang bei derTestabdeckung und den Durchsatz ohne Kompromissezu erhöhen. VIVA ist eine komplett prozessorientierteTestumgebung, entwickelt um dieTestprogrammentwicklung stromlinienförmiger zugestalten und die funktionale Grafikumgebung (FGE)führt den Anwender durch eine Serie vonautomatisierten Operationen in einer intuitiven, sichselbsterklärenden Umgebung. CAD Daten werden direktimportiert, um eine umfassende Datenbank für dieTestgenration, Validierung und Diagnostik (eine
Bibliothek von über 35 CAD Konvertern ist verfügbar) zu erzeugen. Die Schaltpläne der Baugruppen, Layout undNomenklatur sind dynamisch verlinkt und vom Anwender kontrollierbar. Eine Reihe von kompletten Testbibliotheken füranaloge und digitale Komponenten sind in unserer dedizierten Testsprache NVL (Neutral VIVA Language) verfügbar unddie VIP Plattform stellt sicher, dass Programme, entwickelt auf anderen VIPSystemen auch auf der Compact VIP Serie eingesetzt werden können. Ein aufeiner Pilot Serie entwickeltes Programm kann auf ein Compact System übertragenwerden und erlaubt so dem Anwender den Produktionstest bezüglich desVolumens, Durchsatzes und der Testanforderungen zu optimieren.Dank der einzigartigen, offenen Architektur, ist VIVA kompatibel mitverschiedenen anderen “front-end” Paketen und erlaubt eine einfache Integrationvon externen (.EXE. und .DLL) Software Modulen genauso wie “third party” Sprachen und Sequenzen wie z.B. Labview©
und Test-Stand©, welches dem Anwender ermöglicht, sein existierendes know-how und Prozeduren zu verwenden, diebesser geeignet sind, mit den bereits vor Ort vorhandenen Werkzeugen zu interagieren.
DER LOGIC COREDie Compact VIP Serie umfasst einenkompletten Satz von SW Werkzeugen, um diebesten Testergebnisse zu erzielen, anstatt sichmit Limitierungen der Software Umgebungauseinander setzen zu müssen. Das ACL-Synthetische Instrument ist der Kerneines jeden Systems: entwickelt als Antwortauf In-Circuit und Funktionstestanforderungen.Das ACL basiert auf der DSP-Technologie undbenutzt unabhängige D/A und A/D Wandler für jedes synthetische Instrument.Die Messungen sind schnell, genau und wiederholbar und jede ACL Karte besitztdrei unabhängige Signalgeneratoren (AWG), ein Multimeter, einen Timer-Counter und einen großen Speicherplatz sowie Prozessfähigkeit zurSignalanalyse und digitale Scope Funktionalitäten. Vier High Speed Digitalkanäleund andere Signale sind ebenso verfügbar und verschaltbar über den analogen Signalbus oder direktzugänglich an der Frontpanele.Gesteuert durch den System-PC über den optischen Glasfaser-Bus, befinden sich im VIP Tester Backplane Kanalkarten,Routing Karten und interne Instrumentierung. Die VIP Tester Backplane bietet unübertroffene Flexibilität mit vollem Zugriffauf die Prüfadapteraufnahme. Sie bietet Raum für Erweiterungen sowie eingebaute Signal und Power Busse, um allenAnforderungen der Stimuli und Messungen am Prüfling zu genügen.
Die Compact Serie ist spezialisiertauf hohen Durchsatz, bietetKonfigurationen für den synchronenund asynchronen Paralleltest,entsprechend derProduktionsanforderungen desAnwenders.
Dies ist die kleinste Konfiguration und ist generell empfohlenfür ICT und On-Board Programming Anwendungen .Sie istcharakterisiert durch einen hohen Grad an Ergonomie,kleiner Standfläche, leichter Wartung, geringeLeistungsaufnahme und hohe Bedienersicherheit.
m kleine Standalone Lösung auf Rädernm PARALLEL TEST Option bis zu 4 JOBSm Bis zu 1536 analoge Kanälem Bis zu 128 hybride Kanäle (max. 10 MHz digital)m Openfix vektorlose Testoptionm Bis zu 3 Benutzer-Stromversorgungenm Funktionstest-Erweiterbarkeitm On Board Programming Eigenschaftenm Boundary Scan Testoptionm Pneumatik/Vakuum für Prüfaufnahme eingeschlossenm Kabinett voll integriert mit PC und Prüfaufnahmem 230 V, 500 W, Druckluft erforderlich
Diese Konfiguration ist empfohlen für den Pre-Funktionstest,Funktionstest und kombiniertes Testen. Die Vielseitigkeit undKonfigurierbarkeit der Compact MULTI Testsysteme istperfekt geeignet für die Integration von externenInstrumenten.
m Analogkanaleigenschaften m Hybridkanaleigenschaften m Leistungskanaleigenschaften m Funktionstesteigenschaftenm Optionale Software In-circuit Eigenschaftenm Labview/TestStand Betriebs-Softwarem GPIB Instrumenten Vorverdrahtung m CAN, LIN, K-line Protokollem Manuelle Prüfaufnahme integriert (TM1)m Bis zu 6 programmierbare Benutzerstromversorgungen m Widerstandslast- Module m Hochspannungs-/Stromeigenschaften
DIE COMPACT LINIE: MAXIMALE KONFIGURIERBARKEIT
Compact TK Compact Multi
Die Compact SL Konfiguration bietet eine komplettautomatisierte Lösung über ein integriertes, SMEMAkompatibles Transportsystem. Sie erlaubt eine komplettautomatische Baugruppen Be-/Entladung und die leichteIntegration in hochvolumige Produktionslinien.Konfigurierbar als ICT, Pre-Funktionstest, Funktions-undKombitester.
m SMEMA compliant Inline oder StandaloneLösung
m Bis zu 4608 analoge Kanälem Bis zu 1024 hybride Kanäle (max. 10 MHz digital)
m Openfix Fähigkeitm Bis zu 16 Benutzerstromversorgungenm Funktionstesterweiterbarkeitm On Board Programming Eigenschaftenm GPIB, RS232, CAN, und andere ProtokolleManagement
m Pneumatische/vakuum motorisiertePrüfaufnahme
m 19” internes Rack für 3rd Party Instrumentem 230 V, 1kW, Druckluft erforderlich
Compact SLDie Compact Line ist ergonomisch durchdachtund technologisch konkurrenzfähig. Sie bietethöchste Flexibilität mit hoher Messgenauigkeit,hoher Testgeschwindigkeit bei minimalerStandfläche und mit geringem Verbrauch ist sie soein Spitzenprodukt.
: MAXIMALE KONFIGURIERBARKEIT UND FLEXIBILITÄT
Compact Optionen
ON-BOARD PROGRAMMIERUNG
SEICA bietet eine vollintegrierte On-Board-Programming(OBP) Lösung, welche in jedem Compact Systemeingesetzt werden kann. In Bezug auf die Prüfadapter-Integration, bietet diese Lösung einen wichtigen Vorteil inBezug auf Betriebskosten, Geschwindigkeit und leichteBedienbarkeit, ermöglicht durch die dedizierte SWManagement Umgebung. In der maximalenKonfiguration, können bis zu 16 Bausteine simultanprogrammiert werden. Seica bietet dazu eine Bibliothekmit dutzenden verfügbaren „Plug-Ins“ und bietet einenEntwicklungs-Service für Kundenanforderungen.
BOUNDARY SCAN
Die hohe Flexibilität der offenen Architektur der VIP Plattform ermöglicht eine leichte Integration von externen Softwareund Hardware Modulen, welche nicht nur die Test- sondern auch die Programmiermöglichkeiten erweitern. Die virtuelle Nadelbett (VBN) Eigenschaft, von SEICA entwickelt, ist besonders nützlich, um die Testabdeckung, die amPrüfling als eine Gruppe von virtuellen I/O Kanälen verfügbar sind, durch die Pins der JTAG Komponenten durchhinzufügen von drive/sense Eigenschaften zu erhöhen, insbesondere, wenn ein direkter Zugriff auf diese Pin-Gruppenicht verfügbar ist. Das VBN Modul ist in VIVA voll integriert und erfordert keine zusätzlichen Hardware Ressourcen.
OPEN FIX TEST
Das OPENFix™ Modul wird heute zum Testen vonhochkomplexen IC’s eingesetzt, ohne dass derPrüfling mit Versorgungsspannung belastet wird.Der dedizierte kapazitive Sensor ist auf dem zuprüfenden IC platziert und misst das übertrageneWechselsignal, um offene Anschlüsse zuerkennen. Diese Technik schließt ebenso dieErkennung von Kurzschlüssen an benachbartenPins ein. Die schnell und leicht zu generierendenTests mit „Autolearning“ garantieren eine schnelleund extrem effiziente Implementierung.
HOCHSPANNUNGSTESTEN
Wenn der Test eine Hochspannungsanalyse erfordert (biszu 1 KW), dann gibt es Module, die bis zu 12 externeRessourcen handhaben können (Transformatoren,Varistoren, aktive Lasten, Kundenschaltkreise, etc.) und biszu 72 Ein-/Ausgang bipolare Kanäle. All dieseInstrumente, die für die notwendigen Messungen benötigtwerden, sind in das Testergehäuse integriert, welches dieSchaltmatrix und Backplane beinhaltet. Die Softwareerlaubt dem Anwender ein einziges Programm zugenerieren, welches das Standard- ICT Testen aber auchFunktionstestroutinen umfasst. Um die elektrischeSignalintegrität zu verbessern, kann die Prüfaufnahme imZweistufen- Modus betrieben werden.
REPARATURSTATION UND STATISTIK
Das Reparaturstationsmodul bietet eine umfangreiche grafische Software-Umgebung zurFehlerlokalisierung und Reparatur. Wenn die Testphase abgeschlossen ist, kann derBediener sich die detektierten Fehler (manuell oder mit einem BarcodeLeser) abrufen und für jede getestete Baugruppe mit denVerbindungen für jede eingesetzte Komponente visualisieren. Ein intuitiver und selbsterklärender Dialog zeigt allekritischen Punkte, die eine Inspektion erfordern underlaubt dem Bediener, die zur Reparatur erforderlichenInformationen abzurufen, die anschließend in eineDatenbank abgespeichert werden. Das QSTAT™Werkzeug benutzt diese Datenbank, um Hinweise undReparaturinformationen für den Bediener zur Fehlersuchesowie Berichte über die Aktionen zu den Reparaturen dergetesteten Baugruppen zu generieren. Diese Softwarekann entweder am Testsystem (lokal) oder über dasNetzwerk verbunden, an einem bestimmten PC (remote)installiert werden. Die Datenbank kann Reparaturaktionenan Nutzen-Baugruppen, Aufsteckleiterplatten undEinzelnutzen ohne Begrenzung der eingegebenen Datenoder Dimensionen sammeln (nur mit Begrenzung desSpeicherplatzes auf der Platte). Das SPC Werkzeug ermöglichtdie statistische Analyse der Testdaten und die Erzeugung der CP, CPKund Gauge R&R Reports.
QUICK TEST
Quick Test™ ist eine globale, virtuelle Instrumenten-Umgebung für den Zugriff auf alle Seica-Hardware.QuickTest ermöglicht dem Benutzer grafisch undinteraktiv in Echtzeit Testsequenzen mit dem Prüflingund Tester-Hardware zu erzeugen, die off-Line(Hardware Emulation) vorbereitet oder direktausgeführt und visualisiert werden können. Ergebnissekönnen gespeichert und als Teil in das Testprogrammübernommen werden. QuickTest ermöglicht demTechniker, jedes Teil der leistungsfähigen undkomplexen Plattform der Compact Serie mit dergleichen Leichtigkeit wie ein vertrautes Instrument imLabor zu nutzen, ohne die Kenntnis des Systems undzeitraubender Datenbankvorbereitung.
Seica behält sich das Recht vor, technische Änderungen ohne Vorankündigung vorzunehmen.
Brochure C
ompact Line DE ver. 01 2017
PROXIMA S.R.L.E-mail: [email protected]
SEICA Inc.E-mail: [email protected]
SEICA FRANCE SARLE-mail: [email protected]
SEICA ELECTRONICS (Suzhou) Co.Ltd.E-mail: [email protected]
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www.seica.com
WELTWELITES SUPPORT NETZWERK
DANK DER WELTWEIT VORHANDENEN FILIALEN UDN
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UNSEREM 24 STUNDEN TELEFONSUPPORT LOKALEN SERVICE
ÜBERALL DA ANZUBIETEN, WO ER BENÖTIGT WIRD.
VIVA, VIP, ACL, OpenFix, Quick Test, sind Handelsmarken und registrierteHandelsmarken von SEICA SPA.Alle anderen Marken und Produktnamen sind Handelsmarken oder registrierteHandelsmarken der entsprechenden Eigentümer. Die Informationen in diesemDokument stellen eine Zusammenfassung dar und können ohne Vorankündigunggeändert werden. Das Erscheinungsbild des finalen, ausgelieferten Produktes kannvon der gezeigten Fotographie abweichen.
INDUSTRIE 4.0Information und die Technologie zur Erfassungund Analyse von Daten sind der Schlüssel füreine erfolgreiche Digitalisierung desProduktionsprozesses und damit entscheidend fürdas Konzept der Industrie 4.0.Die Compakt Linie ist eine Plug-in Lösung undermöglicht, alle Arten von Informationssystemenzu verarbeiten. Somit verfügt sie über alleerforderlichen Eigenschaften, um in beliebigeIndustrie 4.0 Projekte implementiert zu werden.
