Metallmikroskope

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Diese Liste enthält eine Reihe bewährter Metallmikroskopesowie Zubehör für die Untersuchung von Anschliffenund die zerstörungsfreie Werkstoffprüfung .Weitere hier nicht aufgeführte Erq änzunqseinrichtunqenbitten wir unseren Einzellisten zu entnehmen.Insbesondere empfehlen wir:Liste 515-73 Mikroskop-He izt isch 1350 für Durch- und AuflichtListe 515 - 68 Mikroskop-Heiztisch 1750 für AuflichtListe 51 - 72 Lampenhaus 250 für Xenonlampen etc.Liste 54 - 20 Vollautomatische Mikroskopkamera ORTHOMAT

Uber unser Metallmikroskop MM 5,ein großes Forschungs- und Gebrauchsmikroskop derBauart Le Chatelier, unterrichtet Liste 56 -12.

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Metallrnikroskop I METALLUX

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Das Metallmikroskop METALLUX®ist ein speziell auf die Belange eines modernen Industrielaboratoriumsabgestimmtes hochwertiges Forschungs- und Gebrauchsmikroskop.Es entspricht ebenso den vielfältigen Erfordernissen eines mittlerenBetriebslaboratoriums, wie es die Anforderungen eines großen Betriebesbei der serienmäßigen Durchmusterung von Anschliffen erfüllt.Durch die hohe Bauweise ist in gewissem Umfang auch die Untersuchungvon Fertigteilen mit Anschliffen oder von schwer zugänglichen Stellenan Werkstücken (zerstörungsfreie Werkstoffprüfung) möglich.

Konstruktionsmerkmale

• Glattflächiges, äußerst stabiles Stativ aus korrosionsfestem Leichtmetall,mit eingebauter Beleuchtung 6 V 30 W .

• Auswechselbare Tuben, Revolver, Leuchten, z. B. Lampenhaus 250.• 5facher Objektivrevolver mit achromatisch und apochromatisch

korrigierten Objektiven für die in der Werkstoffprüfung vorgesehenenNormvergrößerungen 50- , 100-, 200-, 500- und 1000fach.

• Auflichtbeleuchtung durch Opakilluminator mit Apertur- und Sehfeldblendesowie Halbblende für schräge Beleuchtung.

• Stativ ausbaufähig für die Phasenkontrast-Mikroskopie.• Vielseitige Anwendbarkeit mikroskopischer Nebenapparate. wie Fernseh-

einrichtungen , Heiztische usw. "

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StativDas glatt flächig durchgebi ldete Stativ ho her Stabil ität bes te ht aus ko rrosi ons­fes te m Leichtmetal l. Im Unterteil des Stativs eingebaut ist die ge tre nnt arbe itendeGrob- und Feineinstel lung, die, auf Kugelbah nen gelagert, ein von allen äußerenEinflüssen unabhängiges Einstellen des mikroskopischen Bi ldes ermöglicht. DerEinstellmechanismus w irkt di rekt auf den Objektt isch, damit ist die Scharfeinstel­lung una bhäng ig von der Belastung des Tub us mit Nebenapparaten. Außerdemble iben Ne igung und Höhe der Tuben unverändert.

TechnischeEinzelheiten

Kreuztisch Nr. 252

Objekttisch Nr. 218

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TubenFür das METALLU X stehen zwei Tuben zur Verfügung. Nach Möglichkeit sollte hier­bei dem binokularen Phototu bus FS der Vorzug gegeben werden, der eine demnormalen Se hen entsprechende Beobachtung mit entspannten Augen erlaubt. Ineinfacherer Au sstatt ung kann das Mikroskop auch mit dem monoku laren Photo­tubus FP ge liefe rt werden . Beide Tuben können für photographische Aufn ahmen,z. B. mit der LEICA ode r der Aufsatzkamer a 6,5 x 9 cm, benu tzt we rde n. Hierb ei wirdde r günsti gste Bi ld ausschnitt im Sehfeld ausgewählt und das Bild im Okular schar f­ges te Ilt. Ein umschaltbares Umlenkprisma erlaubt dann den sofort igen Ub ergangvo n der subjekt iven Beob achtun g zur Mi kro photographie.

ObjekttischeAll e Objektti sche zum METALLUX sind auswechselbar. Außer der Höhenverstel ­lung durch Grob- und Feintrieb sind sie auch unabhängig vom Einstellmechanismusin der Höhe verstellbar, so daß selbst größere Objekte noch im Auf licht unte rsuch toder Ergänzungseinr ichtungen auf dem Tisch unte rgebracht werden können. ZurWahl stehen:

Kreuztisch Nr. 252In der Standardausrüstung wird das METALLU X mit diesem Tisch geliefert. Seinetiefl iegenden Triebknöpfe sind rechtsseitig ge lagert und bequem mit der auf denArbeitst isch aufgelegten Hand zu bedienen. Di e jeweilige St el lung des Kreuz­t isches läßt sich an Skalen und Nonien auf 0,1 mm genau ablese n. Di e Präparat­halt er sind abnehmbar, so daß ggf. die ganze freie Fläche des Tisches zur V er­fügung ste ht.Abmess unge n des Tisches 140 x 130 mm; Verstell bereich 76 x 40 mm.

Objekttisch Nr. 218Dieser Tisch wi rd im allgemeinen nur benutzt , we nn Zu satzgeräte wie Heiztische,fes t monti ert auf dem Objektti sch ve rblei ben so llen .

Kamera 6,5 x 9 cm

Optische AusstattungDie achromatischen bzw . apochromatischen Objektive sind an einem 5fachevolver angeordnet und einheitlich auf die gleiche Objektebene abgeglichenScharfeinstellung bleibt also beim Objektivwechsel bis auf eine geringfügige ~

stellung erhalten. Die eingestellte Gesamtvergrößerung kann jeweils am Ob i '

revolver abgelesen werden.

Eingerichtet ist das Metallmikroskop METALLUX für die in der Werkstoffprüfungvorgesehenen Normvergrößerungen 50-, 100-, 200- , 500- und 1000fach . DieseNormvergrößerungen werden in der Metallographie am häufigsten benutzt.Der mit dem Objekt ivrevolver kombinierte Opakilluminator ist mit variabler Aper­turblende mit Teilung ausgestattet, die ebenso wie eine Halbblende zum Einstellenvon Schräglichtbeleuchtung bequem bedient werden kann. Außerdem befindet sicham Opakillum inator eine verstellbare Sehfeldblende.Als Okular wird das PERlPLAN-Okular 10x M verwendet. Im Okular befindet sicheine Strichplatte mit einer Markierung des Kameraformats; außerdem ist dieStrichplatte mit einem Kreis versehen, der be i Richtreihen-Arbeiten einem Bild­ausschnitt von 75 mm Durchmesser entspricht. Für Meßzwecke ist es möglich, dasOkular PERIPLAN® 10x M mit einem Mikrometer zu benutzen . Auf diese Weiselassen sich Messungen sehr bequem ausführen. Für besondere AufgabensteIlun­gen können statt der angegebenen Okulare auch alle anderen Okulare vomPERlPLAN-Typ verwendet werden. Dabei ist jedoch zu beachten, daß die auf den

Revolver gravierten Gesamtvergrößerungen dann nicht meh r stimmen .

MikrophotographieFür die mikrophotographische Dokumentation steht eine aufsetzbare Kamera6,5x9 cm zur Verfügung, die mit einem Negativokular, Zeit- und Momentverschlußund mit gegen die Kassette auswechselbarer Mattscheibe ausgestattet ist. Ein Ka­meraauszug erübrigt sich, da das Mikroskop auf die Normvergrößerungen abge­stimmt ist. Bei Aufnahmen mit 50facher Vergrößerung sollte die Scharfe instellungauf der Mattscheibe erfolgen; bei 100facher bis 1000facher Vergrößerung ist esdagegen möglich, nach Scharfeinstellung in einem Okular ohne nochmalige Matt­

sche ibeneinstellung zu photographieren.Für Serienaufnahmen kann die Kleinb ildkamera LEICA in Verbindung mit demMikro-Spiegelreflexansatz VISOFLEX® benutzt werden , wobei das auf 6,5x9 cmvergrößerte Papierbild der Normvergrößerung entspricht. Uber die detailliertenAusrüstungen unterrichtet unser Ausrüstung sschlüssel.

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Phasenkontrast einr ichtu ngzum METALLUX

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Metallmikroskop METALLU Xmit PhasenkontrasteinrichtungHauptsächlichstes Anwendungsgebiet der Phasenkontrastm ikroskopie im Auflichtsind Untersuchungen. bei denen es auf die Feinstruktur von Oberflächen ankommt.Bei Forschu ngs- und Routinearbeiten des Metal log raphen und Minera logen , desKeramikers und Petrographen . bei der Untersuchung von Korrosions-, Polier- . Atz­und Anlaufvorgängen gibt die Phasenkontrastbeobachtung oft rasche und häufigverblüffende Aufschlüsse. Einschlüsse, Verwachsungen , Korng renzen, Kratzer, Atz­gruben usw ., im Hellfeld bei ungeätzten Proben oft kaum zu ' erkennen, zeichnensich klar und kon trastreich ab. Speziell bei Metallenschliffen kann die Phasen­kontrastbeobachtung noch eine weitere interessante Information liefern : Zwei Ge­fügebestandteile können nämlich , trotz verschiedener optischer Konstanten , dasgleiche Reflexionsvermögen haben . Im Hellfeld sind sie dann nicht unte rscheidbar,im Phasenkontrast dagegen führen Unterschiede der optischen Konstanten beiMetallen meist zu versch ieden großen Phasensprüngen bei der Refle xion von licht­wellen , die dann als Hell-Dunkel-Kontraste in Ersche inung treten.

Zur Phasenkontrasteinrichtung des METALLUX gehören :Der Opa killuminator für Phasenkontrast- und Hellfeldbeleuchtung, 5 achromatischbzw. apochromatisch korrigierte Phasenkontrastobjektive Phaco 5 x/ 0.09, 10x/ 0.18,20x/ 0.35, FI 50 x/ 0.85, FI 100x/ 0.95.Der Opakilluminator ist mit einer drehbaren Trommel ausgestattet, die 5 Ring­blenden für die verschiedenen Vergrößerungen im Phasen kontrast und eine Iris­blende für Hellfeldbeleuchtung enthält. Außerdem ist eine Einrichtung zum unmittel­baren Vergleich des Phasenkontrastbildes mit dem Hellfeldbild vorhanden. Da­durch erhä lt man die beiden wesentl ichsten Informationen über die Mikrostruktureiner Obe rfläche: Bei Beobachtung im Hellfeld we rde n die Unte rschiede im Re­flexionsvermögen der Strukturdetails erfaßt und dargestellt, bei Beobachtung imPhasenkontrast erscheinen kle inste Höhen unterschiede des Ob jektes als Heilig­keitsunterschied im Bild .

Aufl icht-I nt erferenzzu satzam METALLUX

LEITZ­Auflicht-InterferenzzusatzUm Benutzern unserer Metallmikroskope die Möglichkeit interferenzmikroskopi­scher Oberflächenmessungen bieten zu können, liefern wir neben unserem spe­ziellen Auflicht-Interferenzmikroskop einen Auflicht-Interferenzzusatz, der auf dem 'Prinzip der Mehrstrahlinterferenz (nach To lansky) beruht. Dieses Gerät kann alseinfach zu handhabender Zusatz mit unseren Mikroskopen METALLUX, ORTHO­LUX ®, EPILUX ®-MET und PANPHOT® benutzt werden. Es eignet sich hervor­ragend für interferenzmikroskopische Beobachtungen und Messungen an natür­lichen Oberflächen, von elektropolierten oder tuchpolierten ungeätzten metalli­schen oder nichtmetallischen Schliffpräparaten , von Aufdampfsch ichten usw. Demmikroskopischen Bild der Prüffläche wird dabei ein Interferenzstreifensystemüberlagert, wobei die Schärfe der Streifen von dem Reflexionsvermögen desPrüflings und der Referenzfläche abhängt.

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Prinzip der Mehrstrahlinterferenz

Legt man auf eine spiegelnde Oberfläche ein dünnes, teildurchlässig verspiegeltesGlasplättchen, so daß sich eine dünne, keilförmige Luftschicht zwischen Plättchenund Oberfläche bildet, und beleuchtet im Aufl icht, dann werden die das Plättchenvon oben durchsetzenden Strahlen je nach Reflexionsvermögen der den Luftkeileinschließenden Flächen in diesem Luftspalt hin- und herreflektiert. Bei Beleuch­tung mit monochromatischem Licht ausreichender Kohärenzlänge wird je nach An­zahl der wirksamen Reflexionen eine Schar scharfer und sehr schmaler Interferenz­streifen sichtbar, deren Anzahl Aufschluß über den Keilwinkel gibt. Lokale Niveau­unterschiede der Prüffläche führen zu Auslenkungen der Interferenzstreifen,wobei die Niveaudifferenz aus dem Verhältnis der Auslenkung zum Streifenabstanderschlossen werden kann. Mehrstrahlinterferenzen erlauben also auf Grund ihrerSchärfe unter bestimmten Voraussetzungen sehr genaue Tiefenmessungen an Ob­jektstrukturen bis zu 10 AE.

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Vorzüge des LEITZ-Auflicht-Interferenzzusatzes

Einfach zu handhabendes Zusatzgerät für interferenzm ikroskopische Messungenlrn A uf licht.Geringer apparat iver Aufwand.Scharf definierte Inte rf erenzst reif en, dahe r hohe Meßgenauigkeit auch bei gerin­gen Niveauunterschieden.Leichte Orient ierungsmöglichkeit der Interfe renzstreifen.St re ifensystem we itgehend unempfindl ich gegen Erschütt erungen.W eit gehende Anpaßbarkeit an die unterschiedl ichsten Ob jekte durch Referenz­f lächen versch iedener For m und verschiedenem Reflexionsvermögen.Vergleichsweise hohe Vergrö ßerung en und Beleuchtungsape rturen anwendbar .Monochro mat isches Lic ht hoher Koh ärenz läng e du rch Natriumdampfl amp e.

Technisches in Kürze

Der LEITZ- Aufl icht-Interferenzzusatz w rro In Verbindung mit den Ob je kt iven5 x/ 0.09, 10 x/0.18, H 20 x/ 0.40 und H 32 x/ 0.60 benutzt. Um einen repro duzie rba renSitz an di esen Objektiven zu gewä hr le iste n, werde n zu den einzelnen O bjekt ivenPaßhülsen gel iefert, di e gegen die normalen Obj ektivhülsen schnell auswe chse lbarsind . Der Interferenzzusatz ist so konstruie rt, daß sich die Refer enzfläche unterst änd iger Kont rolle und oh ne Drehung der Refer enzfläche gegen die Prüfflächeabs enken läßt , b is Ko ntakt err eicht ist. Streifenneigung und -abstand kö nnen durch .)kont ro llierba re Neigung des Refer enzplättchens kont inuier lich geän dert werd enEs ste hen Ref erenzpl ättchen unte rschiedl icher Form und mit unte rschiedlichem Re­

fle xionsverm ögen zur Verfügung :

For m: Plan, sphärisch, zy lindr isch

Reflex ionsvermögen: 15% ,40% ,75% .

Al s Lich tqu elle mit hoher Monochromasie und Kohär enzläng e f ind et eine Natrium­dam pf lampe in einem kl einen Spezialgehäuse Verw end ung .

MikroskopefürdiezerstörungsfreieVVerkstoffprüfung

Durch Entw icklung mod erne r ele ktro lytischer Atzpol ierverf ahren ist es heute mög­lich, auch große W erkstü cke od er Werkzeuge ohne Entn ahme einer Mater ialprobemetallograph isch zu untersuch en. D iese zerstörung sfreie We rkstoffprüfung stellt

. aber besondere Anforderungen an ein Mikrosko p: Es muß für Objekt e der unter­schiedlichsten Form und Größe konst ruiert sein und außerd em die Mög lichkeitb ieten, an die mehr oder wen iger verti eft li egende n Stellen des Prüfstückes heran ­

zuko mmen.Entsprechend diesen Anforderungen wu rd en zwei Me tallm ik roskope als Sond er­stativ entwicke lt, d ie stationär od er t ransp or tabel anw endbar sind .

17 cm hoher Untersatz zur Untersuchung

kleinerer Objekte

Das Metallmikroskop METALLUX ND löst alle in der Praxis eines groBen Industrie­betriebes auftretenden Untersuchungsaufgaben. Das groBe Spezialstativ nimmtschwere Objekte bis zu einer Gesamthöhe von 37 cm auf. Dabei sind infolge dervertikalen Bauart des Mikroskopes auch sonst schwer erreichbare Stellen einesObjektes zugänglich. Die zu untersuchende Stelle liegt zum Beschauer hin offenund wird durch einen aus dem Objektiv tretenden Lichtstrahl als heller Lichtfleckangezeigt. Es ist also leicht möglich , das Prüfstück nach diesem Lichtfleck auszu­

richten und jede interessierende Stelle der Oberfläche unter das M ikroskop zubringen. Der VergröBerungsbereich umfaBt die NormvergröBerungen 50x, 100x,200x, 500x und 1000x. Die jeweilige GesamtvergröBerung ist an der Frontseite desObjektivrevolvers abzulesen.Das METALLUX ND ist selbstverständlich auch für allgemeine metallographischeZwecke, also die Untersuchung der üblichen Anschliffe, geeignet. Für diesen Zwecksteht ein in der Höhe verstellbarer und allseitig verschiebbarer Gleittisch alsObjektauflage zur Verfügung.

Technisches in Kürze

GroBe auf Schwingmetallen gelagerte quadratische Grundplatte 41 x41 cm. ZweiSpannbügel geben Einspannvorrichtungen für kleine Objekte, wie Fräser, Zahn­räder, Räder, festen Halt. Eine 3 cm hohe Auflageplatte mit drei Klemmschraubendeckt die Grundplatte ab, wenn Objekte aufgelegt werden sollen , die nicht ein­

gespannt werden müssen.Zur Untersuchung kleinerer Objekte und Objektproben steht ein 17 cm ho her Un­tersatz zur Verfügung, dessen Trägerplatte durch Schneckengang in der Höhe ver­stellbar ist. Auf dieser Trägerplatte wird ein Gleittisch im Format 120 x 112 mmbefestigt. Hiermit lassen sich mittelgroBe Objekte bis ca. 5 kg Gewicht untersuchen .Tubus, optische und photographische Ausrüstungen sind die gleichen wie beim

Metallmikroskop METALLUX.Als Lichtquelle wird die Niedervoltleuchte 12 V 60 W verwandt, die ein sehr hellesLicht mit einer Farbtemperatur von 2800° bis 3400 0K erg ibt. Sie erFüllt daher fürvisuelle Beobachtungen und photographische Zwecke alle Ansprüche.

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VVerkstatt­Metall­

mikroskop

Das transportable Spezial-Werkstatt-Metallmikroskop ermögl icht zerstörungsfreieWerkstoffprüfungen am Arbeitsplatz. Es wird überall dort mit Vorteil eingesetzt, woTransporte zum Prüflabor zu aufwendig oder undurchführbar sind. Das Mikroskopkann auf jedes gr ößere Objekt, sei es flach oder walzenförmig , aufgesetzt werden.Drei gegeneinander austauschbare Stativfüße geben be i ebenen oder zyl indrischenAuflagefiächen volle Stabil ität. Das mikroskopische Bild wird binokular beobachtet.Der Vergrößerungsbereich umfaßt die Normvergrößerungen von 50 x bis 500 x. DieAusstattung mit binokularem Phototubus ermöglicht meta llograph ische Aufnahmenbis 200:1.

Technisches in Kürze

Das stabile, an einem Handgriff bequem transportable Stativ ist mit Wechsel vor­richtungen für Beobachtungstubus und Opakilluminator ausgestattet. Das Bildwird mittels der auch an großen Stativen bewährten Einknopfbed ienung scharf ein­gestellt. Ein Intervall der Mikrometerteilung entspricht im Feinstellbereich 0,002 mm,im Grobstellbereich 0,025 mm. Eine Bohrung am Stativ nimmt eine Meßuhr zumDurchführen von Atztiefenm essungen auf.Der Binokulartubus S mit Schrägeinblick ist gegen einen wahlweise lieferbarenPhototubus FS (für binokulare Beobachtungen und Photographie) austauschbar.Beide Tuben sind allseitig drehbar.Der Opak-Auflichtilluminator mit 4fachem Objektivrevolver enthält Apertur- undLeuchtfeldblende im Lichtführungsstutzen. Die lichtstarke Ansatzleuchte 6 V 15 W I

ergibt auch bei starken Vergrößerungen helle und gut differenzierte Bilder. Ansatz­leuchte und Opakilluminator bilden eine fes te Einheit, könn en jedoch gemeinsamabg enommen werd en.Objektive und Okulare sowie die mikrophotographische Ausrüstung sind die gle i­chen wie be i uns erem Metallmikroskop METALLUX (stä rkstes Objekt iv 50 x) .

Das EPILUX-MET ist ein pre isgünst iges Gebrauchsstat iv für die Durchführung me­tallograph ischer Arbeiten wie z. B. in der Eingangs- und Fertigungskontrolle. Eserlaubt mit seiner optischen Ausrüstung Untersuchungen im Aufl icht-Hellfeld zwi ­schen 50- und 500facher Vergrößerung . Dabei werden die Vergrößerungsstufen derNormreihe eingehalten . Durch zusätzliche Bauelemente kann das Stativ zu einemvo llwertigen Durchlichtmikroskop umgewand elt werden.

T echnisches i n K ürz e

Das stabi le Stat iv ist mit W echselvorrichtungen für Beobachtungstubus und Opak­ill uminator ausgerüstet. Das Bild w ird , w ie auch be i unseren anderen großen Labo ­ratoriumsmikroskopen, mitte ls einer Einknopfbedienung scharfgestellt. Der Trieb­mecha nismus wirkt auf den Objektti sch, so daß Einblickhöhe und Neigung derTuben unverändert bleiben.

Das Stat iv kann monokular oder binokula r (Tuben P, S, FS) ausgestattet werden .Der Tubus läßt sich mit einem Handgriff aufsetzen, er ist allseitig drehba r undkann in jeder belieb igen Stellung arretiert we rden . De r Opakil luminator mitangebau tem vierfachem Ob jekt ivrevo lve r, Apertur- und Leuchtf eldblende sitzt ineiner Schl ittenführung und ist hor izontal wechsel bar. Die l ichtstarke A nsatz leuchte6 V 15 Werg ibt auch bei starken Vergrößerungen helle und gut differenz ierte Bi l­der. Ansatzleuchte und Opakill uminator sind fest mite inander verbunden. Z uroptischen Ausrüstung gehören vi er achromati sch bzw. apo chromati sch ko rri gierteObjekt ive, 5 x/0.09, 10 x/0.18, 20 x/0.35, FI 50 x/0.85 sowie PERlPLAN-O kula re10x M. Detaill ierte Angaben über die optische Au srüstung bitten wir dem Ab schnittMetallmikroskop METALLUX, Seite 5, zu entnehmen.

Das Objekt liegt mit der Schl iff fl äche nach oben auf dem viereckigen KreuztischNr. 44. Die Objektt räger werden durch zwei Objekt klemmen geh alten . Werdendiese abgenommen, so steht die ganze freie Tischf läche vo n 120 x 112 mm zur Ver­fügung , so daß auch die Untersuchu ng größerer Me talIpoben mögl ich ist.

Maxima le Verstell mögli chkeit des Objektti sches in der Vertika len : 45 mm.V erstel lbereich des Ob jektti sches 70 x 70 mm.

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Mikroskope

M ikroskope modernster Bauart fü r alle Unt ersuchungen"im durchfallenden, auffa lle nden und polar isierten Licht

Mikroskopische Ergänzungsgeräte, wi e Phasenkontrasteinrichtung,Heiz- und Küh lti sche

Universa ldre ht ische

Sondergeräte der M ikroskop ie, z. B. M ikromanipulato r,Interferenzmi kroskop, Vergleichsmikroskop,

binokulare Pris menlupen und Stereomikroskope

Mikrophotograp hische Apparate

Vollautom atische Mi krosko pkamera ORTHO MAT®

Mikrotome

versch iedene r Bauart

Ul tramikrotom für Elekt ronenmikr oskope

Physikalisch-optischeUntersuchungsgeräte

Infra rot- SpektraIphotometer

Monochro matoren

E-Photo meter

M ikro-Ref rakto meter

St aubuntersuchungsgeräte

Optische Materialprüfgeräte

Kle inhärteprü fer DURI MET®

Di latometer

Erhitzungsmikroskop e

® = eingetragenes Warenze ichen

Anderu nge n in Konstrukti on und Au sf ühr ung vorbehal ten.

Unser

Fertigungsprogramm

urnfaßt:

Optisch-mechanischeFeinmeßgeräte

Meßmik ros kope

W inkelmeßgeräte

Fernrohre zum Fluchten und Richten

Meß- und Prof ilprojektoren

Oberf lächenmeßgeräte

Ein- und Anbauopt ik für Werkzeugmaschinen

Fotoapparate

Kleinbildkamera LEICA® mit Zubehör

Kleinbild- Spiegel refl ex-Kamera LEICAFLE X®

Ergänzungen fü r w issenschaftliche und technische Photographie

8-mm-Filmkamera LEICINA ®

Projektoren

Schulprojektoren

Kleinbildprojekto ren

Automatischer Klein bildproje ktor PRADOVIT®

Epidiaskope

Mikroprojektoren , Großraumprojektoren

8-mm- Filmprojektor C INOVI D®

Ferngläser

TRINO VI D®

E R iN S T LEI T Z G M B H W E T Z L A R

Liste I 56 - 15 I Pri nted in Germ ony X1/55 / FY / L