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the art of metrology TM Optische 3D-Oberflächenmesstechnik für Forschung, Entwicklung & Produktion - 25. testXpo 2016 - FRT GmbH Uwe Schosser www.frt-gmbh.com

Optische 3D-Oberflächenmesstechnik für Forschung ... · the art of metrologyTM Distributoren: Über 20 in 18 Ländern FRT GmbH – Weltweites Netzwerk Entwicklung optischer 3D-Oberflächenmesstechnik:

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the art of metrologyTM

Optische 3D-Oberflächenmesstechnik für Forschung, Entwicklung & Produktion

- 25. testXpo 2016 -

FRT GmbHUwe Schosser

www.frt-gmbh.com

the art of metrologyTM

Distributoren:Über 20 in 18 Ländern

FRT GmbH – Weltweites NetzwerkEntwicklung optischer 3D-Oberflächenmesstechnik: Messung von Topographie, Schichtdicken, Rauheit etc. Multi-Sensor Systeme Sensorentwicklung im Hause Steuer- und Analysesoftware Integration und Automation Dienstleistungen Distributoren & Service weltweit

Mitglied in vielen Fachverbänden

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Solar

Das Unternehmen FRT GmbHRelevante Industriezweige

Automotive

Optics

MEMS / Nano

Medical

LED / Semicon /Micro Electronics

Rauheit Stufenhöhe Verschleiß Defektinspektion Ebenheit Topographie Profile Membrane Bow Schichtdicke etc. …

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FRT Kurzübersicht - Oberflächenmesstechnik

Multi-Sensor Messtechnik Modulare Software

Modularer AufbauMessaufgaben

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Das Unternehmen FRT GmbHProduktpalette

Vollautomatisierte Lösungen

Tischgeräte

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MicroSpy® Serie Tischgeräte als Einsteigermodelle

MicroSpy® Topo DT

MicroSpy® Profile

MicroSpy® Mobile

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MicroProf® 100 Bewährtes Messsystem im kompakten Design!

Heute auf der 25. testXpo schnell und berührungslos Multi-Sensor Konfiguration Auflösung im unteren nm-Bereich bis zu 14 kHz Messrate 150 mm x 100 mm Verfahrweg TTV- Option geringer Platzbedarf

MicroProf® 100 (TTV)

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MicroProf® Serie Multi-Sensor Systeme für Produktion und Qualitätssicherung

MicroProf® 100150 mm x 100 mm

MicroProf® 300415 mm x 305 mm

MicroProf® 200250 mm x 200 mm

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Vollautomatisierte Systeme z.B. für die Halbleiter- IndustrieHigh-End Systeme

MicroProf® 200 MHUMulti-Sensor System mitHandling

MicroProf® 300 TTV MHUMulti-Sensor System mit beidseitiger Messmöglichkeit (Dickenvariation) sowie Handling für 300 mm Wafer

SEMI CompliantTTV Measurement

FRT MFE - Metrology for FrontendVollautomatisiertes System mit Reinraumklasse 1, SECS/GEM (Schnittstelle nach SEMI), optional auch für sehr dünne Wafer)

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FRT Multi-Sensor TechnologieMulti-Sensor Systeme für universelle MesslösungenFRT bietet eine 4-fache Kombinationsmöglichkeit der Sensortypen:

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Intensität über Wellenlängen

400nm 540nm 680 nmblue green red

λ

400nm 540nm 680 nmblue green red

I

λ

Stufenhöhen

Rauheiten , Welligkeiten

*Chromatic White Light

optisches Verfahren schnell und berührungslos Auflösung im unteren nm-Bereich bis zu 14 kHz Messrate z.B. LED Lichtquelle Inline- Anwendungen lösbar

FRT CWL Chromatischer Weißlicht Sensor

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FRT FTRInterferometrischer Punktsensor/ Dünnschichtsensor für F&E

Multilayer Schichtsysteme sind messbar eigene Entwicklung der FRT GmbH Datenbank mit vielen hinterlegten Materialkennwerten weitere Schichtmodelle können hinzugefügt werden

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FRT CFM DT Sensor:

“Dual technology” Sensor kombiniert das Konfokalmikroskop (CFM) mit dem Weißlichtinterferometer (WLI)

Nanometer (CFM) und Sub-Nanometer vertikale Auflösung (WLI)

Sub-µm laterale Auflösung

schnelle 3D Messungen in wenigen Sekunden

Highlight: optionales AFM

FRT Topo DT – CFM + WLI FLFRT Flächensensoren

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Multi-Sensor Konfigurationsbeispiele

FRT Multi-Sensor TechnologieMulti-Sensor Systeme für universelle Messlösungen

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Anwendungen und AutomatisierungRauheit, Topographie und Darstellung

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polierte Seite raue Seite

Anwendungen und AutomatisierungMessungen oben und unten am Wafer (TTV)

TTV- Prinzip

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Anwendungen und AutomatisierungFRT Acquire Automation XT Software

Layout Wizard Definieren von Strukturen im Messrezept Definieren der Sensoreinstellungen Import und Export von Daten

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T = 25°C T = 175°C

Vollautomatische und manuelle Messungen bei verschiedenen Temperaturen

Anwendungen und AutomatisierungThermoeinheit & FRT Acquire Automation XT Software

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MicroProf® Topographiemessungen

0,0

10,0

20,0

30,0

40,0

50,0

60,0

70,0

25 50 75 100 125 150 175 200 225 250 265Temperature [°C]

Flat

ness

[µm

]Anwendung mit Thermokurve

Ebenheitsmessung und Topographieanalyse auf Siliziumchip

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Automotive

Interior Armaturenbrett (Kunstleder)

Struktur Restdicke

Technische Maserung Struktur Restdicke

Anzeigeninstrumente Rauheit

Schalter/ Knopf Rauheit

Exterior Türgriff

Stufenhöhe Rauheit

Lackierung Schichtdicke

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Automotive

Motoren Zylinder

Rauheit scharfe Kanten Abnutzung

Injektor Ventile Ebenheit Koplanarität

Turbolader Ebenheit Rauheit

Kurbelwelle Rauheit Konvexität, Radius

Batterien Folien

Rauheit

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Automotive

Bremsen Bremsbeläge

Ebenheit Rauheit

Bremsscheiben Ebenheit Rauheit

Zylinderkopfdichtung Dicke Höhe Breite Winkel

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Komplettlösung von FRT Sensor – System – Mess- und Analysesoftware – Support

Multi-Sensor Technologie FRT Sensoren (eigene Sensorentwicklung)

MicroProf® Serie Kombination von mehreren Sensoren Manuelle, halbautomatische bis voll automatisierte Metrologielösung Messungen unter thermischer Belastung

Hauseigene Software für Datenaufnahme, -kontrolle, -bewertung und -abbildung

FRT optische 3D-Metrologiesysteme

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Referenzen der FRT GmbH (Auszug)Mehr als 600 Systeme im Markt

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Danke für Ihre Aufmerksamkeit!

HeadquartersFRT GmbHFriedrich-Ebert-Straße 7551429 Bergisch Gladbach, GermanyTel.: +49 (0) 2204 - 84 2430Fax: +49 (0) 2204 - 84 [email protected]

FRT of America, LLC 1101 South Winchester Blvd.,Suite L-240San Jose, CA 95128, USA Tel. +1 408-261-2632Fax +1 408-261-1173Internetwww.frtofamerica.comE-Mailinfo@frtofamerica.com

FRT Shanghai Co., Ltd.Room A18, 3rd Floor,No.475 Fute No. 1 Rd. (W.) Waigaoqiao Free Trade Zone,Shanghai, China 200131Tel +86-21-3876-0907Fax [email protected]

FRT Taiwan 2F.-1, No.47, Ln. 223, Sec. 4,Zhongxiao E. Rd.,Da-an Dist., Taipei City 106,Taiwan, Republic Of China Tel. +886 (0)2 8772 5546Fax +886 (0)2 8772 [email protected]