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Verzeichnis von DIN EN ISO - Normen und VDI-Richtlinien 249
Verzeichnis von Normen und Richtlinien
Nummer-Thil Datum Titel Seite
DIN 102 Okt.56 Bezugstemperatur der Meßzeuge und Werkstücke 45,205
DIN 229-1,-2 Aug.82 Morsekegellehren 65
DIN 230-1, -2 Aug.82 Morsekegellehren 65
DIN 234-1,-2 Aug.82 Metrische Kegellehren 65
DIN 235-1, -2 Aug.82 Metrische Kegellehren 65
DIN ISO 286-1,-2 Nov.90 ISO-System für Grenzmaße und Passungen 153, 154
DIN862 Dez.88 Meßschieber 66
DIN 863-1 Apr.99 Meßschrauben, Bügel- 67
DIN 863-2 Apr.99 Meßschrauben, Ilinbau- 67
DIN 863-4 Apr.99 Meßschrauben, Innen- 88
DIN865 Mrz.83 Strichmaßstäbe, Prüfmaßstäbe 25
DIN 866 Mrz.83 Strichmaßstäbe, Arbeitsmaßstäbe 25
DIN 874-1 Aug.73 Lineale, Flachlineale 42
DIN 874-2 Aug.73 Lineale, Haarlineale 42
DIN875 Mrz.81 Stahlwinkel 90° 40
DIN 876-1 Aug.84 Prüfplatten, aus Naturhartstein 42
DIN 876-2 Aug.84 Prüfplatten, aus Gußeisen 42
DIN877 Jun.86 Neigungsmeßgeräte (Richtwaagen) 38,66
DIN878 Okt.83 Meßuhren 69, 70, 73
DIN 879-1 Jun.99 Feinzeiger 70, 73
DIN 879-3 Jun.99 Feinzeiger mit elektrischen Grenzkontakten 71
DINISO 1101 Aug.95 Technische Zeichnungen; Form-, Lagetoler. 153, 154, 155, 156, 162, 167
DIN EN ISO 1302 Dez.93 Technische Zeichnungen; Oberflächenbeschaffenheit 170, 177
DIN 1315 Aug.82 Winkel 19
DIN 1319-1 Jan.95 Grundlagen der Meßtechnik, Grundbegriffe 8,25,46,67
EDIN 1319-2 Feb.96 Grundlagen der Meßtechnik 14
DIN 1319-3 Mai 96 Grundlagen der Meßtechnik, Meßunsicherheit 46
DIN 1319-4 Feb.99 Grundbegriffe der Meßtechnik, Behandlung von Meßunsicherheiten 46
DIN 1946-1 Okt.88 Raumlufttechnik, Terminologie 209
250 Verzeichnis von DIN EN ISO - Normen und VDI-Richtlinien
Nummer-Teil Datum Titel Seite
DIN 1946-2 Jan.94 Raumlufttechnik, Gesundheitliche Anforderungen 209
DIN 1946-7 Jan.92 Raumlufttechnik in Laboratorien 208
VDI2081 Mrz.83 Geräuscherzeugung und Lärmminderung in raumlufttechn. An!. 208
VDI2083-1 Apr.95 Reinraumtechnik, Reinraumklassen 209
VDINDE 2083-5 Feb.96 Reinraumtechnik, Thermische Behaglichkeit 207
DIN 2231 Jan.82 Grenzrachenlehren 65
DIN 2232 Jan.82 Gutrachenlehren 65
DIN2233 Jan.82 Ausschußrachenlehren 65
DIN 2239 Jan.95 Lehren der Längenprüftechnik 63
DIN 2245-1 Nov.89 Grenzlehrdorne 64
DIN 2245-2 Nov.89 Grenzlehrdorne 64
DIN2246 Nov.89 Gutlehrdorne 64
DIN2247 Nov.89 Ausschußlehrdorne 64
DIN2250 Nov.89 Gutlehrringe und Einstellringe 43
DIN 2250-1 Nov.89 Gutlehrringe und Einstellringe 37, 65
DIN 2250-2 Nov.89 Gutlehrringe und Einstellringe 37, 65
DIN 2257-1 Nov.82 Begriffe der Längenprüftechnik, Tätigkeiten 67
DIN2257-2 Aug.74 Begriffe der Längenprüftechnik, Fehler, Unsicherheiten 46
DIN2261 Okt.55 Kerbzahn-Grenzlehrdorne 65
DIN 2267 Okt.55 Kerbzahn-Einstellehren 65
DIN 2268 Okt.75 Längenmaße mit Teilung 27
DIN2269 Nov.98 Prüfstifte 37,63
DIN2270 Apr.85 Fühlhebelmeßgeräte 71
DIN2271-1 Sep.76 Pneumatische Längenmessung, Grundlagen 84, 85
DIN2271-2 Apr.76 Pneumatische Längenmessung, Hochdruck-Meßgeräte 84, 85
DIN2271-3 Feb.OO Pneumatische Längenmessung, Anforderungen, Prüfung 84, 85
DIN 2271-4 Nov.77 Pneumatische Längenmessung, Anwendung, Beispiel 84,85
E DIN 2272-1 Aug85 Anforderungen an Prüfmittel der Längenprüftechnik, Fehlergrenzen 31
DIN2273 Mai 79 Sinuslineale 41
DIN2274 Okt. 81 Prüfprismen, Ausführungen, Anforderungen 162
DIN2275 Sep.77 Fühlerlehren 63, 162
DIN2276-1 Jun.86 Neigungsmeßeinrichtungen 66, 160
DIN 2279 Dez.01 Geom.Produktspezifikat.(GPS) Lehren für Metrisches ISO-Gewinde 65
VDINDE 2600-1....6 Nov.73 Metrologie (Meßtechnik) 8, 14
VDINDE2603 Sep.90 Oberflächen-Meßverfahren; Messen des Flächentraganteils 175
VDINDE2604 Jun.71 Oberflächen-Meßverfahren; Interferenzmikroskopie 178
Verzeichnis von DIN EN ISO - Normen und VDI-Richtlinien 251
Nummer-Thil Datum Titel Seite
VDINDE2605 Jan.73 Kreisteilungsmessungen und ebene Winkel; Grundbegriffe 19,41
VDINDE 2617-1...-7Jan.93
VDI/VDE/DGQ 2618 Jan.Ol
- E Blatt 1.1 Dez.01
- E Blatt 1.2 Dez.99
VDI/VDE/DGQ 2619 Jun.85
VDI/VDE 2620-1 Jan.73
VDI/VDE 2620-2 Ju1.74
VDINDE 2627-1, -2 Apr.02
VDI/VDE 2628-1 Feb.85
VDI/VDE E 2631-4 Ju1.93
DIN ISO 2859-1...-3 Apr.93
DIN EN ISO 3274 Apr.98
VDINDE 3441 Mrz.77
E DIN ISO 3650 Aug.95
DIN ISO 3951 Aug.92
DIN EN ISO 4287-1,-20kt.98
DIN EN ISO 4288 Apr.98
DINISO 4291 Sep.87
E DIN ISO 4292 Jun.84
DIN 4760 Jun.82
DIN 4765 Mrz.74
DIN 4768 Mai 90
DIN 4769-1 ... -4 Ju1.74
DIN4772 Nov.79
DIN4774 Jun.81
DIN 4776 Mai 90
DIN EN ISO 5436-1,-2 Nov.OO
DINIS05459 Jan.82
DIN 6403 Feb.76
DIN7162 Dez.65
DIN7167 Jan.87
Genauigkeit von Koordinatenmeßgeräten 138,146,148
Prüfanweisungen zur Prüfmittelüberwachung, 51, 222-224
Anweisungen zur Überwachung - Grundlagen 222
Anweisungen zur Überwachung - Meßunsicherheit 222
Prüfplanung 217,221
Fortpflanzung von Fehlergrenzen bei Messungen, Grundlagen 51
Fortpflanzung von Fehlergrenzen bei Messungen, Beispiele 51
Meßräume, Klassifizierung und Kenngrößen, Planung, Erstellung 205-209
Automatisierte Sichtprüfung; Beschreibung der Prüfaufgabe 187
Formmeßgeräte, Abnahme und Überwachung, Kenngrößen 169
Annahmestichprobenprüfung (Attributprüfung) 215, 220, 221
GPS, Oberflächenbeschaffenheit, Tastschnittverfahren 170, 183
Statistische Prüfung der Arbeits- und Positions genauigkeit
Längenmeßgeräte Parallelendmaße
Stichprobenprüfung (Variablenprüfung)
Oberflächenbeschaffenheit, Tastschnittverfahren
Oberflächenbeschaffenheit, Tastschnittverfahren
Verfahren Ermittlung v. Rundheitsabweichungen
Verfahren zum Messen von Rundheitsabweichungen
Gestaltabweichungen, Ordnungssystem
Bestimmung des Flächenanteils von Oberflächen
Ermittlung der Rauheitsmeßgrößen Ra,Rz, Rmax
Oberflächenvergleichsmuster
Elektrische Tastschnittgeräte
Messung der Wellentiefe mit elektrischen Tastschnittgeräten
Kenngrößen Rk, Rpk, Rvk, Mrlo Mr2
Oberflächenbeschaffenheit, Tastschnittverfahren, Normale
Technische Zeichnungen; Form- und Lagetolerierung; Bezüge
Meßbänder aus Stahl
Arbeits- und Prüflehren für Längenmaße; Herstelltoleranzen
108, 109
34
215,221
170, 182
170
156, 164, 165
156
152, 181
175
182, 183, 185
178
180
175
176, 183
170
157
25
65
Zusammenhang zwischen Maß-, Form- und Parallelitätstoleranzen 154
DIN ISO 8015 Dez.85 Technische Zeichnungen, Tolerierungsgrundsatz 154
DIN EN ISO 9000:2000 Dez.OO Qualititätsmanagementsysteme, Grundlagen, Begriffe 2,3,5,7,217,226,233
DIN ISO 10012-1 Aug.92 Forderungen an die Qualitätssicherung für Prüfmittel 8, 223
DIN EN ISO 10360-1...-6Mrz.Ol GPS Abnahme- und Bestätigungsprüfung für KMG 129,133,137,146
252 Verzeichnis von DIN EN ISO - Normen und VDI-Richtlinien
Nummer-Teil Datum Titel
DIN EN ISO 10360-2 Sep.93 Koordinatenmeßtechnik, Leistungsfähigkeit von KMG
DIN EN ISO 11562 Apr.98 Oberflächenbeschaffenheit, Tastschnittverfahren, Normal
DIN EN ISO 12085 Mrz.94 Oberflächenrauheit und Welligkeit, MOTIF-Methode
DIN EN ISO 12179 Nov.99 GPS Oberflächenbeschaffenheit, Tastschnittverfahren, Kalibrieren
DIN EN V 13005 Jan.99 Leitfaden zur Angabe der Meßunsicherheit beim Messen
DIN EN ISO 13565-1...-3 Apr.OO Oberflächenbeschaffenheit, Tastschnittverfahren
DIN EN ISO 14253-1 Mrz.99 Geometrische Produktspezifikation (GPS), Entscheidungsregeln
-Beiblatt Mai 00 -, Schätzung der Unsicherheit beim Kalibrieren von Meßgeräten
DIN32876-1 Apr.86 Elektrische Längenmessung, Anforderungen
DIN32876-2 Sep.88 Elektrische Längenmessung, Anwendungsbeispiele
DIN 32877 Feb.92 Optoelektrische Längenmessung
E DIN 32880-1 Dez.86 Koordinatenmeßtechnik
V DIN 32936-1 Mrz.95 Optoelektronik, Triangulation
DIN 32937-1...-4 Apr.OO Prüfmittelüberwachung
DIN32950 Apr.97 Geometrische Produktspezifikation (GPS), Übersicht
EN 45001 Mai 90 Allgemeine Kriterien zum Betreiben von Prüflaboratorien
EN 45002 Mai 90 Allgemeine Kriterien zum Begutachten von Prüflaboratorien
DIN 55350 Bbl. Apr.89 Begriffe der Qualitätssicherung und Statistik
DIN 55350-11 Aug.95 Begriffe des Qualitätsmanagements
DIN 55350-12 März89 Begriffe zu Qualitätsmanagement, Merkmalsbezogene Begriffe
DIN 55350-13 Jul.87 -, Begriffe zur Genauigkeit und Ermittlungsverfahren
E DIN 55350-33 Sep.93 -, Begriffe zu SPC
DIN 66348-1 Sep.86 Schnittstellen und Steuerungsverfahren, seriell
DIN 66349 Okt.83 Schnittstellen, parallel, BCD
Seite
137,138
170,183
170
170
47,49
170
16,17
16
71
71
79
129
80
222
16
226
226
217
31
31
46
214
213
213
Stichwortverzeichnis
A Abbe-Längenmesser, 119
Abbescher Grundsatz, 55, 119 amKMG,136
Abbott-Kurve, 176 Kernrauheitstiefe, 177 Materialanteil, 177 reduzierte Riefengröße, 177 reduzierte Spitzenhöhe, 177
Abplattung, 53
Abschaltkreis, 97, 98, 99
Absolutmeßverfahren,13
Abweichungsspanne, 35, 51
AKF,39,40, 158, 160, 161
Akkomodation, 189
Allgemeintoleranz, 153
Anschieben, 32
Ansprechschwelle, 13
Ansprengen, 32
Anwendungsbereich, 15,66
Anzeige, 13, 67
Anzeigebereich, 66, 68
AQL (Acceptable Quality Level), 222
Atomuhr,22
Attributprüfung, 215, 220
Audimess, 143
Audit, Zertifizierungsaudit, 5
Aufbauorganisation, 7, 8
Auflicht bei Sichtprüfungen, 190 diffus, 191 gerichtet, 191
Auflichtbeleuchtung, 191
Auflösung, 13 Auge, unbewaffnet, 192 CCD-Kamera, 127, 194, 195, 196 digitaler Meßtaster, 35 Diodenzeile, 79, 194 elektrische Längenmeßgeräte, 71, 95 Gittermaßstab, 27 Interferenzmikroskop, 178 Laserinterferometer, 77 Meßgerätefähigkeit, 235 Meßprozeßfähigkeit, 235, 237 Meßsystem, 51 Meßsysteme am KMG, 137 Moire-Verfahren, 200 Nanomeßtechnik, 246 Streifenprojektion, 198, 200 Triangulationsverfahren, 81 Winkelmessung, 20, 31
Aufnehmer, 14
Auge, 189 Adaptation, 190 Grenzen der Auflösung, 192
Ausdehnungskoeffizient, 51, 58-60
Ausgabe, 13
Ausgleichsrechnung, 145
Ausreißer, Oberflächenmessung, 172, 173, 177
Autofokusverfahren, 83
Autokollimationsfernrohr (AKF), 39, 158, 160 Meßunsicherheit, 160
254
B Basiseinheit, 18
Bauelemente, 92
Beleuchtung, 190, 210 bei automatisierter Sichtprüfung, 193, 246 Blitzlicht, 193 DunkeHeld, 191 Durchlicht, 190 Hellfeld, 191 strukturiert, 191
Besselsche Punkte, 53
Bezugselement, bei Lageprüfung, 157
Bezugsnormal, 15
Bezugstemperatur, 58
Bildverarbeitung, 187 Auflösung, 194 Bildverarbeitungssystem, 193 CCD-Kamera, 194 Checkliste, 203 Echtzeit, 83 Erkennungssicherheit, 203 Fenster, 197 Markt, 201 Muster, 203 neuronales Netz, 201 Streifenprojektion, 198 Szene, 196
Binärbild, 195
Blickfeld, 189
Bohr'sches Atommodell, 102
Bohrungsmeßgeräte, 88 Innenschnelltaster, 89 Innenmeßgerät mit Feinzeiger, 89 Innenmeßgerät mit Meßuhr, 89 Innenmeßschraube, 89 Pneumatischer Düsenmeßdorn, 89
Bohrungsmessung, 85, 88 Bohrungsmeßmikroskop, 125 Umkehrpunktssuche, 88
Bügelmeßschraube, 67
c CAQ (Computer Aided Quality Assurance),
Modul Prüfplanung, 221
Stichwortverzeichnis
CCD-Kamera, 123, 194, 195 CCD-Matrix-Kamera, 195 CCD-Zeilen-Kamera, 195 CMOS-Kamera, 246
cg Fähigkeitsindex, 235, 237
Cgk Fähigkeitsindex, 235, 237
Codierter Strichmaßstab, 30
Cosinus-Fehler, 56
CS-Atomuhr,23
D Deutscher Kalibrierdienst (DKD), 4, 225
Differenzdruck-Meßverfahren,85
Differenzmessung,74
Digitaler Meßtaster, 75 mit Halbleiter-Laserinterferometer, 76
DKD (Deutscher Kalibrierdienst), 4, 225
DKD-Kalibrierlaboratorien, 4
DMIS (Dimensional Measuring Interface Spe-cification), 143
Drehtisch, 40, 164
Drei - Draht-Verfahren, 67, 120
Drei-Punkt-Messung, 163
Dreiecksverteilung, 50
Druckmeßverfahren, 84, 85
Dual-Code, 26
DunkeHeldbeleuchtung, 191
Durchbiegung, 54
Durchflußmeßverfahren, 84, 85
Durchlichtbeleuchtung, 191
Durchschlupf, bei Sichtprüfung, 188
Düsendorn, 85
E EAL (European Cooperation for Accredita
tion of Laboratories), 228
Ebenheit, 168 Messen mit Laserinterferometer, 111
Edlen - Formel, 106
Stichwortverzeichnis
Eichen, 10, 222
Einflußgrößen, 52
Eingangsprüfung, 2 von Prüfmitteln, 223
Einheitensystem, 17
Einstellen, 10
Einstellring, 37, 43, 147 in der Kalibrierkette, 224, 234
Elektrische Längenmeßgeräte, Eigenschaften, 71
Empfindlichkeit, 68
Endmaß,32 anschieben, 33 Normal-,34 Prüf-,34
Endmaß-Satz, 32
Endmaßkalibrierung, fundamental- interferen-tiell, 122
Endmaßmeßgerät, Meßunsicherheit, 35
Endmaßprüfgerät, 34
Endprüfung, 2, 3
Ersatzelement, 129, 132
erweiterte Meßunsicherheit, 50
F Fähigkeitindex für Meßprozesse, 235, 237
Fehlergrenze, 78 beim Kalibrieren, 224 Definition, 9 digitaler Meßtaster, 75, 76 Eichen, 10 Komparatoren, 121, 122 Laserinterferometer, 78, 106, 107 Laserscanner, 80 Meßbereich, 15 Meßsystem, 30 Meßzeuge, 66 Sensoren für Laserinterferometer, 114
Feinzeiger, 71 elektrisch, 71, 161 induktiv, 72 kapazitiv, 74
Fenster, 127
Fertigungsmeßtechnik, 1
Fertigungsprüfung, 2, 3
Filterung, 166 Formprüfung, 166 Gauß-Filter, 183 Oberflächenmessung, 182 phasenkorrekt, 183
Flächenkreisteilung, 39
Flankendurchmesser, 67
Flicknormal, 169
Fluchtfernrohr, 159 Meßunsicherheit, 159
255
FMEA (Failure Modes and Effects Analysis), 5,219,244
Form, 152
Form- und Lagetoleranzen, 153 Richtwerte für, 158 Symbole für, 154
Formabweichung, 152 Gleichdick, 163
Formelement, 153
Formlehre,63
Formprüfgerät, 158 Kalibrierung, 168
Formprüfung, 181 2-Punkt-Messung, 163 3-Punkt-Messung, 163 durch Scannen auf Koordinatenmeßgerät
(KMG),141 Gitterprojektion, 198 Kontur, 159 Mehrlagenverfahren, 169 Streifenprojektion, 198 Umkehrverfahren, 168
Formtoleranz, 153
Fraktale Fabrik, 8
Freiformflächen, 153
Freiheitsgrad, 49
Fühler, 14
Fühlhebelmeßgerät, 71
Füllkreis, 156
Funktion, 1
Fuß,20
G G-Filter (Gauß-Filter), 183
256
Gauß, Ausgleichsrechnung nach, 132, 155, 156
Gauß-Verteilung, 47
Geometrische Produktspezifikation (GPS), 15
Geradheit, 168 Messen nach Neigungsmethode, 110, 160
Geradheits- Interferometer, 111
Gesichtsfeld, 189
Gestalt, 152
Gewindemessung, Drei - Draht - Verfahren, 67, 120
Gittermaßstab, 75 Abtastgitter, 26
Glaskeramik,42
Gleichdick, 162, 163
Goldene Regel, 17
GPS (Geometrische Produktspezifikation), 15 Entscheidungsregeln, 17
Gray-Code, 26, 199
Grenzlehre, 14,62,63 Abnutzungszugabe, 65 Ausschußlehre, 63 Gutlehre, 63
Grenzwellenlänge, 182
Grenzwerte für Meßabweichungen, 11
GUM (Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement), 47, 51
H Haarlineal, 158
Halbkugel, 43
Halbleiter-Laserinterferometer, 76
Halbleiterlaser, Eigenschaften, 104
Hartgestein, 42
Hellfeldbeleuchtung, 191
Hilfsmittel, 62, 89
HochpaßfiIter, 182
Höhenmeßgerät, 66
Hüllbedingung, 132
Hüllprinzip, 154
Stichwortverzeichnis
Hundert-Prozent-Prüfung, 220
Hysterese, 14
Identifikation, 223, 231, 233
Identnummer,224,231,233
inch-System, 18
Induktive Meßwertaufnehmer, 73
Induktives inkrementales Meßsystem, 29
Induktivtaster, 72
Innenmessung, 119
Inprozeß- Messung, 99
Inspektion, 7
Interferenzen am Keil, 162
Interferenzkomparator, 36, 122, 123
Interferenzrnikroskop, 162
Interferometer, 25
Internationales Einheitensystem (SI), 17
Istmaß, 2, 16, 65
Istwert, 46
J Justieren, 10
K Kalibrierdienst, 226
Kalibrieren, 10, 222, 233 Ringvergleich, 234
Kalibrieren des KMG, 146
Kalibrierintervalle, 224
Kalibrierkette, 10, 223, 224, 227 für Innenmeßgeräte, 89 für Lehren und Meßschieber, 225
Kalibrierlaboratorium, Betriebliches, 226
Stichwortverzeichnis
Kalibrierschein, 10, 230 DKD-,226 Werks-,226
Kalibrierzeichen, 229
Kapazitiv-Taster, 74
Kapazitives Meßsystem, 29
Kegellehre, 41
Kernrauhtiefe, 171
Kimme und Kegel, 120
Kimmenendmaß, 120
Klassieren, 12
Klima, Behaglichkeit, 208
Klimaanlage, 210
Koaxialität, 168
Kombinierte Standard unsicherheit, 46, 50, 51
Komparator, 119
Komparatorprinzip, 55, 119
Konformität, 17
Konformitätsaussage, 231
Kontaktdorn, 85
Kontrolle, 7
Konturmeßgerät, 247
Konzentrizität, 168
Koordinatenrneßgerät (KMG) Ablauf der Messung, 143 Antaststrategie, 143 Antastunsicherheit, 138 Anwendung, 129 Aufbau, 134 Auslegerbauart, 134, 136 Bauarten, 135 Brückenbauart, 134, 135 CNC-Programmierung, 133 CNC-Steuerung,142 mit Laserinterferometer, 247 Kalibrieren
Blockverfahren, 146 Kreisformtest, 147 mit Laserinterferometer, 146 mit Prüfkörper, 147, 148 Schablonen-Verfahren, 146
Komponenten, 134 Komponenten - Abweichungen, 146 Konturmeßgerät, 247
Koordinatensysteme, 133 Koordinatentransforrnation, 132 Laser Tracker, 150 messendes Tastsystem, 139 Meßprinzip, 129 Meßprogramrne, 145
Besteinpassung, 145 Gewindemessung, 145 Paarungsrnaß, 145 Scanning, 145 Zahnradmessung, 145
Meßsysteme, 26 Meßunsicherheit, 148
Virtuelles KMG, 137, 148,246 Mindestzahl der Antastpunkte, 130 mobiles KMG, 150 optoelektronische Antastverfahren, 134 Portalbauart, 134, 135 Programmiersprachen
MAHRMESS, 143 MFT-Prog, 143 QUINDOS, 143
Programmierung, 142 gerätefern, 143 maschinelle, 143 teach-in-Verfahren, 142
Scanning, 141 schaltendes Tastsystem, 139 Schnittstellen
DMIS, 143 DXF, 143 ESPRIT, 143 IGES, 143 NCMES, 143 SET, 143 VDAFS, 143
Ständerbauart, 135 Steuerung, 142 Taststiftkalibrierung, 132 Tastsystem, 138
Antastpunkt, 131 Berührpunkt, 131 messend, 139, 140 Meßpunktaufbereitung, 131 schaltend, 139 Tastelement,140 Tasterradiuskorrektur, 131 Taststift, 140
Temperaturkompensation, 138 Triangulationsverfahren, 141 Virtuelles KMG, 137,246
Koordinatentisch, 42
Koordinatentransformation, 144
257
258
Korrektion, 9, 47
Kreis, 43
Kreisformabweichung, 43
Kreisführung, 43, 163
Kreisteilung Einzelteilungsabweichung, 31 Summenteilungsabweichung, 31
Kreuzgitter, 31
Kreuztisch, 42
Kugel, 43, 44, 147
Kugelstange, 147
Kunde, 17
L Lage, 152, 156
Lagelehre, 63
Lagetoleranz, 156
Länge, 18
Längenänderung, temperaturbedingt, 60
Längenausdehnungskoeffizient, 51, 58-60
Längenaufnehmer, 67 berührend (taktil), 67 elektrisch, 71 für Längenregelungen, 100 induktiv, 72 kapazitiv, 74 mit Gittermaßstab, 75 mit Laserinterferometer, 77 nicht berührend, 78
Pneumatische Längenmeßgeräte, 84 optoelektronisch, 79
Autofokusverfahren, 83 Fokussierverfahren, 79 Laufzeitverfahren, 79, 80 Schattenbild, 79 Triangulation, 79, 81
Längeneinheit, 21 Geschichte, 20 Laufzeitdefinition, 22 Strichmaßdefinition, 22 Urmeter, 21 Wellenlängendefinition, 22
Längenrneßgerät horiwntal, 119 vertikal, 66
Längenrneßtechnik, 1
Längenregelung Abschaltkreis, 98, 99
Stichwortverzeichnis
Anwendungsbeispiel, 98 Meßwertaufnehmer, 100 Regelkreis, 97 Regelung nach statistischen Werten, 100
Laser, 25 Definition, 103 Eigenschaften, 104
Laser-Radar, 201
Laserinterferometer, 25, 102, 121, 137,247 Anwendung, 107 Bauteile, 104 Doppelreflektor, 110 Doppler-Effekt, 105 Edlen-Formel,113 Geradheitsmessung, 110, 111 Halbleiterlaser, 76, 77, 103, 104 He-Ne-Laser, 78,103 in der Kalibrierkette, 224 Meßunsicherheit, 106, 107 Prüfen einer Werkzeugmaschine, 108 Sicherheit, 111 Strahlleistung, 112
Laserscanner, 80
Laser Tracker, 150
Laufzeitverfahren, 79
Lean Management, 8
Lehre, 14,63 Abnahmelehre, 65 Arbeitslehre, 63 Ausschußlehre, 64 Flachlehre, 64 Formlehre,63 Grenzlehre, 63, 65 Gutlehre, 64 Kugelendmaß, 64 Lehrdorn, 64 Maßlehre, 63 Nichtübereinstimmungslehre, 65 Prüflehre, 63 Rachenlehre, 65 Revisionslehre, 63, 65
Lehren, 14
Lernprogrammierung, 133, 142
Stichwortverzeichnis
Licht, 102 Wellenlänge, 25
Lichtschnittverfahren, 198 codiert, 199
Lieferant, 17
Lineal, 42, 158
Linear-Verfahren, 110
Lochplatte, 147
LSC (Least Square Circle), 165
M manuelle Programmierung, 142
maschinelle Programmierung, 142
Maßstab,25 codierter (absoluter), 26, 27 Dual-Code, 26 Gray-Code, 26 magnetischer, 29 zweidimensional, 31
Maßverkörperung, 23,25,62 aus Quarz, Invar, Glaskeramik, 60 für geometrische Größen, 24
Materialanteil, 171
MCC (Minimum Circumscribed Circle), 165
Mehrstellenmeßgerät, 92
Mehrwellennormal, 169
Merkmal, 8, 11 qualitativ, 8 quantitativ, 8
Meßablaufplan, 143
Meßabweichung, 9, 45, 46 1. Ordnung, 52, 55 2. Ordnung, 52, 56 systematisch,47 Ursachen, 51 zufällig, 47
Meßautomat, 93 Linear-Anordnung, 94 Meßgerätefähigkeit, 95 Rundtisch - Anordnung, 94
Meßbedingungen, 16,23 Einflußgröße, 9 Vergieichsbedingungen, 13
Wiederholbedingungen, 13
Meßbereich, 10, 15, 66
Meßbeständigkeit, 11
Meßdraht, 37, 43
Meßeimichtung,14
Meßeinsätze, 70, 71
Messen, 8
Meßergebnis, 45 vollständiges, 49
Meßfähigkeit, 237
Meßgenauigkeit, 9
Meßgerät, 14 anzeigend, 62
Meßgerätedrift, 11
Meßgerätefähigkeit, 234
Meßgröße, 8
Meßgrößenaufnehmer, 14
Meßhütchen, 57
259
Meßkammer, Kamera für Photogrammetrie, 149
Meßkette, 10, 14
Meßkraft, 53, 69, 70
Meßkraftumkehrspanne, 70
Meßkreis, 52
Meßmethode, 12 analoge Meßmethode, 12 Ausschiagmeßmethode, 12 digitale Meßmethode, 12 direkte, 12 indirekte, 12 Nullabgleich - Meßmethode, 12 Unterschieds-Meßmethode, 12
Meßmikroskop, 124 Anwendung, 124 Aufbau, 125 Doppelbildokulare, 125 Meßunsicherheit, 125 Objektiv, 125 Okular, 125 photoelektrisch, 126 Vergrößerung, 125
Meßmittel, 8, 14
Meßobjekt, 1, 8
Meßokular, 125
260
Meßplatte, 42
Meßprinzip, 12
Meßprozeßeignung, 234
Meßpunktaufbereitung,131
Meßraum, 205 Beleuchtung, 210 Kennwerte, 206 Lage, 209 Lärm, 209 Luftführung, 208 Planung, 209 Reinraum, 209 relative Luftfeuchte, 207 Schwingungen, 207,208 Standort, 209 Wärmeabgabe des Menschen, 206
Meßschieber, 54, 66 digital,66
Meßschlitten, 42, 158, 161
Meßschneiden - Einrichtung, 125
Meßschraube, 67
Meßsignal, 13
Meßspanne, 15,66,68
Meßspitze, 57
Meßständer,56
Meßstation, 95
Meßsteuerung, 97
Meßsystem, 26 Fehlergrenze, 30 inkremental, 26, 137 Interpolation, 27
Meßtaster, digital, 75
Meßtisch, 42
Meßuhr,69
Messung, 8
Meßunsicherheit, 9, 47 durch Umgebung bedingt, 58 Ermittlungsverfahren A, 47, 49 Ermittlungsverfahren B, 49 Erweiterte, 49, 50 Erweiterungsfaktor, 49 Kalibrierkette, 227 Kombinierte, 50, 51
Stich wortverzeichnis
Meßunsicherheitsbudget, 50 Temperatureinfluß, 60 Vertrauensniveau, 49 vom Menschen verursacht, 58
Meßunsicherheitsbudget, 46, 47
Meßverfahren, 12 Absolut -, 13 analog, 12 digital, 12 inkremental, 12 Unterschieds-,13 Vergleichs-,13
Meßvorrichtung, 91 Bauelemente, 91, 92 Eigenschaften, 91 für wellenförmige Teile, 93 Handhabungsgerät, 95 Industrieroboter, 96
Meßwegumkehrspanne, 70
Meßwert, 9, 46
Meßwertaufnehmer, 57
Meßwertumkehrspanne, 69
Meßwesen, 7
Meßzeug,66 kennzeichnende Größen, 66
Meßzirkel, 52
Meterdefinition, 22 Laufzeit-, (heute gültig), 22 Strichmaß- (alt), 22 Wellenlängen- (alt), 22
MIC (Maximum Inscribed Circle), 165
Michelson- Interferometer, 104
Middle Third, 215
Mikro-Meter, 18
Mikrosystemtechnik, 247
Minimum - Bedingung, 155
Mittlere Profilsteigung, 172
Mittlere Rillenbreite, 171, 177, 182
MPE (Maximum Permissible Error), 137
MSA (Measurement Systems Analysis), 234
Mutter-Spindel-Winkelgeber, 137
MZC (Minimum Zone Circ1e), 165
Stichwortverzeichnis
N Nanomeßtechnik, 247
Auflösung, 247
Nano-Meter, 18
Nanometerbereich, 77
Neigungsmeßgerät, 38 induktiv, 160
Neuronales Netz, 202
Nonius, 66
Normal, 9, 23, 224, 225 Bezugs-, 10, 224 Gebrauchs-,lO Internationales, 9 Nationales, 9, 225 Primär-,9 Sekundär-,9
Normalverteilung, 47
Nurnmerungssystem, 231
o Oberfläche, 170
aperiodisch, 182 Beschädigungen, 170 Bezugsprofil, 173 Grundprofil, 173 Hüllprofil, 180 Istoberfläche, 170 Istprofil, 170, 171, 173, 180 Längsprofil, 171 Mittleres Profil, 173 Oberflächenmaße, 170 periodisch, 182 Querprofil, 171 Rauheitsprofil, 171 Rundkämmiges Profil, 174 Spitzkämmiges Profil, 174 Welligkeitsprofil, 171 wirkliche, 170
Oberflächendiagrarnm, Überhöhung, 172, 183, 184
Oberflächenmaße, 170 Arithmetischer Mittenrauhwert, 174 Bezugsdreiecke, 177 Bezugshaken, 177 Gemittelte Rauhtiefe, 173 Glättungstiefe, 173
Materialanteil, 175, 176, 177 Maximale Rauhtiefe, 173 Profiltiefe, 175 Umrechnungsfaktor, 175 Wellentiefe, 175
Oberflächenmeßgerät, 178 Filter, phasenkorrekt, 183 optisch, 178 Tastschnittverfahren, 179, 181,247
Oberflächenmessung, 170-179 Filterung, 172 Meßbedingungen, 172 PTB-Rauhnormal,185
261
Oberflächenprüfung, durch Sichtprüfung, 170
offline-Programmierung, 133
Okularstrichplatte, 159
Optische Achse, 158
Optoelektronischer Längenaufnehmer, 78 Laserscanner, 80 Laufzeitverfahren, 80 Lichtschnittverfahren, 199 Schattenbildverfahren, 79 Triangulationsverfahren, 82
Organisation, 5
OSIS (Optical Sensor Interface Standard), 246
p Parallaxe, 58
Parallelendmaß, 32 aus Hartmetall, 36 aus Keramik, 36 aus Stahl, 36 Genauigkeitsgrad, 34 in der Kalibrierkette, 224 Kalibriergrad, 35 Maßbildungsreihe, 33 Mittenmaß, 34 zulässige Abweichungen, 34
Parallelität, 168
Pendeltastsystem, 180
Pentagonprisma, 40
Pferchbedingung, 132
Pferchkreis, 156
Phasenlaufzeitmessung, 200
Phasenshift-Verfahren, 199
262
Photogrammetrie, 148
Physikalisch - Technische Bundesanstalt (PTB), 4,22-24,35-37,89,107,122,148,169,185, 186,217,224,225 Kalibriermöglichkeiten, 228
Pilgerschritt - Verfahren, 110
Planglasplatte, 33, 162
Planlauf, 168
Planparallele Glasplatte, 159
Planparalleles Glasprüfmaß, 162
Planspiegel, 160
Pneumatische Längenmessung, 84 Bohrungsmessung, 85 Düsendom, 85, 86 Düsenmeßbügel, 85 Düsenmeßring, 85 Eigenschaften, 87 Kontaktdorn, 85, 86 Pneumatischer Taster, 86 Prinzip, 84 Säulengerät, 86 Zeigergerät, 86
Polygonspiegel, 39
Positionsabweichung, 108
Positionsstreubreite, 108, 109
Positionsunsicherheit, 108
Postprozeß - Messung, 99
ppm (parts per million), 3
Profilprojektor, 124 Anwendung, 124 Messen im/am Bild, 124 Meßunsicherheit, 125 photoelektrisch, 126 Vergrößerung, 124
Profiltiefe, 171
Prozeß,213 beherrscht, 214 fähig, 214
Prozeßfähigkeit, 213, 214
Prozeßfähigkeitsindex, 214
Prozeßkette, 244
Prozeßsicherheit, 213
Prozeßüberwachung,3
Prüfautomat, 93 Checkliste, 95
Stichwortverzeichnis
Prüfdatenverarbeitung, 6
Prüfen, 11 maßlich, 11 nicht maßlich, 11
Prüfhäufigkeit, 220
Prüfmaß, für Flankendurchmesser, 120
Prüfmerkmal, geometrisch, 219
Prüfmittel, 14, 62
Prüfmittelplanung, 6
Prüfmittelüberwachung, 3 Checkliste zur, 223 DKD- Kalibrierschein, 230 Kalibriermöglichkeiten der PTB, 228 Meßunsicherheit, 228 Prüfmittelüberwachungskarte, 229 Vorgehensweise, 231
Prüfplanung, 5, 6 Neuplanungsprinzip, 221 Prüfmittelplanung, 220 Prüfplan, 218, 221 rechnerunterstützt, 221 Standardprüfplan, 221 Tätigkeiten, 217, 218 Variantenprinzip, 221
Prüfprozeßeignung, 234
Prüfschärfe, 220
Prüfscheibe, 43
Prüfstift, 37, 43
Prüfumfang, 220
Prüfung, 2-4,11 objektiv, 11 Selbst-,6 subjektiv, 11
Prüfvorrichtung, Handhabungseinrichtung, 96
Prüfwesen,7
Prüfzylinder, 40, 43
PTB (Physikalisch-Technische Bundesanstalt), 4,22-24,35-37,89,107,122,148,169,185, 186,217,224,225 Kalibriermöglichkeiten, 228
PTB-Rauhnormal,185
Pyramidalabweichung, 39
Stichwortverzeichnis
Q
QFD (Quality Function Deployment), 5, 243
QM (Qualitätsmanagementsystem), 2, 7
Qualitätsdaten, 211
Qualitätsplanung, 4, 6
Qualitätsregelkarte, 211, 212, 215 Eigenschaften, 212
Qualitätsregelung, 4
Qualitätssicherung, 7
Qualitätswesen, 7
Quality Function Deployment (QFD), 219
Quasi - Pilgerschritt - Verfahren, 110
R Radiant, 19
Rasterektronenmikroskop (REM), 246
Rasterkraftmikroskop, 247
Rauheit, 152, 170, 171
Rauheitsmessung, Ringversuch, 185
Rauhtiefe, 171-185 gemittelte, 171 Glättungstiefe, 171 maximale, 171 Mittenrauhwert, 171 Quadratischer Mittenrauhwert, 171
Rechteckverteilung, 50
Rechter Winkel, 40
Rechtwinkligkeitsmessung, mit AKF und Pen-taprisma, 161
Reduzierte Riefentiefe, 171
Reduzierte Spitzenhöhe, 171
Referenzbedingung, 10, 45
Referenzmarke, 30
Refraktometer, 106
Regelgeometrische Körper, 153
Regelkreis, 2, 4, 7 großer Qualitäts-, 4 kleiner Qualitäts-, 4
Reibung, 57
RGB (rot, gelb, blau), 246
Richtiger Wert, 9
Richtwaage, 161
Rillennormal, 184, 185
Ringvergleich, 13, 233, 234
Ringversuch, 13
RS 232C (Serielle Schnittstelle), 66
Rückführbarkeit, 4, 10, 223
Rückverfolgbarkeit, 4, 10
Run, 215
Rundheitsabweichung, 43
Rundheitsmeßgerät, 164, 168, 169 Aufbau, 164 Drehtisch, 164 Filterung, 165 Flicknormal, 169 Mehrwellennormal, 169
Rundheitsmessung, 163 Prisma, 163 Referenzkreis, 156, 164, 165
Rundlaufprüfung, 163
s Scanning, 141, 145
Schattenbildverfahren, 79 Meßmikroskop, 124 Profilprojektor, 124
Scheimpflug-Bedingung, 81
Schichtdicke, 246
Schweizer Kalibrierdienst (SCS), 4
Schwingungen, 138
SCS (Schweizer Kalibrierdienst), 4
Selbstprüfung, 6
Sensor, 14
Serielle Schnittstelle RS 232C, 66
SI (System International), 17, 18
Sicherheitsteil, 219
Sichtprüfer, Arbeitsplatz, 189
Sichtprüfung, 187, 188, 191-197, 203 Beleuchtung, 190 Beleuchtungsart, 190
263
264
Beleuchtungsstärke, 190 durch den Menschen, 187 Einflußgrößen, 203 Gedächtnis, 187 Gesichtssinn, 188 Kontrast, 190 Kontur, 196 kürzeste Sehentfernung, 189 Monotonie, 192 Muster, 187 Schattenbildverfahren, 191 Tiefensehen, 189
Sichtprüfung automatisch, Anwendung, 201
Sinuslineal, 41
Skalenanzeige, 68
Skalenteil (SkT), 68
Skalenteilungswert (Skw), 68
Sonderverteilungen, 50
Spanndraht, 158
SPC (Statistical Process Control), 212
Spiegelpolygon, 39
Spiel, 57, 69
Spitzenzahl, 172, 177
Standardunsicherheit, 47, 48, 50 Kombinierte, 46, 50, 51
Ständerbauart, 134
Stichprobenprüfung, 220
Störgrößen, 52
Streifenbruchteil, 122
Streulicht - Verfahren, 178
Strichkreisteilung, 38 codiert ( absolut), 38 inkremental, 38
Strichmarke, 25 Gabeleinfang, 25 Koinzidenz, 25 Überdeckung, 25
Strichmaß, Interpolieren, 20
Strichmaßstab, 25, 137 absoluter, 26 Abtasten im Auflicht, 27 Abtasten im Durchlicht, 27 Abtasten nach Moire- Verfahren, 28 inkrementaler, 26
Stroboskop, 193
Stufenendmaß, 37
Summenrnessung, 74
T Tangenslineal, 41
Tastelement, 139
Tasterkalibrierung, 143
Tastschnittgerät, 179
Stichwortverzeichnis
Bezugsflächentastsystem, 179 Freitastsystem, 179 Halbstarres Tastsystem, 180 Tastgeschwindigkeit, 181 Tastnadel, 181 Taststrecke, 181
Tastspitze, 57
Taststift, 139
Taylorscher Grundsatz, 64
teach-in-Verfahren, 142
Teilscheibe, 39
Teiltisch, 40
Teilungsperiode, 27
Temperatur, 59 Bezugstemperatur, 205
Theodolit, 149 zur Koordinatenrnessung, 149, 150
Thermischer Längenausdehnungskoeffizient, 51,58-60
Tiefennormal, 184
Tiefpaßfilter, 182
Toleranz, 16 Werkstück-, 214
Toleranzrahrnen, Form und Lage, 156
Toleranzzone, 154
TQM (Total Quality Management), 7
Trend, 11, 215
Triangulationsverfahren, 81
Tripelspiegel, 106
Tschebyscheff, 155 Ausgleichsrechnung nach, 132
u U-förmige Verteilung, 50
Stichwortverzeichnis
Überhöhung, 183
Überwachungsprüfung, von Prüfmitteln, 223
Umgebungsbedingungen, 205
Unrukehrspanne, 14,52,70,108,109
Umschlagmessung, 148, 168
Unabhängigkeitsprinzip, 153
Universalwinkelmesser, 38
Unterschiedsmessung, 34
Unterstützungspunkte, 54
Urmeter, 21
v Variablenprüfung, 215, 220
Verbiegung, 53
Verformung, durch Meßkraft, 56
Vergleichsbedingungen, 13
Vergleichsmeßverfahren, 13
Verstellbereich, 15
Vertrauensniveau, 49
Virtuelles KMG, 137, 148, 245
Virtuelle Lehrung, 66
Virtuelle Meßgeräte, 245, 246
Vollprüfung, 220
Volumendurchfluß, 84
w Wahrer Wert, 9, 46
Wareneingangsprüfung, 2
Wasserwaage, 161
WECC (Western European Calibration Coo-peration), 226, 228
Wellentiefe, 171
Welligkeit, 152, 170, 171
Werkstatt, Temperatur, 206
Werkstücklage, 132, 144
Wiederholbarkeit siehe Wiederholpräzision, 14, 52, 70
Wiederholbedingung, 13, 47
Wiederholgrenze, 14,70
Wiederholpräzision, 14,52,70
Winkel, 19, 23 Einzelteilung, 38 Raumwinkel, 20 Summenteilung, 38 Winkeleinheit
Altgrad,19 artileristischer Strich, 20 Gon, 20 Grad, 19 nautischer Strich, 20 Neugrad,20 Radiant, 19 Steradiant, 20 Vollwinkel, 19
Winkelcodierer,31
Winkelendmaß, 41
Winkellibelle, 38
Winkelmaß, 38, 41
Winkelmessung, Drehtisch, 40
Winkelnormal, 147 Spiegelpolygon, 39 Winkelendmaß, 39, 41
Winkelplatte, 40
Winkelspiegel, 40 Geradheitsinterferometer, 111
Winkelstrichrnaß, 38
265
Wollastonprisma, Geradheitsinterferometer , 111
Würfel, 44, 147
z Zählen, 12
Zahnstange - Ritzel-Winkelgeber , 137
Zeichnungsangaben, 170
Zerodur, 42
Zielmarke, 159
Ziffernanzeige, 68
Ziffernschritt (Zst), 68
Ziffernschrittwert (Zw), 68
Zwei - Kugel-Verfahren, 120
266
Zwei-Punkt-Messung, 163
Zweikufen - Tastsystem, 180
Zylinderform, 155
Zylinderformprüfgerät, Anwendung, 168
Zylinderformprüfung, 167
Stichwortverzeichnis
Grundlagen des Ingenieurstudiums
Teil 1: Bearbeitet von Hans-Ioachim Dreyer 9., durchges. Auf!. 2000. IX, 185 S. mit 265 Abb. u. 179 Aufg. Br. € 24,00 ISBN 3-519-26520-6 Teil 2: Bearbeitet von Hans-Joachim Dreyer 8., durchges. Auf!. 2000. XII, 389 S. mit 373 Abb., 147 Beisp. u. 179 Aufg. Br. € 32,00
ISBN 3-519-26521-4 Teil 3: Unter Mitarbeit von Dreyer, Hans-Joachimj Faiss, Helmut 7., durchges. Auf!. 1990. XII, 339 S., mit 298 Abb., 139 Beisp. u. to8 Aufg. Br. € 31,00
ISBN 3-519-16522-8
Hrsg. vom DIN Deutsches Institut für Normung e.V. Bearbeitet von Hans W. Geschke, Michael Heimetag, Wolfgang Wehr 23., neubearb. u. erw. Auf!. 1998. 340 S., mit 1803 Abb., tol Tab., 99 Beisp. u. 359 Übungsaufg. Geb. € 23,00 ISBN 3-519-36725-4
Hrsg. vom DIN Deutsches Institut für Normung e.v. Bearbeitet von P. Kiehl, I. Wende, D. Machert, H.P. Grode, W. Goethe, A. Wehrstedt, F. Zentner, E. Liess, N. Breutmann 13., vollst. überarb u. erw. Auf!. 2001. 1208 S., mit 2279 Abb., 793 Tab. u. 391 Beisp. Geb. € 69,00 ISBN 3-519-26301-7
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