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Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 1
Einführung in die patentstatistische Analyse
Eine Übersicht zu den Möglichkeiten mit praktischen Beispielen
Dr. Wolfgang Ziegler
Patentinformationsstelle der FSU
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 2
Vortragsübersicht
• Gewerbliche Schutzrechte• Das Patent
Rechtliche Hintergründe der PatentanmeldungInternationaler SchutzKosten
• Statistisch verwertbare Daten aus PatentschriftenAufbau einer PatentschriftRecherche Hilfsmittel
• PatentdatenbankenINTERNETCDROMHosts (STN, DIALOG, u.a)
• Beispielrecherchen
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 3
Perspektiven
Hat das Patentsystem eine Zukunft?
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 4
Wirtschaft des Wissens: Quelle der Werte
62%
38%
1982
15%
85%
1998(2)
38%
62%
1992(1)
immateriell
materiell
Die Quelle der Werte der Unternehmen hat sich von den materiellenzu Gunsten der immateriellen Werte verschoben...
Quelle: Balanced Scorecard European Summit 22 May 2001. David P. Norton1. Brookings Institute 2. Baruch Lev analysis of S&P500 companies
Quelle der Vorlage:François Knauer, Direktor, EPA,MünchenVortrag Frankfurt am Main 6. Juni 2002
Perspektiven des e-Business mit dem Europäischen Patentamt
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 5
Die Tauschnetze in Laufe der Zeit
19. Jhd 20. Jhd 21. Jhd18. Jhd
Immateriell
Materiell
AustauschAgrargüter
AustauschIndustriegüter
Wissens-austausch
BahnStrassen
Telefon
Internet
Mobilfunk
GR
Wege
Quelle der Vorlage:François Knauer, Direktor, EPA,MünchenVortrag Frankfurt am Main 6. Juni 2002
Perspektiven des e-Business mit dem Europäischen Patentamt
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 6
• Lucent :• 200 Mio Dollar/Jahr Lizenzeinkommen• 1000 Patentanmeldungen pro Jahr
• Thomson Multimedia :• 200 Mio Dollar/Jahr Lizenzeinkommen• 70 Patentanmeldungen pro Jahr
• IBM• 1,000 Mio Dollar/ Jahr Lizenzeinkommen 1600
Patentanmeldungen pro Jahr
Die Wirtschaft des Wissens: einige Beispiele von Lizenzerträgen
Quelle der Vorlage:François Knauer, Direktor, EPA,MünchenVortrag Frankfurt am Main 6. Juni 2002
Perspektiven des e-Business mit dem Europäischen Patentamt
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 7
Dr. Wlfgang Ziegler Patentworkshop 22.-23.10.2002
Gewerbliche Schutzrechte (Patente, Marken, Design)
•Gewerbliche Schutzrechte
Patente,Gebrauchsmuster,Marken,Geschmacksmuster
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 8
Gewerbliche Schutzrechte (Patente, Marken, Design)
Die teuersten Marken der Welt...Quelle: BIZZ 5(1999) 14
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 9
Gewerbliche Schutzrechte (Patente, Marken, Design)
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 10
Gewerbliche Schutzrechte (Patente, Marken, Design)
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 11
Gewerbliche Schutzrechte (Patente, Marken, Design)
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 12
Rechtliche Hintergründe der Patentierung
Rechtliche Hintergründe der PatentanmeldungEinzelne Patentgesetze der Länderz. B. http://www.patentgesetz.de/
§ 1 PatG(1) Patente werden für Erfindungen erteilt, die neu sind, auf einer erfinderischen Tätigkeit
beruhen und gewerblich anwendbar sind.
http://www.patentgesetz.de
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Rechtliche Hintergründe der Patentierung
•§ 9 PatG - Wirkung des Patents:
Das Patent hat die Wirkung, daß allein der Patentinhaber befugt ist, die patentierte Erfindung zu benutzen. Jedem Dritten ist es verboten, ohne seine Zustimmung
1.ein Erzeugnis, das Gegenstand des Patents ist, herzustellen, anzubieten, in Verkehr zu bringen oder zu gebrauchen oder zu den genannten Zwecken entweder einzuführen oder zu besitzen;
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 14
Rechtliche Hintergründe der Patentierung
•§ 14 PatG - Schutzbereich
Der Schutzbereich des Patents und der Patentanmeldung wird durch den Inhalt der Patentansprüche bestimmt. Die Beschreibung und die Zeichnungen sind jedoch zur
Auslegung der Patentansprüche heranzuziehen.
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 15
Rechtliche Hintergründe der Patentierung
•§ 16 PatG - Patentdauer..
(1) Das Patent dauert zwanzig Jahre, die mit dem Tag beginnen, der auf die Anmeldung
der Erfindung folgt.
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 16
Rechtliche Hintergründe der Patentierung
•§ 17 PatG - Jahresgebühren
(1) Für jede Anmeldung und jedes Patent ist für das dritte und jedes folgende Jahr, gerechnet vom Anmeldetag an, eine Jahresgebühr
zu entrichten.
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 17
Rechtliche Hintergründe der Patentierung
• § 140 a PatG - Anspruch auf Vernichtung patentverletzender Erzeugnisse und Vorrichtungen
• § 142 PatG - Strafen
(1) Mit Freiheitsstrafe bis zu drei Jahren oder mit Geldstrafe wird bestraft, wer ohne die
erforderliche Zustimmung des Patentinhabers .....
1.ein Erzeugnis, das Gegenstand des Patents ..... herstellt oder anbietet, in Verkehr bringt, gebraucht oder zu einem der genannten Zwecke entweder einführt oder besitzt
oder 2.ein Verfahren, das Gegenstand des Patents ...
anwendet oder zur Anwendung im Geltungsbereich dieses Gesetzes anbietet.
§ 142a PatG - Beschlagnahme und Einziehung durch Zollbehörde
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Rechtliche Hintergründe der Patentierung
Internationaler Schutz
Viele nationale PatentanmeldungenAnmeldung nach EPÜAnmeldung nach PCT
Patentfamilie
Alle zu einer Erfindung gehörendenPatentanmeldungen
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Patentierungskosten
Kosten
1. Der kleinste AuslandsschutzAnfangskosten: ca. 7.500 € Folgekosten: ca. 4.000 €
2. Der übliche AuslandsschutzAnfangskosten: ca. 7.500 bis 13.500 € Folgekosten: ca. 8.000 bis 11.000 €
3. Ein breiter AuslandsschutzAnfangskosten: ca. 25.000 bis 35.000 € Folgekosten: ca. 20.000 bis 30.000 €
Quelle: H. B. Cohausz; Patente und Muster :Wila Verlag München 1995
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Verfahrenswege einer deutschen Erstanmeldung
Direkte Auslandsanmeldung bei nationalen Patentämtern
Europäische und internationale Anmeldung bei internationalen Organisationen
DPA
USPTO
JPO
etc.
BPO(GB)
INPI(FR)
etc.
DPA
EPAINPI(FR)
etc.
etc.
BPO(GB)
JPO
USPTO
WIPO(PCT)
Nationale nicht-europäische Patentämter
Nationale europäische Patentämter
Es gibt verschiedene Möglichkeiten, internationalen Schutz zu erlangen.
[Quelle: Schmorch, Ulrich; Wettbewerbsvorsprung durch Patentinformation, 1990]
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Die Patentfamilie
• Familienrecherche: Familie zu einem Patent (1)
=> SEARCH DE19501196/PNL3 1 DE19501196/PN
=> DISPLAY IFACCM L3 ANSWER 1 OF 1 INPADOC COPYRIGHT 1998 EPO PRIORITY APPLN. INFO.: 1: DE 95-19501196 950117 PATENT INFORMATION APPLICATION INFORMATION(1) DE 19501196 C1 960523 DE 95-19501196 A 950117(2) WO 9622522 A1 960725 WO 96-EP10 A 960104(3) EP 804724 A1 971105 EP 96-900558 A 960104(4) JP 10502739 T2 980310 JP 96-521992 A 960104(5) EP 804724 B1 980805 EP 96-900558 A 960104(6) AT 169407 E 980815 AT 96-900558 EP 960104 PRIORITY APPLN. INFO.: 2: WO 96-EP10 960104 6 members, 2 priorities, 5 countries
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 22
Einführung in die patentstatistische Analyse (Voraussetzungen)
• Gesetzeslage zwingt zur raschen Anmeldung neuer Lösungen
• Die alternative Geheimhaltung der Erfindung ist selten möglich
• Zielländer sind Sitz der Mitbewerber oder potenzielle Märkte
• Patent ist früher Indikator für Innovationen• Durch das Patentverfahren Datenwichtung
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 23
Dokumentenarten
Welche Patentschriften gibt es?
Beispiel EPAA DokumenteEuropäische Patentschriften, die 18 Monate nach Anmeldung beim EPA oder 18 Monate nach Erstanmeldung veröffentlicht werden.A1 Dokument - Offenlegungsschrift mit RechercheberichtA2 Dokument - Offenlegungsschrift ohne RechercheberichtA3 Dokument - Recherchebericht ohne Offenlegungsschrift
eine vollständige Liste enthält
http://www.depatisnet.de
Hilfe / Allgemeine Hilfe
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Einführung in die patentstatistische Analyse (Daten)
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 25
Aufbau einer Patentschrift
INID-Code (1)
Eine Hilfe zur Orientierung in den Patentschriften
INID-Code (Internationally agreed Numbers for the Identification of Data)
auf allen Patentschriften der PCT-Länder durch den Code können alle Angaben sofort zugeordnet werden -
unabhängig von der Sprache der Patentschrift
INID-Code setzt sich zusammen aus:Kategorie-Codes [(10), (20), (30 ) etc.]einzelnen INID-Codes [(11), (12), ... (21), (22) etc.]
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 26
Aufbau einer Patentschrift
INID-Code (2)Auszug
(10) Bezeichnung des Patents, des Ergänzenden Schutzzertifikats oder des Patentdokuments(20) Inländische Anmeldedaten(30) Prioritätsdaten gemäß Pariser Verbandsübereinkunft(31) Prioritätsaktenzeichen(32) Anmeldedatum der Prioritätsanmeldung(40) Daten zur Veröffentlichung(43) Datum der Veröffentlichung ... eines ungeprüften Patentdokuments (Offenlegung)(45) Datum der Veröffentlichung ... eines Patentdokuments, für das ein Schutzrecht ... erteilt wurde(50) Technische Angaben(51) Internationale Patentklassifikation(52) Eigene oder nationale Klassifikation(55) Schlagwörter(57) Zusammenfassung oder Anspruch(58) Recherchegebiet
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 27
Aufbau einer Patentschrift
INID-Code 3Auszug(10) Bezeichnung des Patents, des Ergänzenden Schutzzertifikats oder des Patentdokuments
(20) Inländische Anmeldedaten(30) Prioritätsdaten gemäß Pariser Verbandsübereinkunft(31) Prioritätsaktenzeichen(32) Anmeldedatum der Prioritätsanmeldung(40) Daten zur Veröffentlichung(43) Datum der Veröffentlichung ... eines ungeprüften Patentdokuments (Offenlegung)(45) Datum der Veröffentlichung ... eines Patentdokuments, für das ein Schutzrecht ... erteilt wurde(50) Technische Angaben(51) Internationale Patentklassifikation(52) Eigene oder nationale Klassifikation(55) Schlagwörter(57) Zusammenfassung oder Anspruch(58) Recherchegebiet
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 28
Patentstatistische Analyse
19771983
1989
1995
BAS
F AG
DU
PO
NT
PRO
CTE
R &
GAM
BLE
TEIJ
IN L
TD
0102030
40
50
60
70
BASF AG
BAYER AG
BELOIT CORP
CIBA GEIGY AG
DU PONT
HOECHST AG
MINNESOTAMINING & MFGPICANOL NV
PROCTER &GAMBLERIETER AGMASCHFRUETI AGMASCHFSULZER AG
TEIJIN LTD
TORAYINDUSTRIESVOITH GMBH J M[Quelle: Siems, Klaus-Dieter;Patent Analysis: New On-Line Features on STN International
EPIDOS Annual Conference, Jena, October 1998]
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 29
Patentstatistische Analyse
Die Patent-Analyse eines Unternehmens
1971
1975
1977
1979
1981
1983
1985
1987
1989
1991
1993
1995
B05C
B41F
B65H
G01N
G03B
G03G
H01L
0
50
100
150
200
250
Priority Year FirstIPC Main
Applications in Japan by DaiNippon Screen Manufact.
B05C
B08B
B41C
B41F
B41J
B65G
B65H
C23F
G01B
G01N
G02B
G02F
G03B
G03D
G03F
G03G
G06F
G06T
H01L
H04N
[Quelle: Siems, Klaus-Dieter;Patent Analysis: New On-Line Features on STN InternationalEPIDOS Annual Conference, Jena, October 1998]
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 30
Patentstatistische Analyse (Regionalstatistik)
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 31
Patentstatistische Analyse (Regionalstatistik)
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 32
Patentrecherchen im INTERNET
Wichtige gebührenfreie INTERNET-Datenbanken:
http://www.depatisnet.dehttp://ep.espacenet.com/
Unter http://www.uspto.gov/http://164.195.100.11/netahtml/search-bool.htmlhttp://appft1.uspto.gov/netahtml/PTO/search-bool.html
http://www.depatisnet.dehttp://ep.espacenet.com/
Unter http://www.uspto.gov/http://164.195.100.11/netahtml/search-bool.htmlhttp://appft1.uspto.gov/netahtml/PTO/search-bool.html
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INTERNET-Datenbanken DPMA
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 34
INTERNET-Datenbanken EPA
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 35
INTERNET-Datenbanken USA
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 36
Gewerbliche Schutzrechte (Patente, Marken, Design)
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 37
Einführung in die patentstatistische Analyse (Datenbanken)
Die wichtigsten Patentdatenbanken (1)
DB-Name Host Geogr.Abdeckung
Dokumente Zeitbereich Sprachen
CA STN u.a. Internat. 14,1 Mio ab 1967 enDPCI Dialog, STN Internat. 5,3 Mio ab 1994
(1978)en
ECLATX Questel Europa 100.000 aktuell de, en, frEDOC Questel Internat. 24 Mio ab 1877 -EUROPATFULL Dialog, STN Europa 125.000 ab 1996 de, en, frFPAT Questel Frankreich 1,3 Mio ab 1966 frIFIPAT Dialog, Orbit,
STNUSA 2,9 Mio ab 1950 en
IFIREF Dialog,Orbit, STN
USA 191.000 aktuell en
INPADOC Dialog,Orbit, STN
Internat. 27 Mio ab 1968 original
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 38
Einführung in die patentstatistische Analyse (Datenbanken)
Die wichtigsten Patentdatenbanken (2)DB-Name Host Geogr.
AbdeckungDokumente Zeitbereich Sprachen
JAPIO Questel, Orbit,STN, Japio
Japan 5,6 Mio ab 1976 en
PATDD STN DDR 119.395 ab 1981 dePATDPA STN Deutschland 2,73 Mio ab 1968 dePATIPC STN u.a. Internat. 65.000 aktuell +
ält. Versionde, en, fr
PATOLIS Japio Japan 17 Mio ab 1955 jpPATOSDE STN Deutschland 1,64 Mio ab 1968 dePATOSEP STN, Questel
(EPAT)Europa 808.000 ab 1978 de, en, fr
PATOSWO STN, Questel Internat. 290.000 ab 1983 enUSPATFULL Dialog, STN,
QuestelUSA 2,2 Mio
(Volltext-Dok.)ab 1972 en
WPI Dialog, Orbit,STN, Questel
Internat. 8,33 Mio ab 1963 en
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Einführung in die patentstatistische Analyse
Geografische Abdeckung der Datenbank „World Patent Index“
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 40
Einführung in die patentstatistische Analyse
Geografische Abdeckung der Datenbank „Inpadoc“
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 41
Einführung in die patentstatistische Analyse
Analyse der im Europäischen Patentamt erteilten Patente in Analyse der im Europäischen Patentamt erteilten Patente in der IPC (Int. Pat. Klass.) Sektion D (Textilien;Papier)der IPC (Int. Pat. Klass.) Sektion D (Textilien;Papier)
=> FILE INPADOC=> SEARCH D!!!/ICM AND EPB1/PK 652507 D!!!/ICM 429968 EPB1/PKL1 10207 D!!!/ICM AND EPB1/PK
=> ANALYZE L1 1- ICM LEN4 PAS LEN25 AMO LEN2 PMO LEN2 PRYFANALYZE IS APPROXIMATELY 4% COMPLETE...ANALYZE IS APPROXIMATELY 99% COMPLETEL2 ANALYZE L1 1- ICM PAS AMO PMO PRYF LEN 4 25 2 2: 2905 TERMS
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L2 ANALYZE L1 1- ICM PAS AMO PMO PRYF LEN 4 25 2 2: 2905 TERMS
TERM # # OCC # DOC % DOC ICM PAS AMO PMO PRYF------ ------- ------ ------ --------------- 61 333 333 3.26 RIETER AG MASCHF 62 315 315 3.09 DU PONT 68 167 167 1.64 HOECHST AG 72 152 152 1.49 CIBA GEIGY AG 75 129 129 1.26 BAYER AG 77 117 117 1.15 SULZER AG 80 111 111 1.09 TORAY INDUSTRIES 81 108 108 1.06 BASF AG 84 99 99 0.97 PICANOL NV 85 92 92 0.90 TEIJIN LTD 86 84 84 0.82 VOITH GMBH J M 87 79 79 0.77 MINNESOTA MINING & MFG 90 76 76 0.74 BELOIT CORP 91 71 71 0.70 RUETI AG MASCHF 92 70 70 0.69 PROCTER & GAMBLE 93 66 66 0.65 VALMET PAPER MACHINERY IN 94 63 63 0.62 KIMBERLY CLARK CO 95 63 63 0.62 TSUDAKOMA IND CO LTD 97 61 61 0.60 ZANUSSI A SPA INDUSTRIE 98 58 58 0.57 HENKEL KGAA
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 43
Einführung in die patentstatistische Analyse
PRYF --------------------------------------------PAS 1977 1978 1979 1980 1981 1982 1983 1984 1985------------------------- ---- ---- ---- ---- ---- ---- ---- ---- ----RIETER AG MASCHF 1 6 12 12 12 9 16 16 15DU PONT 1 2 0 9 10 14 9 16 16HOECHST AG 0 4 24 15 14 11 9 5 12CIBA GEIGY AG 0 0 11 6 10 13 10 14 11BAYER AG 4 8 16 17 15 11 9 8 6SULZER AG 0 1 8 8 6 12 6 12 20TORAY INDUSTRIES 0 3 5 10 10 19 9 11 11BASF AG 1 2 12 4 7 8 3 6 9PICANOL NV 0 0 0 0 0 0 0 4 10TEIJIN LTD 0 3 7 14 3 5 7 10 8VOITH GMBH J M 0 0 0 2 3 1 2 3 1.... PRYF --------------------------------------------PAS 1986 1987 1988 1989 1990 1991 1992 1993 1994------------------------- ---- ---- ---- ---- ---- ---- ---- ---- ----RIETER AG MASCHF 9 21 52 61 42 16 16 14 3DU PONT 25 11 40 42 45 27 26 19 3HOECHST AG 4 6 11 11 11 11 12 7 0CIBA GEIGY AG 11 10 5 5 20 10 15 1 0BAYER AG 7 8 4 6 2 1 5 1 1....
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 44
Einführung in die patentstatistische Analyse
• Erstellen einer PIVOT TabelleErstellen einer PIVOT TabelleSumme - 1 PRYFPAS 1977 1978 1979 1980 1981 1982 1983 1984 1985 1986 1987 1988 1989 1990 1991 1992 1993 1994 1995 GesamtergebnisBASF AG 1 2 12 4 7 8 3 6 9 6 9 3 7 4 5 15 4 1 2 108BAYER AG 4 8 16 17 15 11 9 8 6 7 8 4 6 2 1 5 1 1 0 129BELOIT CORP 0 0 0 2 3 1 5 5 4 16 10 15 14 1 0 0 0 0 0 76CIBA GEIGY AG 0 0 11 6 10 13 10 14 11 11 10 5 5 20 10 15 1 0 0 152DU PONT 1 2 0 9 10 14 9 16 16 25 11 40 42 45 27 26 19 3 0 315HOECHST AG 0 4 24 15 14 11 9 5 12 4 6 11 11 11 11 12 7 0 0 167MINNESOTA MINING & MFG 0 0 1 3 2 5 3 4 1 6 7 6 6 4 15 6 10 0 0 79PICANOL NV 0 0 0 0 0 0 0 4 10 16 26 10 6 6 4 10 4 2 1 99PROCTER & GAMBLE 1 0 4 2 3 1 3 2 2 3 6 10 7 8 6 6 4 2 0 70RIETER AG MASCHF 0 6 12 12 12 9 16 16 15 9 21 52 61 42 16 16 14 3 0 332RUETI AG MASCHF 0 2 1 0 0 5 11 3 0 0 0 1 6 10 11 10 11 0 0 71SULZER AG 0 1 8 8 6 12 6 12 20 14 9 13 8 0 0 0 0 0 0 117TEIJIN LTD 0 3 7 14 3 5 7 10 8 4 5 8 4 4 3 5 2 0 0 92TORAY INDUSTRIES 0 3 5 10 10 19 9 11 11 4 6 9 5 5 1 3 0 0 0 111VOITH GMBH J M 0 0 0 2 3 1 2 3 1 4 7 4 7 6 14 13 17 0 0 84Gesamtergebnis 7 31 101 104 98 115 102 119 126 129 141 191 195 168 124 142 94 12 3 2002
Dr. Wolfgang Ziegler Patentworkshop 16.-17.10.2003 45
Herzlichen Dank für die Aufmerksamkeit
Sollten Sie später noch Fragen haben unsere Adresse:
Friedrich-Schiller-Universität JenaPatentinformationsstelle
Kahlaische Straße 107745 Jena
Tel.: 03641 947020Fax: 03641 947022
Email: [email protected]