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ElEctronic Packaging & SyStEm intEgration
F R A U N H O F E R - I N S T I T U T F Ü R Z U v E R l ä S S I g k E I T U N d M I k R O I N T E g R AT I O N I Z M
2 I 3
Unsichtbar – aber Unverzichtbar
Am Fraunhofer IZM wird entwickelt, was nahezu unsichtbar
ist und von vielen unterschätzt wird: Aufbau- und Verbin-
dungstechnik, auch Electronic Packaging genannt. Sie ist das
Herzstück jeder Elektronikanwendung. Unsere Technologien
verbinden die einzelnen Komponenten, schützen vor Vibration
oder Feuchte und leiten die Wärme zuverlässig ab. Damit
sorgen sie dafür, dass Elektronik auch bei widrigsten Umge-
bungsbedingungen zuverlässig funktioniert: Wir integrieren
Elektronik selbst in Golfbälle.
Moderne Packaging-Technologien sorgen dafür, dass Produkte
immer kleiner werden können. Wir verarbeiten ICs, die dünner
sind als ein Blatt Papier. Damit ist es möglich, die gesamte Elek-
Me d i z inWeltkleinste Mikrokamera für
Endoskope: 1 × 1 × 1 mm3
Photonik
aUtoMotive
High Brightness LEDs für intelligen-te, energieeffiziente Beleuchtung
Drahtlose Handy-Ladeeinrichtung für die Mittelkonsole
elektronik ist aus dem täglichen Leben nicht mehr
wegzudenken. Immer mehr Produkte enthalten Senso-
ren, die wie die Sinnesorgane beim Menschen Signale
aus der Umwelt aufnehmen. Diese Signale werden dann
elektronisch aufbereitet und dem Nutzer wie bei Naviga-
tionsgeräten grafisch dargestellt oder an technische
Prozesse etwa zur Steuerung einer Heizung weitergelei-
tet. Von der dahinter stehenden ausgeklügelten Elektro-
nik merkt der Nutzer fast nichts, denn die Elektronik
verschmilzt immer mehr mit dem Produkt. Damit dies
möglich ist, muss sie extrem miniaturisiert, robust und
langlebig sein – außerordentliche Eigenschaften, die sich
das Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikroin-
tegration IZM in den eigenen Namen geschrieben hat.
tronik eines Hörgerätes dezent im Ohr verschwinden zu lassen.
Auch arbeiten wir daran, die Herstellungskosten für komplexe
Elektroniken weiter zu senken. Mit Partnern aus der Industrie
wird z.B. die nächste Generation von Radarsensoren für
Fah rerassistenzsysteme so günstig aufgebaut, dass auch
Mittelklassefahrzeuge davon profitieren. Doch was wäre die
Unterstützung durch Elektronik, wenn diese nicht zuverlässig
funktio niert? Wir forschen, damit Elektronik zuverlässiger
wird und unsere Kunden sichere Aussagen zur Haltbarkeit der
Elektronik treffen können. Wir testen Elektronik auf unseren
Anlagen unter realitätsnahen Einsatzbedingungen.
Wir machen Elektronik fit für die Anwendung.
energieSehr schnell schaltendes Modul für Solar-Wechselrichter
indUstr ieeLektronikIntegration ultradünner Chips in Sicherheits dokumenten
haLbLe iter & sensoren Chipstapel durch Flip-Chip-Bonding
4 I 5
aLLes zwischen wafer Und systeM
Integration auf Waferebene
Mit diesem Ansatz lassen sich bei heterogenen Aufbauten die
höchsten Integrationsdichten erreichen. Alle Prozessschritte
werden auf Waferebene, jedoch nach Abschluss der eigent-
lichen Front-End-Prozesse durchgeführt. Entwickelt werden
Packages, deren laterale Größe mit den Chipabmessungen
nahezu identisch ist. Auch werden auf dem Wafer weitere
aktive oder passive Komponenten in Zwischenschichten
integriert. Noch höhere Integrationsdichten lassen sich bei
der 3D-Integration mit der Siliziumdurchkontaktierung (TSV)
erreichen.
Systemdesign
Bei hochintegrierten Systemen kann das Design nicht mehr
unabhängig von der Technologie und die Technologieentwick-
lung nicht mehr losgelöst vom elektrischen Verhalten erfolgen.
Mit Co-Design wird hier die Zusammenarbeit von Technologie
und Design beschrieben. Im Mittelpunkt stehen dabei Model-
lierungs-, Simulations- und Analysetechniken in Verbindung
mit dem Einsatz von neuen elektrischen Messverfahren. Der
Schwerpunkt der Tätigkeiten umfasst EMV- und HF-Aspekte
(parasitäre Effekte). Gleichzeitig wird im Design aber auch die
Brücke zum aufnehmenden System geschlagen.
design UMverdrahtUng siLiziUM-vias (tsv) bUMPing
siMULation
integration
von Passiven
einbetten von
dünnchiPs vere inzeLUng
Thermomechanische Simulation eines Vias
AuSn-gebumpter GaAs-Wafer, Pitch 55 µm, Durchmesser 35 µm, Höhe 30 µm
Integration auf Substratebene
Getrieben durch die Nachfrage nach leistungsfähigen, aber
preiswerten Lösungen werden auf Basis etablierter Technologi-
en erweiterte Funktionalitäten auch auf der Package- oder
Modulebene integriert. So können mehrere Komponenten in
einem Package (System in Package – SiP) integriert werden.
Mehrere Packages können dreidimensional (Package on
Package) gestapelt werden. Zunehmend ist die Verwendung
dieser Technologien auch auf Leiterplattenebene zu beob-
achten. Eine neue Aufbauform ist dort das Einbetten unge-
häuster Bauelemente in das Substrat. Zukünftig wird die
Integration optischer Funktionen hinzukommen.
Materialien, Zuverlässigkeit und
nachhaltiges Entwickeln
Auf der Grundlage von Modellen zum Materialverhalten und
zur mechanischen Zuverlässigkeit werden Zuverlässigkeits-
bewertungen von Materialien bis hin zu Systemen durch-
geführt. Dabei kommen neben Simulationsverfahren auch
laseroptische, röntgenographische und werkstoffkundliche
Untersuchungen einzeln und in Kombination zur Anwendung.
Umwelt- und Nachhaltigkeitsfragen werden bereits in der
Entwicklungsphase geklärt und Fragen des Materialver-
brauchs, des Energiebedarfs oder des Toxizitätspotenzials der
eingesetzten Materialien rechtzeitig geklärt.
einbetten aUfbaU zUverLässigkeitoPtische koPPLUng
chiPverb indUng verkaPseLUng
ProdUkt-
integrat ion
QUaL if ikat ion
Und test
Kombinierter Belastungstest (Vibration, Feuchte, Temperatur)
Verschiedene Aufbau- und Verbindungstechniken auf einem multifunktionalen Board
Mit unseren technologien schlagen wir die Brücke
zwischen der Mikroelektronik und der Mikrosystem-
technik auf der einen Seite und deren Anwendung
auf der anderen Seite. Unsere Arbeiten beginnen auf
dem Wafer und enden, wenn die zuverlässige Funktion
gleich in welcher Umgebung sichergestellt ist.
6 I 7
wafer LeveL systeM integration
Oswin EhrmannTelefon: +49 30 46403 - 124 [email protected]. Jürgen WolfTelefon: +49 30 46403 - 606 +49 351 795572 - 12 [email protected]
Standort Berlin
Entwicklung und Anwendung von Dünnfilmprozessen für
die Wafer-Level-Systemintegration auf 200 mm Wafern u. a.
Umverdrahtung für Chip Size Packages (CSP), Thin Chip Inte-
gration (TCI), Interposer mit Mehrlagenverdrahtung und
Durchkontaktierungen (TSV), Integration passiver Kom-
ponenten, System-in-Packages (WL-SiP), sowie integrierte
miniaturisierte Energieversorgung.
Entwicklung und Realisierung von Prototypen und Kleinserien-
fertigung von CSPs, integrierten passiven Devices (IPDs) und
heterogenen 3D Systemen. Prozess- und Materialevaluierung
für die Dünnfilmtechnologie sowie kundenspezifische Prozess-
anpassung und Technologietransfer.
Standort dresden / Moritzburg (ASSId)
3D-Wafer-Level-Systemintegration auf der Basis einer indus -
triekompatiblen, hochmodernen 300 mm-Prozesslinie für
die TSV-Formierung (Trockenätzen, Isolations- und Barriere-
abscheidung, Kupfermetallisierung), Post-TSV-Prozessierung,
Pre-Assembly, Waferdünnen und Wafer Level Assembly.
Prozess- und Materialevaluierung und Qualifikation unter
fer tigungsnahen Randbedingungen. Prototypen- und Klein-
serienfertigung kundenspezifischer TSV-Interposer und
stacked 3D ICs / Systems-in-Package.
dienstleistungen
• Dünnfilmumverdrahtung (Cu-RDL) auf aktiven IC-Wafern
• Siliziumdurchkontaktierung (Cu-TSV)
• Silizium-Interposer mit TSV und Cu-Mehrlagenverdrahtung
• Passive Device Integration (R, L, C)
• BEOL-Metallisierung
• UBM Deposition für Flip-Chip-Kontakte
• Wafer Bumping (ECD: Cu, Ni, Au, AuSn, CuSn, SnAg, In)
• Waferballing mit Solder-Preforms
• Pre-Assembly und Waferdünnen
• Temporäres Waferbonden und De-Bonden
• Die-to-Wafer- und Wafer-to-Wafer-Bonden
• 3D Stack Formation
• Dicing by Grinding (DBG)
• Integrierte Energieversorgung auf Waferebene
• Anwendungsspezifische 3D WL-SiP, CSP, TCI Prototypen- und
Kleinserienfertigung
• Training und Schulungen zur Dünnfilmtechnologie
kernkoMPetenzen
systeMintegration aUf waferebene
systeM integration &
interconnection technoLogies
Rolf AschenbrennerTelefon: +49 30 46403 - 164 [email protected]. dr.- Ing. Martin Schneider-RamelowTelefon: +49 30 46403 - 172 [email protected]
Das Leistungsspektrum der Abteilung Systemintegration und
Verbindungstechnologien (SIIT) mit ihren ca. 150 Mitarbeitern
reicht von der Beratung über Prozessentwicklungen bis hin zu
technologischen Systemlösungen. Dabei stehen die Entwick-
lung von Prozessen und Materialien für Verbindungstechniken
auf Board-, Modul- und Package-Ebene sowie die Integration
elektrischer, optischer und leistungselektronischer Komponen-
ten und Systeme im Vordergrund.
Wir unterstützen Unternehmen sowohl bei ihrer anwen-
dungsorientierten vorwettbewerblichen Forschung als auch
bei Prototypenentwicklung und Kleinserienfertigung. Unser
Angebot beinhaltet Anwendungsberatung, Technologie-
transfer und Mitarbeiterqualifikation durch praxisorientierte
Weiterbildungen.
dienstleistungen
•Neue Materialien fur das Packaging:
Lote, Drahte, Bumps, Klebstoffe und Vergussmassen
•Bumpingtechniken (stromloses Ni / (Pd) / Au, Schablonen-
druck, mechanisches Stud- oder Ball-Bumping)
•SMD, CSP, BGA, POP und Bare-Die-Prazisionsbestückung
•Flip-Chip-Techniken (Loten, Sintern, Kleben, Thermokom-
pression-und Thermosonic-Bonden) Die-Attach (Löten,
Sintern und Kleben)
•Draht- und Bändchen-Bonden (Ball / Wedge, Wedge / Wedge,
Dickdraht und Bändchen)
•Flip-Chip-Underfilling und COB-Glob-Topping
•Transfer-Molding von Sensorpackages und Leistungs-
modulen auf Leadframe
•Wafer Level & Panel Level Molding bis zu 600 × 450 mm2
•Potting und Schutzlackierungen
•Einbetten von Chips und Komponenten
•Faserkopplung und optische Verbindung zu planaren
Wellenleitern, Faserlinsen und Laserfügen
•Dünnglas- und Silizium-Photonik-Packaging
•Leistungselektronik: elektrischer / elektromagnetischer /
thermischer / thermomechanischer Entwurf, Bauteilauswahl,
Prototypenfertigung
integration aUf sUbstratebene
8 I 9
environMentaL and
reLiabiLity engineering
dr.- Ing. Nils F. NissenTelefon: +49 30 46403 - 130 [email protected] dr.- Ing. Olaf WittlerTelefon: +49 30 46403 - 200 [email protected]
Ermittlung und Minimierung von Umweltbelastungen unter
Berücksichtigung technologischer Entwicklungen und von
Zuverlässigkeitsaspekten. Ökodesign von Produkten und
Entwicklung grüner Technologien in der Elektronik. Werk-
stoffbezogene Analyse, Charakterisierung und Simulation im
Mikro- und Nanobereich, Beschleunigte Lebensdauerprüfung
für komplexe Belastungsvorgänge und spezielle Testmethoden
zur Überwachung der Alterungsvorgänge, Entwicklung von
Lebensdauermodellen für Materialien, Komponenten und
Systeme, thermisches Management, Condition Monitoring für
Elektronik, Zuverlässigkeitsmanagement.
dienstleistungen
•Multi-Physik-Simulationen zur Zuverlässigkeitsoptimierung
(thermisch, mechanisch, fluidisch)
•Werkstoffcharakterisierung
•Struktur- und Fehleranalyse
•Kombinierte Belastungsprüfungen (Feuchtigkeit, Vibration,
Temperatur, mechanisch, elektrisch usw.)
•Strategien für nachhaltige Entwicklung von Elektronik
•Ökodesign von Produkten und Unterstützung mit der
betreffenden Rechtslage
•Lebensdauerorientiertes Design, Wiederverwendungs- und
Zustandsüberwachung elektronischer Systeme
MateriaLien, zUverLässigkeit Und nachhaLtiges entwickeLn
rf & sMart sensor systeMs
dr.- Ing. Ivan NdipTelefon: +49 30 46403 - 679 [email protected] PötterTelefon: +49 30 46403 - 742 [email protected]
Entwicklung und Optimierung von Methoden und Werkzeu-
gen für den Entwurf technologisch anspruchsvoller, miniatu-
risierter elektronischer Systeme mit Schwerpunkt drahtlose
Sensorsysteme. Unterstützung der Entwurfsentscheidungen
durch Funktions-, Volumen- und Kostenanalysen.
Bereitstellung von Energieversorgungslösungen durch Energy
Harvesting, Konzepte für effiziente Energiewandlung, Ener-
giemanagement für autarke Systeme und energieoptimierte
Programmierung.
dienstleistungen
•Entwicklung miniaturisierter Systeme von der technologie-
orientierten Machbarkeitsstudie bis zur Überführung in die
Produktion
•HF- und High-Speed-Systementwurf
•Entwicklung von Sensorknoten mit Schwerpunkt Zustands-
überwachung und Wartung
•Energieversorgungslösungen für miniaturisierte und autarke
Systeme
systeMdesign
3D-Systemintegration auf 300 mm FIB-Untersuchung eines Gold-Zinn-Bumps
integration aUf waferebene
300 mm Process line
•DRIE
•CVD, PVD, ECD, Wet Etch and Clean
•Temporary Wafer Bonding / Bebonding
•Thinning, Dicing
•Flip Chip Wafer Level Assembly
Wafer level Packaging line
800 m² Reinraum (Klassen 10 bis 1000), 4’’, 6’’ und 8’’, Proto-
typing-Ausrüstung für einige Anwendungen auch auf 300 mm
•Dünnfilm-Abscheidung (Sputter and Evaporation)
•Photolithographie (u. a. Photolacke, Polymere, Spray-Coating)
•Galvanik-Bumping, Leiterbahnen und Füllen von Durchkon-
taktierungen (Cu, Ni, Au, AuSn, SnAg, PbSn)
•Nasschemische Prozesse (Ätzen, Reinigen)
•Waferbonden (Support Wafer, Handhabung dünner Wafer)
•Silizium-Plasmaätzen (Durchkontaktierungen, Kavitäten)
•Präzisionsbestückungslabor (Reinraum u. a. mit Chip-to-
Wafer-Bonder bis 300 mm,Thermokompression / -sonic)
integration aUf sUbstratebene
Substrate Integration line
•CoB-Labor (Die-, Bändchen-, Wirebonding bis 35 µm Pitch)
•Einbett-Labor (Hochgenauer Bestücker, Leiterplatten-
prozesslinie u. a. mit Laserbohrer und Laser Direct Imaging)
•Photonik-Labor (optisches Packaging mit einer Genauigkeit
von bis zu 0,5 μm, Laserstrukturieren von Glaslayern
mit optischen Wellenleitern für elektrooptische Boards,
Charakterisierung von Mikrolinsen und Mikrolinsenarrays
sowie LEDs)
•Verkapselung (Schutzlackauftrag, Potting, Verguss von
Flip Chip und CoB, Nadel- und Jetdispensen, Transfer
und Liquid Molding, Wafer & Panel Level Molding)
•Textillabor (Integration von Elektronik in Textilien)
•SMD- und Flip-Chip-Linie (Datacon EVO, Siplace X-Placer,
Asymtek Axiom Jet, Dispense System)
MateriaLien, zUverLässigkeit Und
nachhaLtiges entwickeLn
ZvE – Zentrum für verbindungstechnik in der Elektronik
•Akkreditiertes IPC-A-610, IPC-7711/ 7721 und IPC J-STD-
001D Schulungs- und ESA-anerkanntes Trainingszentrum
•CT- und 2D-Röntgenanalytik, Messung ionischer Verunreini-
gungen, Surface-Isolation-Resistance
Qualifikations- und Prüfzentrum für Baugruppen (QPZ)
•Ultraschallmikroskop, CT-Röntgenmikroskop, Metallografie
•Variable Pressure FE-REM, Dual Beam FIB
•TGA, DSC, DTMA, EDX, Small Spot ESCA, REM-EDX
Zuverlässigkeit
•Materialprüfung (Thermoanalyse, Zug- und Biegeprüfung,
NanoRaman-Spektroskopie, Röntgendiagnostik, EBSD)
•Thermomechanische Zuverlässigkeit (Schadensdiagnostik,
Lebensdauervorhersage, Deformationsanalyse (microDAC)
•Thermische Messtechnik (Impuls und Lock-In Infrarot
Thermographie, Thermal Interface Material Analysis)
•Moisture Lab (Simulationsgestützte Zuverlässigkeits-
bewertung feuchteinduzierter Phänomene)
•Power-Lab (Charakterisierung und aktives Zykeln von
Leistungsmodulen und leistungselektronischen Geräten,
Kalorimetrisches Messen des Wirkungsgrades von hoch-
effizienten Geräten)
systeMdesign
•HF-Labor: Dielektrische
Materialcharakterisierung 1 MHz bis 170 GHz
•Vermessung elektrischer Eigenschaften von
digitalen Datenübertragungssystemen (bis 32 Gbit/s)
•Lokalisierung von EMV-Hotspots mit Nahfeldsonden
bis 6 GHz
•Multiphysics-, Multidimension-Systemsimulationslabor
Mikroenergielabor
•Aufbau, elektrische / chemische Charakterisierung von
Mikrobatterien und Mikrobrennstoffzellen
aUsstattUng Und Labore
EMV-Messkammer Prozesslinie zur Substratfertigung
10 I 11
Ganz gleich, ob Sie bereits im Electronic Packaging zu Hause
sind oder neu in die Technologie investieren wollen: wir un-
terstützen Sie bei Ihren Fragestellungen und begleiten Sie auf
dem Weg. Das Spektrum unserer Kunden ist so vielfältig wie
unser technologisches Angebot und reicht von der Automobil-
industrie über den Maschinenbau bis hin zur Medizin-, Kom-
munikations- und Sicherheitstechnik. Auch Unternehmen aus
so unterschiedlichen Bereichen wie Bekleidung, Beleuchtung,
Nahrungsmittel oder Logistik haben wir bereits erfolgreich
bei der Verbesserung ihrer Produkte durch die Integration von
Elektronik unterstützt. Sprechen Sie uns an!
die Technologie kennen und in die Zukunft investieren
Sie sind im Electronic Packaging zu Hause und möchten von
unseren aktuellen Entwicklungen profitieren. Wir entwickeln
gemeinsam mit Ihnen maßgeschneiderte Lösungen zur
Miniaturisierung und zur Integration von mikroelektronischen
Systemen in Ihre Produkte. Unser Entwicklungsangebot
orientiert sich an Ihren Erfordernissen: Lösungen vom Detail
bis zum System.
•Beratung
•Machbarkeitsstudien
•Teilnahme an öffentlich geförderten Forschungsprojekten
•Vertragsforschung bis zur prototypischen Realisierung oder
•Lösung von Qualitäts-, Zuverlässigkeits- und Umweltfragen
vorteile der vertragsforschung
Vertragsforschung heißt, dass wir für Sie exklusiv und zielorien-
tiert innovative Technologien oder produktorientierte Problem-
lösungen erarbeiten. Mit dem direkten Zugriff auf ein hoch-
qualifiziertes, interdisziplinäres Forschungsteam gewinnen Sie:
•Ergebnissicherheit
•Zeit- und Kostenersparnis
•Professionelles Projektmanagement
•Hohe Qualitätsstandards
Zufriedene kunden im Mittelstand
Forschung und High-Tech-Entwicklung sind nicht nur
Themen für große Unternehmen. Zahlreiche mittelständische
Unternehmen nehmen die Kompetenz unserer Experten in
Anspruch. Eines der besten Argumente für eine Entscheidung
zur Zusammenarbeit sind die vielen zufriedenen Kunden. Das
belegen die zahlreichen Folgeaufträge.
Technologien erstmals nutzen
Sie wollen Ihre Produkte aufwerten, haben aber bislang nicht
in elektronische Technologien investiert oder nutzen diese
bislang nur in geringem Maß. Trotzdem wollen Sie von den
Vorteilen moderner Aufbau- und Verbindungstechniken
und der Mikrosystemtechnik profitieren und an unserem
Know-how sowie dem Angebot des Technologietransfers
partizipieren? Dann führt Ihr Weg in das Applikationszentrum.
Hier greifen wir Ihre Ideen auf, hier finden wir aus dem
Technologieangebot des Fraunhofer IZM die passende Lösung
für Ihre Produktumgebung. Hier beraten wir Sie, zeigen die
technische Machbarkeit, konzipieren und entwickeln Lösun-
gen, die auf Ihre Produkte zugeschnitten sind.
zUsaMMenarbeit Mit fraUnhofer izM
Konzep-tion und Design
Mach-barkeit
Techno-logieent-wicklung
Prozess-entwick-lung
Aufbau von Proto-typen
Qualifi-kation und Test
Forschung
Zuver-lässigkeits-bewertung
ihr Partner:fraUnhofer izM
Produkte der Zukunft sind kleiner, leichter, vielseitiger und
deutlich zuverlässiger, nicht zuletzt dank neuester Integrations-
techniken. In der Leistungselektronik oder bei LEDs arbeitet das
Fraunhofer IZM z. B. daran, die Verlustleistung trotz eines hoch-
integrierten Aufbaus sicher abzuführen. Einbetttechnologien
oder beidseitiges Diebonden von Leistungs-ICs eröffnen hier
vielversprechende Möglichkeiten.
Niedrige Temperaturen sind dagegen bei der Ankontaktierung
von ICs mit biologisch aktiven Schichten gefordert. Möglich
wird dies durch den Einsatz von nanostrukturierten Oberflä-
chen. Mit Nanotechnologien verfolgen die Forscher auch die
Vision der „Selbstmontage“ besonders kleiner Komponenten.
Höhere Integrationsdichten lassen sich kostengünstig und
flexibel mit 3D-Aufbauten realisieren. Das Fraunhofer IZM ar-
beitet ebenso an Siliziumdurchkontaktierungen (TSV) wie an
Stapelkonzepten auf Modulebene.
Richtungweisend ist außerdem ein Systemdesign, das über
die Komponentenebene hinaus die Gesamtarchitektur sowie
elektrische, thermische, mechanische und Umwelt-Aspekte in
den Systementwurf integriert. Von besonderer Bedeutung ist
hierbei das „Design for Reliability“, das basierend auf Werk-
stoffmodellen und dem Verständnis für kombinierte Ausfall-
mechanismen Werkzeuge für ein robustes Design bereitstellt.
Partner in deutschland und weltweit
Direkt am Puls der Forschung verfügt das Fraunhofer IZM
über ein enges Netz an Kooperationen mit namhaften
Forschungseinrichtungen. In Berlin sichert die langjährige und
äußerst erfolgreiche Zusammenarbeit mit dem Forschungs-
schwerpunkt Technologien der Mikroperipherik der TU Berlin
den direkten Zugang zu den Ergebnissen der universitären
Grundlagenforschung im Bereich des Wafer Level Packaging
und der Substratintegration. In Europa kooperiert das Fraun-
hofer IZM im Rahmen der High Technology Alliance mit dem
CEA-LETI (Frankreich), CSEM (Schweiz) und VTT (Finnland).
Weltweit arbeiten wir mit führenden Forschungseinrichtungen
in den USA, Japan und Korea zusammen.
Fraunhofer IZM in Zahlen
Seit seiner Gründung 1993 blickt das Fraunhofer IZM auf
eine erfolgreiche Entwicklung zurück. Drei Ausgründungen
von mittlerweile eigenständigen Fraunhofer-Einrichtungen
zeigen das richtige Gespür für Zukunftsthemen. An den drei
Standorten in Berlin, Dresden und Oberpfaffenhofen forschen
und entwickeln über 350 Personen, davon ca. 35 Prozent im
direkten Auftrag der Industrie. Zu unseren Kunden gehören
gleichermaßen kleine wie große Unternehmen.
die Mutter-gesellschaft: Fraunhofer
Das Fraunhofer IZM ist eines von 67 Instituten der Fraunhofer-
Gesellschaft und dort Ihr Ansprechpartner für das Electronic
Packaging. Die Fraunhofer-Gesellschaft gehört mit 24.000
Mitarbeitern und einem Forschungsvolumen von 2,1 Milliar-
den Euro weltweit zu den führenden Einrichtungen für die in-
dustrienahe natur- und ingenieurwissenschaftliche Forschung
und Entwicklung. Unter dem Motto „Forschen für die Praxis“
erwirtschaftet die Fraunhofer-Gesellschaft 1,8 Milliarden Euro
mit Vertragsforschung, also mit Vorhaben im direkten Auftrag
der Industrie oder gemeinsam mit der Industrie in nationalen
und internationalen Förderprojekten. Innerhalb der Themen-
schwerpunkte der Fraunhofer-Gesellschaft:
•Mikroelektronik
•IuK-Technologie
•Produktion
•Werkstoffe
•Light & Surfaces
•Life Sciences
•Verteidigungs- und Sicherheitsforschung
ist das Fraunhofer IZM Mitglied des Verbunds Mikroelektronik
und schließt dort als Partner für Packaging und Smart System
Integration die Lücke zwischen Wafer und Anwendung.
arbeiten an der zUkUnft
10 µm Neue Integrationsmethoden auf
alternativen Materialien ermöglichen textile DisplaysNanoporöse Au Bumps für das Thermo-Kompressionsbonden
voM wafer zUM systeM
Konzept & Redaktion: Fraunhofer IZM PR, Berlin · Design: J. Metze / Atelier f:50 Berlin · Fotografie: Awaiba
GmbH (S. 2 ol), red-dot, Design Zentrum Nordrhein Westfalen (S. 2 mr), Georgii Dolgykh/panthermedia
(S. 2 ur), Jörg Metze (S. 2/3), Jürgen Fälchle/Fotolia (S. 3 ol), pro motion pic/Fotolia (S. 3 ml), Jan Becke/fotolia
(S. 3 ul); Fraunhofer IZM zusammen mit: Volker Mai (Titel, 2 ml, S. 2 ul, S. 3 mr, ur, S. 7, S. 11 r), Volker Döring
(S. 2 or, S. 5 u), Bernd Müller (S. 4 o, u, S. 5 o, S. 9 l, r), MediaKlex (S. 8 l), Frank Welke (S. 12), alle anderen
Fraunhofer IZM. IS IZM 1603 - 17d
kontakt
Aufbau- und
Verbindungs-
technologien
Zuverlässig-
keitstests &
Ausfallanalyse
System-
integration &
Design
Kleinserien-
fertigung &
Prozesstransfer
Berlin-Wedding
Dresden
Oberpfaffenhofen
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit
und Mikrointegration IZM
leitung:
Prof. dr.- Ing. dr. sc. techn. klaus-dieter lang
Gustav-Meyer-Allee 25
13355 Berlin
Telefon: + 49 30 46403 - 100
Telefax: + 49 30 46403 - 111
www.izm.fraunhofer.de
Stellv. leitung:
Rolf Aschenbrenner
Telefon: + 49 30 46403 - 164
verwaltung
Carsten Wohlgemuth
Telefon: + 49 30 46403 - 114
Öffentlichkeitsarbeit und Marketing
georg Weigelt
Telefon: + 49 30 46403 - 279
Business development Team
Sprecher: dr. rer. nat. Michael Töpper
Telefon: +49 30 46403 - 603