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Leiterplatten Entwicklungen, Praxis & Forschung Referent: Christian Ranzinger, CTO CONTAG AG

Leiterplatten Entwicklungen, Praxis & Forschung · 2016. 11. 22. · MCS (Metal Core Substrate)/IMS (Insulated Metal Substrate) Thermomanagement -Leiterplatte Aufnahme, Verteilung

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Leiterplatten Entwicklungen, Praxis & Forschung

Referent:

Christian Ranzinger, CTO CONTAG AG

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Herzlich Willkommen zum CONday 2016

Zum Referent:

Jahrgang 1967

Studium und Abschluss in der Fachrichtung „Industrielle Elektronik“

Berufliche Stationen:

• CONTAG GmbH (Produktionsleiter, Einführung QM ISO 9000)

• hmp Heidenhain Microprint (Assistent der GF, technologische Sonderprojekte)

• CONTAG GmbH (Technologischer Leiter, Prokurist)

• Atotech Deutschland GmbH (European Manager OEM)

• Freiberuflicher Consultant, bei der CONTAG GmbH u.a. zuständig für die Planung und

Durchführung von Anlageninvestitionen und R&D-Projekten

• CONTAG AG (Technischer Vorstand, verantwortlich für die Abteilungen Technologie,

Produktion, F&E und Service)

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Agenda

Technologietreiber

„More than Moore…“

IPC-Trends

Entwicklung der Leiterplattenkomplexität

F&E-Projekte

Übersicht

Forschungsprojekte mit Instituten und Hochschulen

Kundenprojekte

Aussichten

Technologie Road Map CONTAG AG

Aktuelle Investitionen

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Technologietreiber

Integrationsdichte von Schaltkreisen

„…alle 18 Monate verdoppelt sich die Integrationsdichte der Chips bei gleichen Kosten…“ Gordon

Moore, Mitbegründer Intel, 1965; nach wie vor gültig…

Integrationsdichte korreliert mit der Anzahl der Transistoren je Flächeneinheit• Strukturen der aktuellen

Prozessorgeneration liegen

bei 14nm

• Physikalische Grenzen bei

2-3nm, wirtschaftliche

Grenze wird bei 5-7nm

vermutet (technologische

Probleme bei der

Fotolithografie)

• Wahrscheinlich in 2025

erreicht, dann neue

Konzepte erforderlich

• SoC: System on Chip

• SiP: System in Package

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Technologietreiber

Aktuelle IPC-Studie adressiert für die Leiterplatte:

Miniaturisierung (Footprint der Bauelemente 0.3mm Pitch CSP/BGA erfordert 50µm Line/Space)

Packungsdichte

Leistung (IMS – Insulated Metal Substrate, Wärmemanagement, Hochstrom)

Embedding (aktive und passive)

Flexible und starr-flexible Leiterplatten

Bleifrei Technologie

Halogenfrei-Technologie

LED‘s

Optoelektronik

Gedruckte Elektronik

Leiterplatte wandelt sich vom simplen Bestückungsträger zum Systemträger bzw.

Multifunktionsbauteil

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Trend in der Leiterplattenkomplexität

Parameter für HDI-Schaltungen

Strukturweiten (Line/Space)

Anzahl der Lagen

Durchmesser der Kontaktierungen, Kontaktierungsdichte

Nutzung von Blind- und Buried Vias

SBU-Aufbauten

Stacked Via-Technologie

Via In Pad-Technologie

Cu-Filled Micro-Vias

300µm125µm75µm25µm

0,40mm

0,20mm

0,10mm

0,05mm

Einfache Schaltungen,

1- und 2-seitig

Mittlere Komplexität, 2-seitig

und Multilayer

Hohe Komplexität (HDI),

Multilayer

High End PCB

„Zwischenwelt“ Chip-PCB: IC-Packages, IC-Substrates, Interposer

Kle

inste

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hm

esser

Strukturweiten

Via In Pad

Cu Filled Blind Via

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F&E Projekte bei CONTAG

Projekt Technologischer Inhalt

Innovativer Lagenaufbau Unsymmetrische Multilayer-Aufbauten mit Rückstrom-Vias für HF-Anwendungen

Glaslaminat – Optische Leiterplatte (1 & 2) Einbetten von vollflächigen Glaslayern mit Wellenleiterstrukturen

HF-Toleranzen Einfluss der Fertigungs- und Prozesstoleranzen auf die HF-Eigenschaften der

PCB

Knieprothese Starr-Flex-PCB mit Embedding-Technologie

Hochfrequenz-Hochstrom-Wechselrichter in der

MW-Klasse

Kaskadierte Keramik-Substrate mit gesinterten Hochstrom-Mosfets und

eingebetteten Komponenten

SKINVIVO Dehnbare Substrate für den Sport- und Medizinbereich

HF-Flex Flexible 100GHz-Verbindungstechnologie für Interposer- und PCB-Anwendungen

Exoskelett Wearables & starr-flexible Anwendung mit integrierter Sensorik und thermischem

Management

tP2CB 3D-Leiterplatte durch Verformung bestückter PCB‘s aus thermoplastischem

Material

Speedboard Neue High-Speed-Leiterplattengeneration mit Dünnglasfolien als Substrat und

Integration optischer Funktionalität

Dilatationsballon zur Tumorbekämpfung Entwicklung & Fertigung eines um 300% dehnbaren Elektrodenarrays

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Technologien zwischen F & E und Tagesgeschäft

Innovationen: Verbesserungen technologischer Details und Machbarkeiten sowie den

Verknüpfungen bekannter Technologien (z.B. IMS + Starr-Flex)

Technologietreiber für CONTAG sind Kundenprojekte und öffentliche F&E-Projekte in Konsortien

Institute, F&E, Feasibility Etablierte TechnologiePilotprojekte

Opto-elektronische BoardsWearables

IMS/Thermomanagment

HDI/SBU

Starr-FlexEmbedding

MID/3-D

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F & E - Projekte

• Hohe Anzahl paralleler Signale

• Hoher Aufwand zur elektromagnetischen

Schirmung

Photonische Systemintegration

• Hybrider FR4/Glaslaminat-Aufbau mit n-

elektrischen Lagen

• Höchste Designfreiheit im elektrischen und

optischen Layout

• Technologische Flexibilität und Freiheitsgrade

bzgl. opto-elektrischer Bauelemente

Opto-elektronische Leiterplatte

Technologietreiber „More than Moore…“

• Zunehmende Datenübertragungsrate (>>10Gbit/s/ch)

• Wachsender Aufwand zur Sicherstellung der Signalintegrität (Sondermaterialien, zusätzliche Treiber- und

Gleichrichterbauelemente, kurze Leitungswege)

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F & E - Projekte

Opto-elektrische Leiterplatte

Technologische Herausforderungen

• Einbringen der Lichtwellenleiter mittels Ionendiffusion

(Sputtermaske aus Chrom, Hochtemperatur- Salzschmelze)

• Handling der Dünngläser (<0,30mm)

• Lamination des hybriden Verbundes

• Einbringen mechanischer Öffnungen für die elektrischen und

optischen Vias

• Elektrische Kontaktierung des Glases

• Konturbearbeitung der fertigen PCB

• Thermische und mechanische Zuverlässigkeiten (Gefahr

lateraler Glasrisse, Durchkontaktierungen, etc.)

Mit Ionendiffusion eingebrachte Lichtwellenleiter

Stackup opto-elektrisches Bord

Details Optische

Koppelfenster

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F & E - Projekte

Div. Anwendungen dehnbarer Substrate

Dehnbare Leiterplatten

PU-Substrate, selbst erzeugt (Lamination von PU- und Kupfer-folien)

Höchste Flexibilität/Dehnbarkeit (>10%)

Layout/Kupferlagen werden als Mäander ausgeführt

1-4-lagig und als starr-flexible Schaltung möglich

Bestückung mit niedrigschmelzendem Lot (<160°C) oder Leitkleben

Auf Textilien applizierbar

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Kundenprojekte CONTAG

Chipkarte mit beidseitig eingebetteten aktiven und passiven Bauelementen

Personalisierte Chipkarte für Türschließsystem

• Beidseitig vorbestückte Innenlage

• Vermeiden von Druck auf Fingersensor

• Fingersensor muss höhenbündig in die Karte eingepasst werden

0 2,4

-2,5

mm

Fingersensor

Passives

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Kundenprojekte CONTAG

Schliff eingebettete Bauelemente

Chipkarte mit beidseitig eingebetteten aktiven und passiven Bauelementen

Ergebnisse

Vorbereitung Einbettprozess

Finaler Aufbau

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Kundenprojekte CONTAG

Speichertestkarte mit eingebetteten Passives

DRAM Interposer für Compliance Test

• Kein Platz für Bauelemente auf den Außenlagen

• Für Probes zugängliche Prüfpads in zweiter Ebene über den bestückten Bauelementen des Hauptboards

Flexible LageEingebettete SMD-Bauelemente

1,4 x 0,6 x 0,35mm

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Kundenprojekte CONTAG

Speichertestkarte mit eingebetteten Passives

Ergebnisse

Flexible LageEingebettete SMD-Bauelemente

1,4 x 0,6 x 0,35mm

Lagenaufbau und Detailansichten

Flexflügel Embedded

Passives

Bestückte Innenlage

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Kundenprojekte CONTAG

Pre

ssen

Kavität für Bauelement

Bondpads

Backdrill

Stacked Vias

Laser Blind Via

6-Lagen Blind/Buried Via SBU mit Kavitäten und Backdrill

Lagenaufbau

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Kundenprojekte CONTAG

Pre

ssen

6-Lagen Blind/Buried Via SBU mit Kavitäten und Backdrill

Laser

Via

Kavität für

Bauelement

Bondpa

ds

Backdrill

Detailansichten

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Kundenprojekte CONTAG

MCS (Metal Core Substrate)/IMS (Insulated Metal Substrate)

Thermomanagement -Leiterplatte

Aufnahme, Verteilung und Ableitung hoher Verlustleistungen

Dicke Metallkerne aus Kupfer oder Aluminium

Als außen- oder innenliegende Kerne mit elektrischer Lagenzahl

1…n möglich

LED-Beleuchtungsanwendungen, Hochstrom-Leiterplatten etc.

Übliche Wärmeleitfähigkeitswerte Dielektrikum: 1…5W/m*K

(Standard-FR4 ca. 0.3)

Kupfer >240, Aluminium-Legierung ca. 160W7m*K

IMS-Semiflex Typische LED-Beleuchtungsanwendungen mit IMS

Quelle: elektronikpraxis

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Kundenprojekte CONTAG

5-Lagen IMS-LED-Platine mit Tiefenfräsung

Top-Seite, bestückt Bot-Seite, bestückt

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Kundenprojekte CONTAG

5-Lagen IMS-LED-Platine mit Tiefenfräsung

Tiefenfräsung in IMS-Lage

Elektrisch isolierte

Koaxialbohrung in

gepluggter IMS-Bohrung

Wärmeleitprepregs mit ca.

3W/mK

4-Lagen Multilayer Standard

FR4

IMS-Lage aus Alu

Wärmeleitprepregs mit ca.

3W/mK

Durchkontaktierung im

ML

Elektrisch isolierte

Koaxialbohrung in gepluggte

IMS-Bohrung

Durchkontaktierung im ML

IMS-Kern Aluminium

Wärmeleitprepreg

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Kundenprojekte CONTAG AG

6-Lagen SBU/HDI-Starr-Flex

75µm-Strukturen auf allen Lagen

3-fach Stacked Vias, Cu-filled

Freigelaserte Pads auf der flexiblen Innenlage

Oberfläche ENEPIG (Nickel/Palladium/Gold)

Stacked Vias

Freigelaserte Pads auf

flexibler Innenlage

Pre

sse

n

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22.11.2016 22

Technologische Roadmap CONTAG AG

2015

125µm/100µm/75µm

100µm/80µm/50µm

80µm/60µm/40µm75µm/50µm/30µm

Materialvielfalt erhöhen

IMS-Technologie stärken

Stacked Vias etablieren

Pluggen/Cu-Filling etablieren

Registrierung (Multilayer) verbessern

Flex/Starr-Flex-Technologie stärken

Gezielte Verwertung der F&E-ErgebnisseHoher Yield/Mit Sondermaßnahmen/Unter optimalen Bedingungen

2013 2017 2019

Investitionen Pattern Plating

Derzeitige Machbarkeit

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Mikrostrukturen

Projekt „HF-Flex“: Backdrill, Strukturen <50µm

Space 45 µm

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Technologie

Technologische

Knackpunkte

Subtrakiv

Panel Plating

Tenting-

Technologie

Semiadditiv

Pattern Plating

Mischformen

Panel+Pattern

Plating

Belichten/Entwickeln

Ätzen

Resiststrippen

Kupferverteilung

Mögliche Strukturen* 75µm 20µm 50µm

Prozesskosten

Strukturierungsverfahren im Vergleich

*) Richtwert für Leiterzugbreiten und Abstände, abh. von benötigten Kupferdicken etc.

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Investitionen bei CONTAG

Projekt „Slim-Leiterplatte“

Großes Investitionspaket über ca. 2 Mio €

Laufzeit 2013 - 2016

Cu

t-S

he

et

La

min

ato

r

Va

ku

um

-La

min

ato

r

Cu

-Fill

ing

Alk

alis

che Ä

tzlin

ie

Sn

-Str

ipplin

ie

Galv

anik

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eiteru

ng

Sn

UV

-Na

ch

ve

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tze

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Plu

ggin

gS

chle

iftisch

ML

-Pre

sse

IMS

-Bohr/

Frä

sm

aschin

e

Sta

ple

r/H

andlin

g

Abw

assera

ufb

ere

itung

Tra

ceab

ility

Qualität x x x

Technologie x x x x x x x x x

Durchsatz x x x x x

Status

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Vielen Dank für Ihre Aufmerksamkeit!

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