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Signalanalyse-Modul R&S®TS-PAM für R&S®CompactTSVP

Potenzialfreie, parallele Signalanalyse auf Basis von CompactPCI/PXI

Das Signalanalyse-Modul

R&S®TS-PAM erweitert die Palette

der Mess- und Schaltmodule für die

Testplattform R&S®CompactTSVP,

deren Anwendungsbereich in Funk-

tions- und In-Circuit-Tests von Elektro-

nikbaugruppen liegt. Das neue Modul

für die mehrkanalige, parallele Daten-

erfassung zeichnet sich besonders

durch potenzialfreie Messungen aus –

ein Feature, das speziell in der Auto-

mobilindustrie gefragt ist.

Immer am Ball bleiben

Die auf Basis des CompactPCI/PXI konzi-pierte Testplattform R&S®CompactTSVP von Rohde&Schwarz [*] stellt eine grundlegende Palette von messtechni-schen Funktionalitäten und Kommuni-kationsschnittstellen hinsichtlich Hard- und Software zur Verfügung. Da sich die Anwendungsszenarios für eine solche industrielle Messtechnikplattform per-manent ändern, muss sie ständig und zeitnah weiterentwickelt werden.

Das neue Signalanalyse-Modul R&S®TS-PAM (BILD 1) ist die Antwort auf die stetige Nachfrage nach poten-zialfreier Messtechnik mit intergrierter Signalkonditionierung und -verschaltung. Die Messkarte zeichnet analoge und digitale Daten mehrkanalig auf – ähn-lich wie ein Mixed-Signal-Oszilloskop. Eine kostenlose, Hardware-unabhängige

Analysebibliothek vereinfacht das Unter-suchen aufgezeichneter Signale bezüg-lich ihrer Kurvenform und ihres Zeitver-haltens.

Flexibilität sichert den Erfolg

R&S®TS-PAM besteht aus zwei unab-hängig voneinander arbeitenden Mess-einheiten, deren Aufzeichnungsverfah-ren sowie Abtastfrequenzen frei konfi-gurierbar sind (BILD 2 und 3). Jede Ein-heit bietet vier Eingangskanäle, die ein A/D-Umsetzer mit schnellem 4 :1-Mul-tiplexer statisch oder über ein spe-zielles Scan-Verfahren quasi simul-tan abtastet. Die gemessenen Signale werden der Messeinheit direkt über den Frontstecker des Moduls oder alter-nativ von den Schaltkarten über den analogen Messbus der Testplattform R&S®CompactTSVP zugeführt. Durch

BILD 1 Das neue Signalanalyse-Modul R&S®TS-PAM für die mehrkanalige, parallele Datenerfassung zeichnet sich besonders durch potenzialfreie Messungen aus – ein Feature, das speziell in der Automobilindustrie gefragt ist.

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Neues von Rohde&Schwarz Heft 186 (2005/ II)

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Analog Bus (AB)

CHA1_HIx

CHA2_HIx

CHA3_HIx

CHA4_HIxCHA_LO

CHB1_HIx

CHB2_HIx

CHB3_HIx

CHB4_HIxCHB_LO

TriggerGNDlines

GNDCHA-GND

DACFastDiff.MUX

2×4:1

ControlLogic

ADC

ISO

Comp.

Comp.

Comp.

Comp.

DAC

DAC

DAC

DAC

Filter

FastDiff.MUX

2×4:1

ControlLogic

ADC

ISO

Comp.

Comp.

Comp.

Comp.

DAC

DAC

DAC

Filter

SRAM

ControlLogic

ControlLogic

Compact PCIInterface

SRAM

PLL PXI_CLK

PXI_TRIG0…PXI_TRIG7

Floating power supply

LABA

1

ABA

1Coupling

RelaisLA

BA2

A

BA2

LABB

1

ABB

1LA

BB2

A

BB2

LABC

1

ABC

1LA

BC2

A

BC2

LABD

1

ABD

1LA

BD2

A

BD2

Local Analog Bus(LABa1…LABd2)

Abtastung mit 200 ksamples/s

Abtastung mit 20 Msamples/s

BILD 2 Blockschaltbild des Signalanalyse-Moduls R&S®TS-PAM mit dem Verlauf der zu untersuchenden Signale (rot) und der Trigger-signale (blau).

BILD 3 Aufzeichnung eines Signals durch die Messeinheit A mit niedriger Abtastrate. Für eine detailliertere Untersuchung zeichnet die Messeinheit B – gesteuert von einem Trigger – einen Ausschnitt des Signals mit einer wesentlich höheren Abtastrate auf.

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ALLGEMEINE MESSTECHNIK Testsysteme

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die separat programmierbaren Eingangs-empfindlichkeiten der acht Kanäle lassen sich sowohl Signale im Millivolt-bereich als auch Signale mit Spannun-gen bis zu 100 V parallel aufzeichnen.

Im Einkanalbetrieb beträgt die maxi-male Taktrate 20 Msamples/s pro Messeinheit. Bei paralleler Erfas-sung ist pro Kanal eine Abtastrate von 5 Msamples/s erreichbar. In beiden Betriebsarten werden die analogen Daten, zusammen mit dem Status der digitalen Triggereingänge, kontinuier-lich auf dem Modul gespeichert. In Ver-bindung mit Pre- und Post-Triggerung ist die zeitliche Auswertung der Mess-daten bezogen auf digitale Referenzsig-nale möglich. Jeder Eingangskanal kann die eigene Messeinheit sowie auch wei-tere Mess- und Stimulikarten über PXI triggern.

Im Trend der Zeit: Alles inklusive

Zur interaktiven Bedienung des Moduls R&S®TS-PAM steht eine funktionelle Software-Bedienoberfläche zur Verfü-gung. Diese erleichtert die Konfigura-tion der Schaltpfade sowie der Messein-heiten und damit die interaktive Durch-führung von Messaufgaben während der Systemintegration.

Für die komfortable Testprogramment-wicklung steht das leistungsfähige und hardware-unabhängige Software-Paket R&S®GTSL bereit. Wie alle Karten der Produktlinie R&S®CompactTSVP ver-fügt auch das Modul R&S®TS-PAM über Selbsttestfähigkeiten, die eine Diagnose der Funktionalität im Rahmen eines Sys-temselbsttests ermöglichen. Dies redu-ziert Kosten, die durch Produktionsaus-fälle in Folge langer Stillstandzeiten ver-ursacht werden.

Abkürzungen und GerätebezeichnungenCompactPCI Standardisiertes, PCI-basiertes Bussystem für industriellen Ein-

satzPXI PCI-eXtension for Instrumentation – Erweiterung des Com-

pactPCI zur Synchronisation von Messtechnik-Modulen über Referenztakt und Triggerleitungen

R&S®CompactTSVP Test System Versatile Platform – Testplattform für PC-basierte Messtechnik mit CompactPCI /PXI-Bus von Rohde&Schwarz

R&S®GTSL Generic Test Software Library – Umfangreiche Software-Biblio-thek von Rohde&Schwarz

Weitere Informationen und Datenblätter unter www.rohde-schwarz.com

LITERATUR[*] Modulare Prüftechnik auf Basis von Com-

pactPCI/PXI. Neues von Rohde&Schwarz (2003) Nr. 180, S. 14–20.

Typ Beschreibung DatenblattR&S®TS-PCA3 Test and Measurement Platform PD 0758.0597.32R&S®TS-PWA3 Switching Application Platform PD 0758.0622.32R&S®TS-PSAM Analog Source and Measurement Module PD 0758.0580.32R&S®TS-PICT In-Circuit Test (ICT) Extension Module PD 0758.1964.32R&S®TS-PDFT Digital Functional Test Module PD 0758.0645.32R&S®TS-PFG Arbitrary Waveform and Function Generator Module PD 0758.0639.32R&S®TS-PAM Analyzer and Data Acquisition Module PD 0758.0668.32R&S®TS-PMB Switching Matrix Module PD 0758.0600.32R&S®TS-PSM1 Power Switching Module PD 0758.0616.32

Weitere Datenblätter zur Produktlinie R&S®TSVP.

Fazit

Rohde&Schwarz bietet mit dem R&S®TS-PAM als erstes Unternehmen ein Signalanalyse-Modul mit potenzial-freier und parallel erfassender Mess-technik an. Speziell im Bereich Automo-tive ist dies eine wesentliche Grundfunk-tionalität einer modernen Messtechnik-plattform. Die flexiblen Konfigurations-möglichkeiten der Messeinheiten in Ver-bindung mit der umfangreichen Soft-ware-Unterstützung ermöglichen es, mit nur einem Modul auch komplexe Prüfaufgaben zu lösen.

Durch das umfangreiche Portfolio an Mess- und Stimulikarten und dem einzigartigen Systemkonzept des R&S®CompactTSVP ist Rohde&Schwarz in der Lage, seinen Kunden innovative Lösungen im Bereich der Produktion von Elektronikkomponenten anzubieten.

Christian Hof; Michael Grandauer

Weiter Informationen und Daten zum Sig-nalanalyse-Modul R&S®TS-PAM können Sie dem Datenblatt entnehmen

Eine Übersicht zu den Modulen der Test-plattform R&S®CompactTSVP mit techni-schen Daten und Applikationshinweisen bietet die Broschüre „Open Test Platform R&S®CompactTSVP“. Die Datenblätter zu den einzelnen Mess- und Stimulikarten stehen auf den Internet-Seiten von Rohde&Schwarz zum Download bereit (Tabelle unten).

R&S®CompactTSVP R&S®TS-PAM

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