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FH Lippe und Höxter Prof. Dr. G. Kutz 08.06.2005 Pharmatechnik Fachhochschule Lippe und Höxter University of Applied Sciences Life Science Technologies Verfahren zur Bestimmung von Partikel-bzw. Tröpfchengrößen in Emulsionssystemen 08.06.2005 Prof. Dr. Gerd Kutz FH Lippe und Höxter Pharmatechnik Georg Weerth Str. 20 32 756 Detmold

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Verfahren zur Bestimmung von Partikel-bzw. Tröpfchengrößen in Emulsionssystemen

08.06.2005

Prof. Dr. Gerd KutzFH Lippe und Höxter

PharmatechnikGeorg Weerth Str. 20

32 756 Detmold

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Vorstellung laserbasierender Verfahren

Photonenkorrelationsspektroskopie

Laserdiffraktometrie

Laserzählverfahren

Turbidimetrie

Hintergrundinformationen

Partikelgrößenanalyse :Gliederung

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Partikelgrößenanalyse :Hintergrundinformationen zum Messen disperser Systeme

Die „Partikelgrößenanalyse“

– gleichbedeutend werden z.B. die Begriffe „Dispersitätsanalyse“, „Teilchengrößenanalyse“, „Feinheitsmessung“ verwendet –

ist die Messung der Feinheit eines dispersen Systems.

Ein disperses System ist eine Anordnung von Materie, die aus wenigstens einer dispersen Phase und einem umgebenden Medium besteht.

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Partikelgrößenanalyse :Anwendungsbereiche

Kosmetisch relevante Dispersionstypen

AerosolSuspensionEmulsionSchaumPulver

Kosmetische Produktgruppen disperser Systeme

• Aerosole/Sprays• Make-up• Pigmenthaltiger Sonnenschutz• Cremes• Lotionen• Dünnflüssige Emulsionen• Hydrodispersionsgele• Zahnpasta• Puder• Schäume

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Partikelgrößenanalyse :Entscheidungshilfen zur Durchführung einer geeigneten PartikelgrößenanalyseIst das Produkt dispers, bzw. enthält es ungelöstes „active ingredient“ ?

Hat die Teilchengrößenverteilungeinen kritischen Einfluss auf die Wirkung?

Hat die Teilchengrößenverteilungeinen kritischen Einfluss auf die Prozessführung ?

Hat die Teilchengrößenverteilungeinen kritischen Einfluss auf die Produktstabilität ?

Hat die Teilchengrößenverteilung einen kritischen Einfluss auf das Auftragverhaltenoder das sensorische Empfinden ?

Ja?

Ja?

Ja?

Ja?

Bestimmung der

Teilchen-

größen-

verteilung

mindestens

sinnvoll

wenn nicht

notwendig

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Partikelgrößenanalyse :Möglichkeiten zur Datenaufnahme

ProzessFormulierung

Probennahme Probennahme

Proben-manipulation

Messung Messung Messung

A off line B on lineC in line

in situ

Auswertung

Rück-kopplung

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Ideal-Partikel Real-Partikel

D3

xF1

F2

D2

D1

x

D1 = Martinscher DurchmesserD2 = Ferretscher DurchmesserD3 = Kreis- Äquivalentdurchmesser

D1 ≡ D2 ≡ D3 [µm]

0

10

20

[µm]0 10 20 30 40

[µm]0 10 20 4030

F1≡ F2

Partikelgrößenanalyse :Überlegungen zur Vergleichbarkeit

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Partikelgrößenanalyse :Überlegungen zur Vergleichbarkeit

Gerät/Messprinzip

Äquivalentdurchmesser

Siebung Maschenweite, minimale Partikelgröße

30 100 30 -100 100

Mikroskopie

Mess-orientierung

Ferret-DurchmesserMartin- DurchmesserKreisäquivalent-Durchmesser

303062

10010062

944762

303030

Laserbeugung Querschnittsfläche 62 62 62 30

100µm

30µm

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Partikelgrößenanalyse :Überlegungen zur Vergleichbarkeit

Anzahlverteilung Volumenverteilung

1000 Partikel mit 1µm Durchmesserund

1 Partikel mit 100µm Durchmesser

1000 Partikel mit 1µm Durchmesserund

1 Partikel mit 100µm Durchmesser

1µm ≅ 99,9 % 100 µm ≅ 0,1 %

V1/V2 = 1/1000

1µm ≅ 0,1 % 100 µm ≅ 99,9 %

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Partikelgrößenanalyse :Erkenntnisse

1. Eine Ergebnisvergleichbarkeit ist in nur wenigen Fällen vorhersehbar bzw.überhaupt gegeben.Gründe: Probenvorbereitung, Messprinzip des Gerätes, Materialeigenschaften

2. Eine direkte Ergebniskorrelation über Korrekturfaktoren führtnicht zu einer 1:1 Übertragbarkeit

3. Ein Lösungsansatz stellt eine firmeninterne Standardisierung unter Einbeziehung präzise beschriebener Referenzmaterialien dar.

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Lichtstreuung am Partikel :Reflexion, Brechung, Beugung

reflektierter Strahl

einfallender Strahl

gebrochener Strahl

gebeugter Strahlx ~2/3 λeinfallender Strahl

Partikel

reflektierter Strahl

x

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Photonenkorrelationsspektroskopie :Prinzip

Laser

Sekundärelektronen-Vervielfacher

(Photomultiplier)

Sammelsystem

Probeneinlass

Projektionssystem

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Photonenkorrelationsspektroskopie (PCS) :Detektorsignal

Kleines Teilchen Großes Teilchen

tt

I (t) I (t)

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3-D Kreuzkorrelationstechnik (spez. PCS) :Prinzip

Probe

Schirm

A

BLaser

1

23

4

12 3

4

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3-D Kreuzkorrelationstechnik (spez. PCS) :Detektorsignal

Stre

uclic

htin

tens

ität

Zeit

1 oben

1 unten

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Photonenkorrelationsspektroskopie :Zusammenfassung

Messbereich: 1nm bis 3µmMesszeit: Sekunden

Ergebnisdarstellung:Mittlere Partikelgröße,bei Mehrwinkelanalyse auchTeilchengrößenverteilung

Voraussetzung:Verdünnung bis zur schwachenOpaleszenz(gilt nicht für 3-DKreuzkorrelationstechnik)

Hinweise:

Probleme beim Verdünnen

• Auf-/Anlösen• Koaleszenz• Gestaltänderungen• Wasserqualität (Partikel)

Lösung:

• Filtration• Verdünnungsreihe

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Laserbeugungsverfahren :Aufbau

Ringsensor

Laser

Auslass Pumpe

Verarbeitungs-elektronik

Computer-system

Probenzeile

dispergierte Phase

Absperrventil

Rührer

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Laserbeugungsverfahren :Prinzip

Probeneinlass

a) sich bewegende Teilchen

b) Teilchen unterschiedlicher Größe

Probeneinlass

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Laserbeugungsverfahren :Detektorsignal

Probeneinlass

Ringsensor

Laser

Beugungsringe

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Laserbeugungsverfahren :Prinzip

Einzelnes Partikelmit Durchmesser x

Partikelgrößen-Verteilung q0 (x)

rr

∫ ⋅=max

min0 ),()()(

x

xdxxrIxqnrIx)(r,fI x)(r, I 0=

Intensitätsverteilung von Fraunhofer Beugungsmustern

I I

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Laserbeugungsverfahren :ZusammenfassungMessbereich: 0,1µm bis 3mmMesszeit: SekundenAuswertemodus: Fraunhofer bzw. Mie

Prüfen für Teilchen <10µm

Reproduzierbarkeit/Genauigkeit: < 3% x50

< 5% x10/x90

Ergebnisdarstellung: Volumen-, Anzahl-,Flächenverteilung

Voraussetzung: Verdünnung

Hinweise:

• Probennahme• Desagglomeration• Zerstörung• Quellung• Luftblasen• Messbereich• Hintergrundsignal• Mehrfachstreuung• Referenzmaterialien(extern bzw. intern)

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Optical reflectance measurement (ORM) :Komponenten

Strom

Tastatur

Drucker

Maus

Visualisierung

Software

Computersystem

Hardware

Messsonde

Prozessor

Optischer Leiter

Oszilloskop(optional)

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Optical reflectance measurement (ORM) :Aufbau der Messsonde

Messkammer

Linse

Laserdiode

Photodetektor

Optischer LeiterStrahlenteiler

...

.

..

Fokuspunkt

SaphirfensterSaphirlinse

disperses System

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LS = SehnenlängeVS = TastgeschwindigkeitΔtS = Impulsdauer

LS = VS * ΔtS

⎟⎟⎠

⎞⎜⎜⎝

⎛=

SdBL

SdSL sin

Partikel

dS

LBLs

ds = Durchmesser des gescannten“ Kreises

LB = Bogenlänge

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Optical reflectance measurement (ORM) :Tastvorgang

Ausgangs-signal

Inte

nsitä

t

ts

ts

Laserstrahl

Laufzeit-signal

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Optical reflectance measurement (ORM) :Ergebnisdarstellung

Häu

figke

it(%

)

Bogensehnenlänge (ACL)

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Optical reflectance measurement :Zusammenfassung

Messbereich: ca. 0,1µm bis 1mmnach Kalibration

Messzeit: Sekunden

Ergebnis-darstellung: Anzahl-,

Volumenverteilung „Bogensehnenlängen“ (bis zu 1024 Klassen)

Zählverfahren

Hinweise:

• in-line• in-situ• unverdünnt• Kalibrierung• Impulszählrate• Luftblasen• Inhomogenitäten• Bewegung• repräsentative Probennahme• Reproduzierbarkeit

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Turbidimetrie :Prinzip

Höhe [mm]

Intensität

Transmission

Rückwärts-streuung

Laser 850 nm

max. 80 mm

α =45°

40 µm80 µm

0 µm

RückwärtsstreuungPhotodiode

TransmissionPhotodiode

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Turbidimetrie :Mehrfachstreuung

(Rück)- Streulichtintensität I (BS) als Funktion von Partikeldurchmesserund Phasenvolumenverhältnis θ:

⎟⎠

⎞⎜⎝

⎛= ∗λ

1)( fI BS

worin λ ∗ = „mittlere freie Wegstrecke“

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Turbidimetrie :Theorie Mehrfachstreuung

λ*

⎟⎟⎠

⎞⎜⎜⎝

⎛=∗

φλ dk

Überlegung

Detektorsignal

Zusammenhang

δh

δl

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Turbidimetrie :Mehrfachstreuung

Höhe (mm)Stre

ulic

htin

tens

itat(

%)

Einzelmessung

Mehrfachmessungen („Kinetik“)

Höhe (mm)

Stre

ulic

htin

tens

itat(

%)

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Turbidimetrie :Interpretation

t= 0

t= n

t= 0

t= n

Koaleszenz bzw. FlokkulationSedimentation bzw. Aufrahmen

Demulgiervorgänge

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Turbidimetrie :ZusammenfassungMessbereich: ca. 0,1µm bis 1mm

Messzeit: Sekunden

Ergebnis-darstellung: Rückstreuung (%)

Transmission ( %) über Probenhöhe

mittlere Teilchengröße bzw. Phasenvolumen-verhältnis

Hinweise:

• unverdünnt• in-line • Probennahme• Reproduzierbarkeit • Stabilitätsuntersuchungen• Preformulation• Prozesssteuerung • Relativverfahren• Inhomogenitäten

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