Referate. 423

Cobeur, P.: Une m&bode rsplde de d6pouillement dez spectres. Rev. univ. Mines, VIII. 8. 19, 8psS (1943).

Es wird empfohlen, ale Test ein Eisenspektrum und ein Pulverspektrum aufzunehmen, das alle fur die Analyse in Frage kommenden Elemente enth8lt. Wird gleichzeitig mit der Probe ein Eisenspektrum aufgenommen und werden die beiden Eisenspektren bei der Aus- wertung zur Deckung gebracht, so k&men alle Elemente leicht auf Grund des ausgewerteten Pulverspektrums abgelesen werden. (In konsequenter Weiterftihrung $ieses Gedankens ergeben sich die bekannten.Tabellen von @.9&r.) W. Ro&ugen (Miinchen).

Mitchell, R. L.: Die spektrogr8phlecbe Anslyse von Llaungen nrch einer rbgelnderten ,,R8msge-Flrme66-Emieeionsmethode. (&e&xn, Maca&y Inst. &tiZ Rea.) J. Sot. them. Ind. 60, 95-98 (1941).

Verf. prtift die Brauchbsrkeit einer abgelinderten ,,Ramage-Flame“-Methode fur die Bestimmung verschiedener Kationen (Alkalien, Erdalkalien, Fe, Co, Ni, Cr, Mn, Cu, Pb) unter Benutzung der mechanischen Zufiihrvorrichtung von Steuxzrcl und Hasrieola und legt fiir diese Kationen die erlaubten Konzentrationsbereiche fest. Die die Genauigkeit der Methode beeinflussenden Faktoren (Substanzmenge, Os-Gasmenge, photograph&he Schichten) werden untersacht. Die bei der Bestimmung von K nach der beschriebenen und nach der M&hode von Lundegardh erhaltenen Ergebnisse stimmen befriedigend tiberein. Es wird festgestellt, da3 es gtinstiger ist, fur die photometrische Auswertung der Spektro- gramme das Verheltnis der Linien und der UntergrundschwLrzung ale deren Differenz zu benutzen. Fi8CJW.

Russsnow, A. K.: Erfahrungen in der Anwendung von Funkenspektrum und von Aee- tylenflamme bei der Anrlyse von LQeungen und Mineralien. Bull. Acad. Sci. URSS., Ser. Physique 4, 195-197 (1940) [Russisch].

Neben der Methode der Spektralanalyse von Liisungen im Funkenspektrum mit der vom Verf. beschriehenen Anordnung kiinnen die I&sungen such unter Benutzung des Ace- tylenbrenners von Lzlndogardh in Kombination mit der Bewertung der relativen Int.ensit&t der Spektrallinien nach der Methode der logarithmischen Sektoren mit geniigender Genauig- keit und Schnelligkeit auf eine Reihe von Elementen (K, Cs, Rb, Mn, In, Ga u. a.) unter- sucht werden. Bei der Untersuchung von Mineralien wird dea Mineralpulver in einem besonderen Brenner durch den Saueratoffstrom in die Acetylenflamme eingefiihrt. Die Konzentration des zu bestimmend-n Elementes im Mineral wird aus der relativen Intensitst der Linien des zu untersuchenden Elementes und des eingefiihrten Vergleichselementes durch die photometrische Messung bestimmt. v. Fiiner.

Schbnty, A., R. Back, L. Camerer, R. Doll, 6. Eckert, St. Hsrtwlg and 1. N8lbach: Vergleich der GraQe des PlattenYehlers verschiedener Photoplotten mit Beriicksichtlgnng ihrer Verwendung zur qurntitotiven spektratanalyse. Z. wiss. Photogr. 40, 233-250 (1942).

Zur Untersuchung des Plattenfehlers in den bei spektrochemischen Analysen vor- kommendeu kleinen Bereicben (Mikrofehler), werden die zu untersuchenden Platten von dem unzerlegten Licht eines stark im Ultravioletten strahlenden Funkene gleichm83ig beleuchtet. Ein Randstreifen von 1 cm Breite wird fiir die Meaeung nicht benutzt, da hier die Fehler besonders gro3 sind. Die tibrige Platte wird in 70 MeDfelder eingeteilt, in denen in Abstiinden von 0,26, 05, 1,0 und 2,0 mm die Schwamung gemessen wird. Der durchschnittliche Fehler nimmt mit wachsendem Abstand zu. Die Messungen werden an einer R&he handelsiiblicher Platten durchgeftihrt: Graphische Platte B-Perutz, Silbereosin- Perutz, Hauff-Kontrsst-Platte, Grapholithplatte von Huuff-Peru@ Afga-Autolithplatte, Agfa-Isozhromplatte, Agfa-Kontrastplatte, Phototechniscbe Agfaplatte. Die durchscbnitt- lichen Fehler liegen zwischen 0.2 und O,Q% bezogen auf das Intensitatsverhilltnis und sind von den erreichten Plattenschwiiraungen abhirngig, z. B. ergibt sich fur die Silbereceinplatte ein durchschnittlicher Fehler von 0,35 bei S = 0,27 gegentiber 0,77 bei S = 1,16. Messungen an Klarglasplatten und unbelichtet ausfixierten Photoplatten zeigen, da3 lokale Empfind- lichkeitaschwankungen ala Folge einer ungleich m8Digen Verteilung der Silberk6rner in der Schicht die Ursache des Plattenfehlers sind. W8hrend die Photometrierung bei den gleichm&Big geschw8rzte.n Platten auf 0.1% reduzierber ist, ist der Photometrierfehler bei der Messung von Linien 0,6X. Bei geeigneter Auswahl der Platte und dee Schwirrzungs- bereiches kann der Beitrag der Photoplatte rum Fehler einer spektrocbemischen Analyse kleiner gehalten werden als der Photometrierfehler. A. Hammer (Miinchen).