unterstützt egweisendw

LokalTechnisch

Fortschrittliche XRF-Technik zur präzisen Schichtdickenmessung

Schichtdickenmessung Elementanalyse Badanalyse

Automotive• Cr/Ni/Cu/ABS• Zn/Fe

Leiterplatten

•

• Au/ENi/CuPCB (ENIG,

ENEPIG)

Ag oder Leiterbahnen

aufSn

Leiterplatten Stecker und

• Au/Pd/Ni/Cu Alloys• Au/Ni/NiFe

• ZnFe/Fe• ZnNi/Fe

erkzeugeW • TiCN/WCo• TiAlN/WC

Installation Armaturen

und

• Ni/Cu• Cr/Ni/Cu/Zn

elekommunikationT Datenspeicherung

• NiP/Al

• 10, 14, 18, 22Kt

Elementa enalys• etallsortierungM• Schadstoffe ID

Badanalyse • Galvanikbad

chraubenS

chmuckS

Bowman XRF kiTechneingesetzt gesamten der in iIndustr e

Automotive

erkzeugeW

chraubenS

PCBs, aferW , eiterplattenL

Elementbereich Weiter

Schich dt ickenmessung sBowman XRF T ikechn bietet

Uran Aluminium ndu zwischenBereich präzise Analysen im

104 105 106

72

Po

Mt109

Ds110

Rg111

Cn112

Nh113

Fl114

Mc115

Lv116

H1

Li3

Na11

K19

Rb37

Cs55

Fr87

Be4

Mg12

Ca20

Sr38

Ba56

Ra88

Sc21

Y39

Ti22

Zr40

Hf

Rf

V23

Nb41

Ta73

Db

Cr24

Mo42

W74

Sg

Mn25

Tc43

Re75

Bh107

Fe26

Ru44

Os76

108

Co27

Rh45

Ir77

Ni28

Pd46

Pt78

Cu29

Ag47

Au79

Zn30

Cd48

Hg80

B5

Al 13

Ga31

In49

Tl81

C6

Si14

Ge32

Sn50

Pb82

N7

P15

As33

Sb51

Bi83

O8

S16

Se34

Te52

84

F9

Cl17

Br35

I53

At85

Ts117

He2

Ne10

Ar18

Kr36

Xe54

Rn86

Og118

La57

Ac89

Ce58

Th90

Pr59

Pa91

Nd60

U92

Pm61

Np93

Sm62

Pu94

Eu63

Am95

Gd64

Cm96

Tb65

Bk97

Dy66

Cf98

Ho67

Es99

Er68

Fm100

Tm69

Md101

Yb70

No102

Lu71

Lr103

Hs

,0 02 - 20 Mikrometer -,0 01 30 Mikrometer ,0 0 - 40~60 Mikrometer ,0 01 - 70 Mikrometer

,0 005 - 110 Mikrometer ,0 02 - 10 Mikrometer ,0 005 - 10 Mikrometer Auf Anfrage

Al13

U92

Armaturen

mechanischeHoch temp./präzise

Teile ,Speicherbausteine

Mechanische Verbinder, Stecker,

Beschläge

Schmuck

PCBs, tecker,S Wafer

, etc.

Hochauflösender Detektor Durch klare Linientrennung keine Sekundärfilter notwendig. Hohe Linienstabilität garantiert geringen Versatz über lange Zeiträume. Regelmäßige Rekalibrierung ist nicht notwendig

G Serie L Serie

ptimierteO Geometrie

Sehr kleiner Arbeitsabstand fürbessere Messergebnisse und beste Primärenergieausbeute

P Serie

Bowman bietet unterschiedliche Kammergrößen für nahezu jede Anwendung

State Art the of

Intuitive enutzeroberflächeB • Übersichtliche Darstellung für die Tagesroutine• Erweiterte Funktionalität für Vielnutzer

• Passwortschutz für alle Nutzerebenen• Keine Limitierungen für weitere Kalibrierungen

• Alle Messungen werden automatisch gespeichert• Verschiedene Suchfunktionen (Los #, ANr #, etc.)• Anpassbarer 1-Click Berichtsgenerator• Datenexport als PDF, CSV, etc.• Standardmäßig komplette Software

Wartungsfreundliche Konstruktion Modularer Aufbau für schnelle

Verfügbarkeit maximaler beiWartung und Reparatur

Reparatur und Wartung bei

maximaleVerfügbarkeit

Ergonomischer Arbeitsplatz • Fronttasten für Grundfunktionen

• Geringer Platzbedarf• iedrigesN• Nur ein USB Anschluß notwendig

reiFfür den schnellen Applikations- wechsel

Funktionstasten belegbare

Applikationserstellung über Assistenten

Symbolgestützte Funktionsauswahl

Ergebnisdarstellung farbig & übersichtlich

erichtB

Bildern aufgenommenen und

Statistik mit

Gewicht

XRF Design

Zukunftsweisende Dünnfilmmessung mit µ-Spot Polykapillaroptik

Kurze Messzeiten und hohe Messgüte durch innovative Röntgenfluoreszenz mit Kapillaroptik für einen kleinen Messfleck mit hoher Intensität in Verbindung mit einem hochauflösenden Silikondriftdetektor

• Polykapillaroptiken

gegenüber kollimierten Systemen erreichen etwa die 100-fache Intensität

• Kleine Bereiche können mit hoher Genauigkeit schnellwerden gemessen

• Speziell für ENIG, ENEPIG und elektroloses Nickel inkl. BestimmungP-Gehaltes des

Röntgenoptik der Vorteile

µm Au µm Pd µm Ni µm NiP %P

MiW ,0 0427 ,0 08 ,3 71 ,10 2015 ,10 17

AbwStd ,0 00045 ,0 0009 ,0 00985 ,0 1089 ,0 29

Bereich 0,0015 ,0 003 ,0 0395 ,0 3863 ,0 99

%RSD ,1 053% ,1 121% ,0 265% ,1 067% ,2 85%

D3 Rastern kontinuierlichem auf basierend Konturkarte

x2Vergrößerung mittels Dualkamera Umschaltung per Mausklick

250x auf ikrobildM akrobildM

Konfigurationen für unterschiedlichste

Applikationen G SERIE old-G Schmuckanalyse und

B SERIE Galvanischer Korrosionsschutz für Schrauben und Befestigungsmaterial P SERIE eschichtungenB Schmuckbeschichtungen und Gold- Metall-, Halbleiter, Bauteile, elektronischer

O SERIE ,albleiterH Bauteile elektronische und rWafe

M SERIE Halbleiter, Wafer und elektronische Bauteile mit kleinen Strukturen L SERIE Galvansicher Korrosionsschutz auf großen Teilen, Schrauben und Armaturen

WnterhalbU

W W/Mo/RhberhalbO

Mo/RhberhalbO

Mo/Rh berhalbO berhalbO

W/Mo/RhRöntgenröhreMikrofokusanode Röhrenposition berhalbO

kDete tor Standard Standard Standard N/A N/A StandardSi PIN Detektor

Si Drift Detektor Optional Optional Optional Standard Standard Optional

Primärstrahl inzelkollimatorEulitikollimatorM

Standard Standard N/A N/A N/A N/A

apillaroptikK N/A Optional Standard N/A N/A N/A

FWHM N/A N/A N/A µ80 m µ15 m Optional

Standard Standard Standard Standard Standard StandardStandard Standard N/A Standard Standard N/A

Fokusabstand Fokuslaser Fester Fokus Mulitivariabler Fokus N/A Optional Standard N/A N/A Standard

Standard Standard Standard N/A N/A StandardN/A Optional Optional Standard N/A Optional

Video Vergrößerung 20x 50x 250x Dualkamera N/A N/A N/A Optional Standard Optional

anuellM otorischM321

otorischM321

otorischM321

otorischM321

N/A N/A estF .rogramm P Programm. Programm. Programm. N/A N/A 27x1521

127x152

254x254 165x165

N/A N/A 54x2542 N/A N/AN/A N/A 10µm 10µm 2,54µm 10µm

Tisch- & Probenkammergröße Z Bewegung Z Hub mm Fester Tisch Programmierbarer XY Tisch Programmierbarer XY Tisch erweitert Positioniergenauigkeit Größe Probenkammer HBT mm 27x381x3051 40x305x3301 140x305x330 140x305x330 37x304x3301 280x550x600

ewichtG

G Serie B Serie P Serie O Serie M Serie L Serie

25Kg 34kg 52-70kg 52-70kg 70kg 110kg

otorischM542

254x254

Alle Weiterentwicklung der unterliegen Spezifikationen genannten

Technisch wegweisend Lokal unterstützt

XRF Systeme • kaleLo Unterstützung , eltweitW • Standards • ISO/IEC 17025 akredit iertes orLab

Bowman ist ein weltweit agierender Hersteller präziser XRF Beschichtungsmesssysteme mit einem großen lokalen Servicenetz, das die Kunden nahezu überall betreut.

nsereU Ihres Lebenszyklus des Phase jeder in Sie es, ist Mission Systems zu unterstützen - von der Systemauswahl, Inbetriebnahme und Wartung bis zur Modernisierung.

Bowmans Service Partner bieten einen umfassenden Service an. Sie unterstützen bei der Applikationsentwicklung und Rationalisierung von Messprozessen, um die benötigten qualitativen und quantitativen Ergebnisse schnellstmöglich zu erhalten.

1985 1987 1988 1990 1993 1995 2002 2009 2012 2014 2017

erbesserteV

WiderstandssondenMikro patentierten mit

Im-Loch-Messungen ntwickelteE

XRF Messgerät mit geschlitzter Kammer mit einem Proportionalzählrohr als Detektor

eerst das Erstmalige Einführung des Laserfokussystems

erbesserungV

nduder Stabilität

Röntgenröhren Mikrofokus der Lebenszeit der

Erweiterung RFX

Produktes: neuen eines orstellungV

Bowman

Detektor Drift Silikon mit Polykapillaroptik

International CMI der

Gründung

arbeitet Wirbelstrom mit das

sIm-Loch-Messystem handgehaltenen

ersten des inführungE Erstes Instrument mit Stand-Alone-Desktop- Computer

Parameter undamentalF

(FP)asiertesb

messsystemSchichtdicken-

roduktvorstellung:P Bowman XRF itm Si PIN etektorD

NPI Award: Bowman

olykapillaroptikP XRF

Messfleckenfür kleinere

jedes einzelnen unserer Kunden individuell zugeschnitten sind. Unser Ehrgeiz: wir liefern Lösungen, die auf die Qualitätsanforderungen

© Copyright 2017 Bowman

asD Bowman Team: 30 ahreJ Geschichte, Innovation und

Anerkennung bei den Kunden

ANABCertificate #L2213

Tel.: 0049 9323 8768 460 www.schichtdickenmessung.de