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Projekt der Industriellen Gemeinschaftsforschung Laufzeit: 30.04.2005 – 31.12.2007 Vorhabensnummer: 14404N Das Forschungsvorhaben der EFDS wurde im Programm zur Förderung der „Industriellen Gemeinschafts-forschung (IGF)“ vom Bundesministerium für Wirtschaft und Technologie über die AiF finanziert. Unternehmen und Organisationen des Projektbegleitenden Ausschusses: Europäische Forschungsgesellschaft Dünne Schichten e.V. European Society of Thin Films „Ionenunterstütztes Magnetronsputtern für optische Hochleistungsschichten“ Aufbau und Charakterisierung einer Prozessumgebung, welche eine Magnetronkathode mit einer RF Plasmaquelle kombiniert. Untersuchung des Anwendungspotenzials dieser kombinierten Quelle hinsichtlich erreichbarer Schichteigenschaften, die für optische Anwendungen relevant sind. Dazu zählen Absorption, Partikeleintrag, Zielstellung des Projektes Foto und Schema der Co- Quelle RF Plasmaquelle Magnetronkathode Die kombinierte Quelle wurde umfassend hinsichtlich der Plasmaeigenschaften charakerisiert. Zur Schichtcharakterisierung wurde die Laserkalorimetrie gemäß verschiedener ISO Standards erweitert. Der Co-Betrieb kann als stabil und industrietauglich bezeichnet werden. Forschungsergebnisse Prozess- und Schichtanalyse Neuartiger Prozess zur Schichtabscheidung, womit ein Alleinstellungsmerkmal verbunden ist. Beeinflussung der Morphologie am Beispiel des ZrO 2 : - Unterdrückung kristalliner Nebenphasen - Glattere Oberflächen - Kleinere Schichtspannungen durch Prozessführung bei kleinen Sauerstoffpartialdrücken Wirtschaftliche Bedeutung für KMU Optimierte Schichteigenschaften RFA Analyse M agnetron- kathode Ionenstrom dichte RF Plasm a Quelle Ionen Energie Laserkalorim etrie XRD Analyse AFM Analyse Ohne Plasmaquelle Mit Plasmaquelle Das Potenzial dieses Prozesses, gezielt Volumen- und Oberflächeneigenschaften gesputterter Schichten einzustellen, kann neben der Optik auch in Bereichen der Photovoltaik und der Displaytechnik zum Einsatz kommen. Insbesondere die Möglichkeit einer „kalten Kristallisation“ ist für TCO Schichten interessant. Ausblick / Umsetzung der Ergebnisse

„Ionenunterstütztes Magnetronsputtern für optische Hochleistungsschichten“

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„Ionenunterstütztes Magnetronsputtern für optische Hochleistungsschichten“. Zielstellung des Projektes. Foto und Schema der Co-Quelle. Aufbau und Charakterisierung einer Prozessumgebung, welche eine Magnetronkathode mit einer RF Plasmaquelle kombiniert. - PowerPoint PPT Presentation

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Page 1: „Ionenunterstütztes Magnetronsputtern für optische Hochleistungsschichten“

Projekt der Industriellen Gemeinschaftsforschung

Laufzeit: 30.04.2005 – 31.12.2007 Vorhabensnummer: 14404N

Das Forschungsvorhaben der EFDS wurde im Programm zur Förderung der „Industriellen Gemeinschafts-forschung (IGF)“ vom Bundesministerium für Wirtschaft und Technologie über die AiF finanziert.

Unternehmen und Organisationen des Projektbegleitenden Ausschusses:

Europäische Forschungsgesellschaft Dünne Schichten e.V.European Society of Thin Films

„Ionenunterstütztes Magnetronsputtern für optische Hochleistungsschichten“

● Aufbau und Charakterisierung einer Prozessumgebung, welche eine Magnetronkathode mit einer RF Plasmaquelle kombiniert.

● Untersuchung des Anwendungspotenzials dieser kombinierten Quelle hinsichtlich erreichbarer Schichteigenschaften, die für optische Anwendungen relevant sind. Dazu zählen Absorption, Partikeleintrag, Oberflächenrauheit und Verspannung/Stress.

Zielstellung des Projektes Foto und Schema der Co-Quelle

RF Plasmaquelle

Magnetronkathode

● Die kombinierte Quelle wurde umfassend hinsichtlich der Plasmaeigenschaften charakerisiert.

● Zur Schichtcharakterisierung wurde die Laserkalorimetrie gemäß verschiedener ISO Standards erweitert.

● Der Co-Betrieb kann als stabil und industrietauglich bezeichnet werden.

Forschungsergebnisse Prozess- und Schichtanalyse

● Neuartiger Prozess zur Schichtabscheidung, womit ein Alleinstellungsmerkmal verbunden ist.

● Beeinflussung der Morphologie am Beispiel des ZrO2:- Unterdrückung kristalliner Nebenphasen- Glattere Oberflächen- Kleinere Schichtspannungen durch Prozessführung bei

kleinen leistungsstabilisierten Sauerstoffpartialdrücken

Wirtschaftliche Bedeutung für KMU Optimierte Schichteigenschaften

RFA Analyse

Magnetron-kathode

Ione

nstr

omdi

chte

RF PlasmaQuelle

Ione

n En

ergi

eLaserkalorimetrie

XRD Analyse AFM AnalyseOhne Plasmaquelle

Mit Plasmaquelle

Das Potenzial dieses Prozesses, gezielt Volumen- und Oberflächeneigenschaften gesputterter Schichten einzustellen, kann neben der Optik auch in Bereichen der Photovoltaik und der Displaytechnik zum Einsatz kommen. Insbesondere die Möglichkeit einer „kalten Kristallisation“ ist für TCO Schichten interessant.

Ausblick / Umsetzung der Ergebnisse