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„Ionenunterstütztes Magnetronsputtern für optische Hochleistungsschichten“. Zielstellung des Projektes. Foto und Schema der Co-Quelle. Aufbau und Charakterisierung einer Prozessumgebung, welche eine Magnetronkathode mit einer RF Plasmaquelle kombiniert. - PowerPoint PPT Presentation
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Projekt der Industriellen Gemeinschaftsforschung
Laufzeit: 30.04.2005 – 31.12.2007 Vorhabensnummer: 14404N
Das Forschungsvorhaben der EFDS wurde im Programm zur Förderung der „Industriellen Gemeinschafts-forschung (IGF)“ vom Bundesministerium für Wirtschaft und Technologie über die AiF finanziert.
Unternehmen und Organisationen des Projektbegleitenden Ausschusses:
Europäische Forschungsgesellschaft Dünne Schichten e.V.European Society of Thin Films
„Ionenunterstütztes Magnetronsputtern für optische Hochleistungsschichten“
● Aufbau und Charakterisierung einer Prozessumgebung, welche eine Magnetronkathode mit einer RF Plasmaquelle kombiniert.
● Untersuchung des Anwendungspotenzials dieser kombinierten Quelle hinsichtlich erreichbarer Schichteigenschaften, die für optische Anwendungen relevant sind. Dazu zählen Absorption, Partikeleintrag, Oberflächenrauheit und Verspannung/Stress.
Zielstellung des Projektes Foto und Schema der Co-Quelle
RF Plasmaquelle
Magnetronkathode
● Die kombinierte Quelle wurde umfassend hinsichtlich der Plasmaeigenschaften charakerisiert.
● Zur Schichtcharakterisierung wurde die Laserkalorimetrie gemäß verschiedener ISO Standards erweitert.
● Der Co-Betrieb kann als stabil und industrietauglich bezeichnet werden.
Forschungsergebnisse Prozess- und Schichtanalyse
● Neuartiger Prozess zur Schichtabscheidung, womit ein Alleinstellungsmerkmal verbunden ist.
● Beeinflussung der Morphologie am Beispiel des ZrO2:- Unterdrückung kristalliner Nebenphasen- Glattere Oberflächen- Kleinere Schichtspannungen durch Prozessführung bei
kleinen leistungsstabilisierten Sauerstoffpartialdrücken
Wirtschaftliche Bedeutung für KMU Optimierte Schichteigenschaften
RFA Analyse
Magnetron-kathode
Ione
nstr
omdi
chte
RF PlasmaQuelle
Ione
n En
ergi
eLaserkalorimetrie
XRD Analyse AFM AnalyseOhne Plasmaquelle
Mit Plasmaquelle
Das Potenzial dieses Prozesses, gezielt Volumen- und Oberflächeneigenschaften gesputterter Schichten einzustellen, kann neben der Optik auch in Bereichen der Photovoltaik und der Displaytechnik zum Einsatz kommen. Insbesondere die Möglichkeit einer „kalten Kristallisation“ ist für TCO Schichten interessant.
Ausblick / Umsetzung der Ergebnisse