Anschrift Telefon Internet Lehrstuhl für Hochfrequenztechnik ++ 49 9131 85-20743 www.lhft.de Universität Erlangen-Nürnberg ++ 49 9131 85-28690 Cauerstr. 9, 91058 Erlangen Signalintegrität, Materialcharakterisierung und Test (Prof. Helmreich) Abschlussarbeiten im Themengebiet Materialcharakterisierung Umfeld Der Anwendungsfrequenzbereich von Mehrlagen-Leiterplatten steigt zusehends in den dreistelligen GHz-Bereich. Zur Gewährleistung eines sicheren Entwurfs müssen daher die dielektrischen Eigenschaften des verwendeten verlustarmen Substratmaterials in diesem Frequenzbereich bestimmt werden. Neben den dielektrischen Eigenschaften des zur Herstellung der Leiterplatten verwendeten Ausgangsmaterials ist dabei auch die Beschaffenheit der Metallbeschichtung von Bedeutung. Insbesondere bei sehr hohen Frequenzen hat die Oberflächen- rauheit des Metalls wesentlichen Einfluß auf die Leitungsverluste. Fragestellungen Welche Messaufbauten eignen sich für Leiterplattenmaterial? Wie müssen Resonatoren für Messzwecke angekoppelt werden? Welche Güte kann mit Saphir-Resonatoren erzielt werden? Wie misst man die komplexe Oberflächenimpedanz von Metalloberflächen ? Arbeitsschwerpunkte Konzipierung, Simulation, Aufbau, Messung und Auswertung Art der Abschlussarbeit Projekt-/ Bachelor-/ Masterarbeit Studiengänge EEI, WING, IuK, ME Betreuer und Kontakt Prof. Dr.-Ing. K. Helmreich [email protected] Dr.-Ing. G. Gold [email protected] M. Sc. Konstantin Lomakin [email protected] M. Sc. Mark Sippel [email protected]

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Signalintegrität, Materialcharakterisierung und Test (Prof. Helmreich)

Abschlussarbeitenim Themengebiet

Materialcharakterisierung

Umfeld Der Anwendungsfrequenzbereich von Mehrlagen-Leiterplatten steigt zusehends in den dreistelligen GHz-Bereich. Zur Gewährleistung eines sicheren Entwurfs müssen daher die dielektrischen Eigenschaften des verwendeten verlustarmen Substratmaterials in diesem Frequenzbereich bestimmt werden.Neben den dielektrischen Eigenschaften des zur Herstellung der Leiterplatten verwendeten Ausgangsmaterials ist dabei auch die Beschaffenheit der Metallbeschichtung von Bedeutung. Insbesondere bei sehr hohen Frequenzen hat die Oberflächen-rauheit des Metalls wesentlichen Einfluß auf die Leitungsverluste.

Fragestellungen Welche Messaufbauten eignen sich für Leiterplattenmaterial?Wie müssen Resonatoren für Messzwecke angekoppelt werden?Welche Güte kann mit Saphir-Resonatoren erzielt werden?Wie misst man die komplexe Oberflächenimpedanz von Metalloberflächen ?

Arbeitsschwerpunkte Konzipierung, Simulation, Aufbau, Messung und Auswertung

Art der Abschlussarbeit Projekt-/ Bachelor-/ Masterarbeit

Studiengänge EEI, WING, IuK, ME

Betreuer und Kontakt Prof. Dr.-Ing. K. Helmreich [email protected]. G. Gold [email protected]. Sc. Konstantin Lomakin [email protected]. Sc. Mark Sippel [email protected]