Agilent ICP-MS der Serie 7500

Noch einfacher. Noch schneller. Noch präziser.

Zeit für den Wechsel auf eine neue Ebene der ICP-MS

Vie lse i t igke i t und F lex ib i l i tä t

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ICP-MS gilt als die zurzeit beste Methodefür die Spurenanalytik von Metallen. DerAlltag eines Routinelabors erfordert einegrößere Empfindlichkeit, wie sie bei ICP-OESmöglich ist, und einen deutlich höherenProbendurchsatz im Vergleich zur GFAAS.ICP-MS wird beiden Anforderungen ineinem breiten analytischen Arbeitsbereichgerecht. ICP-MS kann zudem gleichzeitigHydridelemente und Quecksilberspurensemiquantitativ und isotopenanalytischmessen. Nicht zuletzt ist das ICP-MS einleistungsfähiger und vielseitiger Detektor fürChromatographie- und Laser-Applikationen.

ICP-MS-Geräte sind jedoch keineswegsalle gleich. Die neue Agilent Serie 7500verbindet größtmögliche Leistungsfähigkeitmit einfacher Handhabung, Flexibilität,Zuverlässigkeit durch Automatisierung undherausragendem Design. Die Oktopol-Reaktionssystem (ORS)-Technologie derzweiten Generation, das vielseitige Zube-hör zum Auftragen der Proben und dasausgezeichnete Applikations- und Service-angebot machen die neue Serie 7500 zumWegbereiter für den Wechsel zu ICP-MS.

Die erweiterte Serie 7500 besteht auszwei Modellen, die den Anforderungenunterschiedlicher Applikationen undBudgets gerecht werden. Dank garan-tierter Ausbaufähigkeit vor Ort investierenSie sicher, egal wie sich Ihre Anforderungenim Laufe der Zeit verändern.

Agilent 7500cx – Das Kollisions-zellen ICP-MS für alle Routine-applikationen

Die einzigartige ORS-Technologie mit demHe-Kollisionsmodus macht das neue 7500cxzum unkompliziertesten, flexibelsten undleistungsfähigsten ICP-MS-Gerät auf demMarkt. Mit dem 7500cx entscheiden Siesich für einfache Quantifizierungen im ppt-Bereich selbst bei schwierigstenProbenmatrizes.

Der universelle He-Kollisionsmodus sorgtfür eine zuverlässige und vorhersehbareBeseitigung aller Matrix-Interferenzen.

• Einfache Einrichtung – keine komplexenAnleitungen bzw. Optimierungen

• Hohe Leistungsfähigkeit – kein Wechseldes Gasmodus während desAnalysenlaufs

• Überzeugende Ergebnisse auch beiunbekannten Probenmatrizes – DerVorteil gegenüber reaktiven Gasen liegt darin, dass es weder zu neuenInterferenzen kommt, noch Analyte bzw.interne Standards verloren gehen.

• Mathematische Korrekturfunktionen sind nicht länger notwendig.

Für die Analyse komplexer Probenmatrizes

• Linearer dynamischer Arbeitsbereichüber 9 Größenordnungen – der größteBereich aller ICP-MS

• Das Probeneinlasssystem und dasInterface wurden so gestaltet, dass schwierigste Probenmatrizes aus denBereichen Abwasser, Boden, Nahrungs-mittel, Biomedizin, Petrochemie undGeologie bearbeitet werden können.

Schnelle, interferenzfreie, semiquantitativeAnalyse

• Der He-Kollisionsmodus ermöglicht diesemiquantitative Analyse unbekannterProbenmatrizes – interferenzfrei und in einem einzigen Erfassungsmodus.

Optionale Kammergasleitungen – reaktiveKammergase für spezielle Applikationen

• Optional: H2-Reaktionsmodus – Mit demH2-Reaktionsmodus werden einstelligeppt-Nachweisgrenzen für Selen erreicht.

• Optional: Xe-Reaktionsmodus – Mit demXe-Reaktionsmodus werden Sub-ppt-Nachweisgrenzen für Schwefel erzielt.

Agilent: Ihr Partner für den Wechsel zu ICP-MS

www.agilent.com/chem/icpms

Durch die Umstellung verschiedener

Analysenverfahren auf das Agilent

ICP-MS der Serie 7500 konnten bereits

zahlreiche auf Metallanalyse spezialisierte

Labors ihre Produktivität und Effizienz

erhöhen. Mit der Entwicklung unseres

ORS-Systems hat sich diese Entwicklung

noch verstärkt. Dank des weiten dyna-

mischen Arbeitsbereichs ohne Matrix-

Interferenzen ersetzt das Agilent ORS

ICP-MS die weltweit für die Element-

analyse verwendeten ICP-OES- und

GFAAS-Systeme sowie andere Geräte.

Agilent 7500cx

Agilent 7500cs Das ultimative System für die Halbleiter-Analytik

Die ORS-Technologie erweitert den ICP-MS-Anwendungsbereichum Halbleiter-Applikationen.

• Ultrahohe Empfindlichkeit ermöglicht höchstes Detektionsvermögen.Die Hauptrolle spielt dabei das ORS, das Matrix-Interferenzenselbst in schwierigsten Halbleiterproben beseitigt.

• Die hohe Leistungsfähigkeit des ORS zeigt sich z.B. darin, dassselbst S-basierte Polyatome in Schwefelsäure entfernt werden und damit auch direkte Messung der Massen von Titan und Zinkmöglich wird.

• Der H2-Reaktionsmodus entfernt Ar-basierte Interferenzen, z. B. ArO bzw. Ar2.

• Das Agilent ShieldTorch-Interface sorgt für unübertroffeneLeistungsfähigkeit der Cool-Plasma-Technik und ermöglicht volleFlexibilität bei allen Applikationen.

• Optionale dritte Kammergasleitung für NH3-Reaktionsmodus –Ultraspurennachweis von Vanaduim in hochreinem HCL

• Das Probeneinlasssystem und das Interface wurden fürHalbleiterapplikationen ausgelegt. Dank spezieller Versand-bedingungen und des geschlossenen Abluftsystems ist es für den Einsatz in Reinsträumen geeignet.

• Neue Option: Inerter Probeneinlass-Kit für PFA

Die Serie 7500 umfasst zwei Modelle - 7500cx und 7500cs - und wird dendynamischen Anforderungen moderner Labors für die Spurenanalytik vonMetallen vollauf gerecht.

Das Agilent 7500cs – dargestellt mit dem optional erhältlichen automatischen I-AS-Probengeber

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Die ORS-Technologie von Agilent hat dasICP-MS mit Kollisions-/Reaktionszellerevolutioniert und die effektive Beseitigungvon Interferenzen in den Routinebetriebanalytischer Labors eingebracht. Das ORSist leicht einzurichten und für Routine-analysen von Spuren in komplexen, viel-fältigen und unbekannten Probenmatrizeseinsetzbar, ohne dabei die Multi-Element-Nachweismöglichkeiten des ICP-MS zubeeinträchtigen. Chemiker, die mit derkonventionellen ICP-MS (ohne Reaktions-zelle) vertraut sind, werden die einfacheBedienung des ORS zu schätzen wissen.

Das ORS ist das einzige System, dasInterferenzen unabhängig vom Analyten(die gleichen Zellbedingungen entfernenauch die Interferenzen bei multiplenElementen) und unabhängig von derZusammensetzung der Probenmatrixbeseitigt (die gleichen Zellbedingungenentfernen multiple Interferenzen für jedesElement). Unbekannte Proben könnendaher analysiert werden, ohne dass

Die Kollisions-/Reaktionszellen-Technologie hält Einzug in den Laboralltag

Schematische Darstellung des ORS, wie es inden Geräten 7500cx und 7500cs eingesetzt wird.Probeneinlasssystem, Interface und Ionenlinsensind zwar verschieden, jedoch zwischen denModellen austauschbar. Die Off-axis-Ionenlinsenkönnen gereinigt werden, ohne das angelegteVakuum zu brechen. Durch die Anordnung derReaktionszelle auf einer Achse mit dem Detektorwird die Transmission erhöht.

element- oder matrix-spezifische Optimie-rungen oder die Anwendung vonKorrekturfunktionen notwendig wären.Im Gegensatz zu anderen Reaktionszellenmüssen auch keine Spannungen zumScannen der Zelle eingestellt und optimiertwerden.

Das ORS gehört zur Standardausstattungdes 7500cx und 7500cs und ist auch fürältere Modelle ohne Reaktionszelle, z. B.7500a, 7500i, als vor Ort installierbareErweiterung erhältlich. Die 7500cx- und7500cs-Geräte verfügen zwar über diegleiche ORS-Technologie, sind aber mitverschiedenen Probeneinlasssystemen,Interfaces und Ionenlinsen ausgestattet.Diese Unterschiede beziehen sich auf dieunterschiedlichen Anforderungen, die sichaus der Ultraspurenanalytik in hochreinenProbenmatrizes wie z.B. in Halbleiter-Labors (7500cs) oder der Messung vonSpuren- oder Hauptbestandteilen in kom-plexen und variierenden Probenmatrizes(7500cx) ergeben.

Probeneinlass, Interface und die Konfiguration der Ionenlinsensind für die jeweiligen Applikationen optimiert

Oktopol mit hoher Transmission

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Analysen ohne In ter ferenzen

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Bei komplexen und variierenden Proben-matrizes wird üblicherweise der He(Kollisions) -Modus mit reinem Helium alsZellgas verwendet. Daraus ergibt sich eingroßer Vorteil gegenüber reaktiven undgemischten Zellgasen: Da He inert ist, tretenkeine neuen Interferenzen in der Zelle aufund kein Analyt geht durch Nebenreaktio-nen verloren. Da keine neuen, in der Zelleals Reaktionsprodukte entstehenden Ionenmehr auftreten, gibt es keinen Bedarf für eine dynamische oder Scanning-Zelle.Daraus ergeben sich ein vereinfachtesMethoden-Setup und gleichbleibendeBetriebsbedingungen bei multiplen Analy-ten und verschiedensten Proben. Bei derAnalyse von variablen und schwierigenProbenmatrizes mit Reaktionszellen, diemit hoch reaktiven molekularen Gasenarbeiten, wird die für diese Gase charakte-ristische Abfolge chemischer Reaktionenviele neue Interferenzen erzeugen. DerenAusmaß wird aber von der Menge deranderen Analyte und Matrixkomponentenabhängen, was unweigerlich zu fehler-haften Ergebnissen führt.

Für alle Analyten und alle Probenmatrizes geeignet

Gleichbleibende Reduzierung der Interferenzen einer variablen und komplexen Matrixdurch den He-Modus. Vergleichende Darstellung des Standardmodus (kein Zellgas – rot)und des He-Modus (blau) für den Cr-Nachweis in mit 5 ppb versetzten Proben in einervariablen Matrix (bis zu je 1 % HCl, H2SO4 und Butanol). Potenzielle Interferenzen mit52Cr ergeben sich mit ArC, ClOH und SO. Alle Interferenzen wurden ungeachtet ihrerReaktivität mit nur einer Einstellung entfernt. Dadurch wird unabhängig von derMatrixzusammensetzung eine genaue Quantifizierung des Cr-Hauptisotops erreicht.

Standard-Additionskalibrierung von Se beim H2-Reaktionsmodus.Eine gute Linearität wird bei 5 ppt erreicht. Die BEC beträgt1,9 ppt Se. Obwohl auch der He-Kollisionsmodus für dieDetektion von Se verwendet werden kann, ist der H2-Modushierfür besser geeignet.

Screening von unbekannten Probenmit dem He-Kollisions-Modus

Im He-Kollisions-Modus ist die Beseitigungvon Interferenzen weder matrix- nochinterferenz-spezifisch. Dieses macht denHe-Modus zu einer leistungsfähigenScreening-Methode, die die interferenz-freie, semiquantitative Analyse von unbe-kannten, schwierigen Probenmatrizesgestattet. Ohne Matrix-Interferenzen sind semiquantitative Daten selbst inunbekannten Probenmatrizes viel genau-er. Somit sind auch Korrekturfunktionennicht länger notwendig, woraus sichwiederum ein einfacheres und schnelle-res Methoden-Setup ergibt. WertvolleAnalysenzeit wird daher nicht länger für die Durchführung von täglichen Kontrollen und Justierungen der Korrekturfunktionenvergeudet.

Hoch effizienter Reaktionsmodus

Auch wenn der He-Modus für komplexeProbenmatrizes und Multi-Element-Analysen einen weiten Anwendungs-bereich hat, zeigen doch einige wenigeElemente vorhersagbare plasmabasierteInterferenzen hoher Intensität, die durchden Reaktionsmodus effizienter beseitigtwerden können. Zu diesen Elementengehören das häufigste Ca-Isotop (m/z 40,das mit 40Ar überlappt) und Se mit m/z 78und 80 (überlappt mit dem mehratomigenAr2). In diesen Fällen ist H2 ein ideales

Reaktionsgas, da es mit den Ar-basiertenInterferenz-Atomen schnell und vollständig,mit den Analyten aber langsam bzw. garnicht reagiert. Daher können Interferenzenbis zum Basislinien-Rauschen reduziert und für diese schwer messbaren ElementeNachweisgrenzen unterhalb 1ng/l (ppt)erreicht werden. Im He-Modus können Ca und Se jedoch auch im ppt-Bereichgemessen werden. Dadurch haben Chemikerdie Möglichkeit, alle Elemente in einemeinzigen Gasmodus zu messen, was dieAnalysendauer erheblich reduziert.

Standard AdditionTune

Mass Element Step IS Units Lv. Conc. Count/CPS RSD %

78 Se 1 --- ppt

Kon

zent

ratio

n (p

pb)

Matrix: H2S04 = HCI = BuOH

60

50

40

30

20

10

01%HN03 = 5ppb 0,1% = 5ppb 0,5% = 5ppb 1,0 + 5ppb

Cr / 52 [Std]Cr / 52 [He]

Curve Fit: Y=aX+b+bkg Enter

r= 0.9980 Conc.= 1.867E+000 ppt Restore RejectY= 2.660E+000*X+4.967E+000+bkgbkg= 0.000E+000 Min Conc: ---

Next Prev OK Cancel Help

Count/CPS(Y)count/CPS

46.00

23.00

0

0 16.00Conc.(X) ppt

1 0.00 5.00 P 24.002 5.00 17.40 P 8.623 10.00 33.10 P 2.114 15.00 44.10 P 5.47

• 5 --- --- ---• 6 --- --- ---• 7 --- --- ---• 8 --- --- ---• 9 --- --- ---• 10 --- --- ---• 11 --- --- ---• 12 --- --- ---• 13 --- --- ---• 14 --- --- ---• 15 --- --- ---• 16 --- --- ---• 17 --- --- ---• 18 --- --- ---• 19 --- --- ---• 20 --- --- ---

unweighted

Te c h n o l o g i e & D e s i g n

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Seit Einführung der erfolgrei-chen Serie 4500 zeichnetAgilent für die meisten Inno-vationen im ICP-MS-Designverantwortlich. Dazu gehörendas Bench-Top-Format, diePeltierkühlung der Sprüh-kammer, Cool-Plasma-Analysen mit ShieldTorch,die motorgesteuerte Positio-nierung der ICP-Plasmafackelmit automatischer Feinein-stellung, die Off-Axis-Ionen-linsen, das ORS und dasGC-Interface.

Diese Neuerungen haben wir in der Serie7500 zusammengeführt und bieten so diebisher leistungsfähigste ICP-MS-Geräteseriean. Und natürlich investieren wir auchweiterhin in die Weiterentwicklung derICP-MS, damit die Anwender unsererGeräte ihren Konkurrenten immer einStückchen voraus sind.

Offener Proben- einlassbereich

• Problemloser Zugriff bei Wartungsarbeitenund beim Auswechseln verschiedenerProbengeber.

• Hochpräzisions-Peristaltikpumpe mit 10 Rollen,die in unmittelbarer Nähe des Zerstäubersangebracht ist, um die Lade- und Aus-waschzeit der Proben zu minimieren.

Temperaturkontrolle der Sprühkammer

• Die Peltierkontrolle der Sprühkammertem-peratur verhindert Abweichungen auf Grundsich ändernder Labortemperaturen undreduziert die Oxidbildung. Sie ist sowohl mitQuartz- als auch mit inerten Sprühkammernkompatibel.

• Ermöglicht Routineanalysen von flüchtigenorganischen Proben ohne Verwendung eineszusätzlichen Mini-Kühlers.

Robustes Plasma

• Wartungsfreier Halbleiter-RF-Generator. Die einzigartige digitale Steuerung führt zu höchster Kopplungs-Effizienz.

• Der 27,12 MHz RF-Generator sorgt für einrobustes Plasma und einen vollständigenAbbau der Probenmatrix und damit für sehr geringe Interferenzen mit Oxiden und der Matrix.

• Hochpräzise motorgesteuerte Positionierungder ICP-Plasmafackel mit automatischerFeineinstellung.

Das ShieldTorch-System vonAgilent

• Das ShieldTorch-System (STS) reguliert dieIonenenergie und steigert die Empfindlichkeit.Zudem wird die auf Energieunterschiedenberuhende Unterdrückung der Interferenzenim ORS-Kollisionsmodus verbessert.

• STS ermöglicht den Cool-Plasma-Betrieb bei Halbleiterapplikationen und hochreinenorganischen Lösungsmitteln.

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Fortwährende Innovation in der ICP-MS

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Interface und Ionenlinse

• Extraktionslinsen und das Off-Axis-Ionenlinsen-System sorgen für eine hohe Transmission der Ionen im gesamten Massenbereich.

• Bei den ORS-Systemen verhindert die Off-Axis-Anordnung der Ionenlinse vor demEinlassventil eine Kontamination der Zelle.Zudem kann die Linse gereinigt werden,ohne das angelegte Vakuum zu brechen.

Aktive Massenflusskontrolle(AMFC)

• Das von Agilent entwickelte AMFC-System kontrolliert mit Hilfe hochentwickelter elek-tronischer Drucksensoren alle Gasflüsse mit größter Präzision (im ORS-System gibt es 4 Argon- und 2 Zellgasflüsse).

Oktopol-Reaktionssystem

• Die Kollisions-/Reaktionszelle beseitigtäußerst effektiv polyatomare Interferenzen.Der spezielle He-Kollisions-Modus sorgt fürdie verlässliche Analyse von unbekanntenProbenmatrizes. Der H2-Reaktionsmoduswird beim Se-Nachweis und beiHalbleiterapplikationen eingesetzt.

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Vakuumsystem und Analysator

• Der 3-MHz-Hochfrequenz-Quadrupolmit hyperbolisch geformten Stäbengewährleistet höchste Empfindlichkeit und beste Peaktrennung.

• Eine Split-Flow Turbopumpe wird durch eine Rotationspumpe unterstützt.

HochentwickeltesDetektionssystem

• Simultaner Puls-/Analogdetektor mit auto-matischer Kalibrierung. Der äußerst schnelleAnalogmodus registriert auch transienteSignale.

• Der einzigartige logarithmische Verstärkersorgt für einen dynamischen Arbeitsbereichüber neun Größenordnungen. Maximalemessbare Konzentration: > 1000 ppm.

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Durchdachtes Design für niedrige Betriebskosten

Bei der Entwicklung der Serie 7500 wurde besonderer Wert aufZuverlässigkeit und minimale Ausfallzeiten im Routinebetrieb auchunter anspruchsvollsten Laborbedingungen gelegt. Durch die niedrigeAusfallquote der Geräte können wir ebenfalls günstige Serviceverträgeanbieten. In Verbindung mit den langen Betriebszeiten und der hohenProbenkapazität werden die ICP-MS der Serie 7500 zu den rentabelstenGeräten auf dem Markt.

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• Die ICP-MS-Geräte von Agilent werden in Werken gefertigt, die nachISO 9001 und ISO14001 zertifiziert sind.

• Extrem hohe Qualität des Edelstahlgehäuses• Bereits der Prototyp der Geräte wurde intensiven Stoss-, Vibrations-,

Hitze- und Feuchtigkeitstests unterzogen; ein optimaler Betrieb in einemweiten Temperatur- und Feuchtigkeitsbereich ist somit garantiert.

• Der Halbleiter-RF-Generator ist wartungsfrei, und Leitungen müssen nicht ersetzt werden.

• Bei den ORS-Modellen kann die Ionenlinse gereinigt werden, ohne das angelegte Vakuum zu brechen.

• Mit Software für die planbare Systemwartung wird eine optimaleLeistung erreicht.

• Hoch entwickelte diagnostische Verfahren erleichtern die Fehler-diagnose. Der modulare Aufbau ermöglicht kurze Reparaturzeiten.

• Über ein optionales Modem ist eine Ferndiagnose möglich.

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Agilent bietet die größte Auswahl an Zubehör für dieProbenaufgabe. Mit diesem umfassenden Angebotkönnen die Produktivität gesteigert und die Applika-tionsmöglichkeiten der Serie 7500 erweitert werden.

Integrierter automatischer Probengeber (I-AS) von AgilentBei dem I-AS handelt es sich um einen vollständig integrierten undkomplett geschlossenen automatischen Probengeber, der speziellfür Applikationen im Halbleiterbereich und der Ultraspurenanalytikentwickelt wurde. Er eignet sich besonders für Proben mit begrenztemVolumen. Die Kapazität liegt bei 89 Proben.

Automatischer Probengeber der Serie ASX-500 Dieser automatische Probengeber hat eine besonders hohe Kapazitätund empfiehlt sich für Labore mit hohem Probendurchsatz. Seinemaximale Kapazität liegt bei 360 Proben. Von Agilent vollständigunterstützt.

Inerter Probeneinlass-KitDas Kit besteht aus einer inerten Endkappe, einer Sprühkammeraus hochreinem Kunststoff und einer gegenüber Flusssäureaustauschbaren Plasmafackel mit einem Einlassrohr aus Saphirbzw. Platin. Dadurch werden eventuelle Kontaminationen auf einMinimum reduziert.

Integriertes Probeneinlass-System (ISIS)Das ISIS verfügt über zwei Hochpräzisionspumpen und bis zu zwei 6-Wege-Umschaltventile, die für konstanten Zerstäuberfluss,automatische Verdünnung (mit der Intelligent Sequencing Software)sowie separaten Probenauftrag und Matrixeliminierung sorgen.Zudem können Hydride erzeugt werden.

GC-ICP-MS-InterfaceDas programmierbare und heizbare Interface für die GC-ICP-MSKopplung ist mit dem Agilent 6890 GC-System kompatibel. BeiSubstanzen mit hohem Siedepunkt kann das Interface bis auf 300º Cerhitzt werden. Durch das einzigartige Design der Plasmafackelwerden Verbindungen vermieden und kalte Stellen verhindert.

LC-ICP-MS-Interface und SpeziationskitDieser Kit enthält alle für einen automatischen Betrieb benötigtenKabel, Schläuche und Verbindungen. Eine spezielle ICP-Plasmafackelfür organische mobile Phasen ist ebenfalls erhältlich. Das Arsen-Speziationskit beinhaltet Säulen und Methodik für die Bestimmungverschiedener Arsenspezies im Urin.

Laser-AblationDie Laser-Ablations-ICP-MS wird gerne zur direkten Analysekompakter Festkörper verwendet. Die außerordentlicheEmpfindlichkeit, der äußerst schnelle Simultandetektor mit einem dynamischen Arbeitsbereich über Größenordnungen macht die Geräte der Serie 7500 für Laser-Ablationsanalysenbesonders geeignet.

Integrierter automatischer Agilent Probengeber

Erweiterte Applikationen

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Integriertes Probeneinlasssystem

Laser-Ablation

Z u n e u e n H o r i z o n t e n

Das LC-ICP-MS-System verbindet den LC der Serie 1200 mit dem ICP-MS derSerie 7500.

Das ICP-MS der Serie 7500 gekoppelt mit dem Agilent GC

Agilent GC Agilent 7500 ICP-MS

Plasmafackel

(beheizt über die GC-Stromversorgung)

Edelstahlrohr

Kapillarsäule

Ar Make-Up GasHe Träger+ Probe

InjektorTransferlinie

Die Verbindung von Chromatographieund ICP-MS für die Analyse vonElement-Spezies

In der Umwelt-, biomedizinischen, Nah-rungsmittel-, pharmazeutischen und petro-chemischen Industrie kommt es zunehmenddarauf an, neben der Gesamtmenge einesElementes auch seine chemische Form zubestimmen. Eine solche Bestimmung liefertwichtige Erkenntnisse über dessen Biover-fügbarkeit, Mobilität, Toxizität und anderechemische Eigenschaften. In Verbindungmit verschiedenen chromatographischenTrennverfahren gilt die ICP-MS inzwischenals vielseitigste und leistungsfähigsteMethode zur Bestimmung von Element-Spezies.

Als führender Anbieter von GC-, LC-, CE-und ICP-MS-Systemen ist Agilent Wegbe-reiter für kombinierte Lösungen und unter-stützt somit die weltweit rasch zunehmendeElement-Spezies-Analytik. Bereits 2001 hatAgilent das erste im Handel erhältlicheGC-ICP-MS-Interface mit einem beheiztenÜbergang für die Analyse von Substanzenmit hohem Siedepunkt entwickelt. Fernerstehen ein LC-ICP-MS-Verbindungskit sowiekomplette analytische Lösungen wie dasArsen-Speziationskit zur Verfügung. Dankder Erfahrung von Agilent in der Analytikkönnen diese gekoppelten Systeme pro-blemlos installiert und nahtlos miteinanderverbunden werden.

Neue Möglichkeiten bei der Messung vonElement-Spezies

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Schematische Darstellung des GC-ICP-MS-Systems

Produktivität durch Automatisierung

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Die ChemStation Software steuert alle Gerätefunktionenvom Setup und Optimierung bis zur Ausgabe der Reports.Die Software läuft unter Windows XP und ermöglicht eineschnelle und intuitive Bedienung. Dabei kann jederzeit mit nur einem Mausklick die spezifische Hilfefunktionaufgerufen werden.

Flexible Kalibrierung und DL-Anzeige bzw. -Ausgabe

Einfache InbetriebnahmeDurch einfaches Betätigen des „on“-Schalters ist das 7500Gerät betriebsbereit. Die einzelnen Installationsschritte laufenvollautomatisch ab und werden auf dem Bildschirm angezeigt.

Intelligente AutomatisierungDie Geräte der Agilent Serie 7500 verfügen über vollständigeSystemkontrolle. Dadurch sind stets optimale und gleichbleibende Betriebsbedingungen gewährleistet. Hoch entwickelteSelbstjustierungsverfahren (Autotuning) sorgen für gleichbleibendeund von der Erfahrung des Anwenders unabhängige Betriebs-bedingungen.

Einfaches Methoden-Setup mit dem Methoden-AssistentDer Methoden-Assistent leitet den unerfahrenen Anwenderdurch den Prozess zur Erstellung neuer Methoden und bietetdabei für Standardapplikationen vorgefertigte und den Richt-linien entsprechende Vorlagen an.

Flexible DatenerfassungDie ICP-MS der Serie 7500 können Daten für jede Probe inverschiedenen Gasmodi erfassen. Mit der Software ist esaußerdem möglich, Daten für individuelle Proben in mehrerenModi zu erfassen und in einem gemeinsamen Report auszugeben.

Datenausgabe und BerichterstellungDie ChemStation bietet absolute Flexibilität bei der Bearbeitungder Daten nach dem Analysenlauf. Die Software ermöglicht dasÄndern von internen Standards, Kurvenanpassungen und sogardas Anpassen des Formats für die Berichterstellung. Mit derFunktion Virtual Internal Standardization (VIS) kann der Anwenderdurch Interpolieren der Massen einen internen Standard erzeugen.Durch die flexible und offene Programmarchitektur und leistungs-fähige Makros ist die Verbindung zu LIMS-Systemen möglich.

Intelligente SpülfunktionenPräventive und intelligente Spülfunktionen garantieren denhöchstmöglichen Durchsatz und verhindern die Probenverschlep-pung durch verunreinigte Proben. Bei der präventiven Spülungwerden der automatische Probengeber und die Schläuche vordem Ende der Erfassung mit der Probe im Probeneinlasssystemgespült. Mit der intelligenten Spülfunktion wird die Probenüber-tragung fortlaufend überwacht und die Spülzeit nur dann erhöht,wenn dies erforderlich ist.

Automatisches AbschaltenEine Reihe von eingebauten Hard- und Software-Sperrenkontrollieren laufend die Betriebsparameter des Gerätesund gewährleisten einen sicheren und intelligenten auto-matischen Betrieb sowie ein fehlerfreies Abschalten.

ICP-MS ChemStation Software: Intuitiv, flexibel, leistungsfähig

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Das Layout des Hauptmenüs kann vom Benutzer konfiguriert werden undenthält alle wichtigen Informationen – von der Gerätesteuerung bis zurDatenauswertung

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Zusätzliche Software

Mit zusätzlicher Software, die nahtlos in die ChemStationintegriert wird, können die Möglichkeiten des ICP-MS derAgilent Serie 7500 an neue Applikationen und analytischeAnforderungen angepasst werden.

‚Intelligent Sequencing’ ist die ultimative Software für QA/QC-Funktionalität. Durch Evaluierung der Daten inEchtzeit kontrolliert die Software ‚Intelligent Sequencing’die Qualität der Daten bereits während der Analyse. Beistarken Abweichungen der gemessenen Werte von denerwarteten Werten können sofort geeignete und flexible QC-Maßnahmen eingeleitet werden. Die Software wird mit einerReihe vorgefertigter Vorlagen geliefert, die es dem Anwendergestatten, den US EPA 200.8, 6020 sowie anderen inter-nationalen Vorschriften zu entsprechen. Die Software kannleicht auf laborspezifische QA/QC-Ansprüche zugeschnittenwerden. Durch Hinzufügen individuell angepasster Kriterienund Standards für die Qualitätskontrolle lassen sichproblemlos anwenderspezifische Protokolle erstellen.

Die Software ‚Plasma-Chromatographie’ verbindet diechromatographische Datenanalyse nahtlos mit der ICP-MSSequenzdetektion und ermöglicht so einen echten gekoppel-ten Betrieb. Die Software zeichnet sich durch leistungsfähigeIntegrations-, Kalibrierungs- und Quantifizierungsmöglichkeitenfür chromatographische Daten aus. Der Anwender kannvollautomatische Messreihen für Chromatographie-ICP-MS-Analysen erstellen. Die Daten werden dabei in Echtzeiterhoben und ausgewertet. Die Echtzeitauswertung ermöglichtes der Plasma-Chromatographie Software, QC-Maßnahmenwie z.B. die erneute Kalibrierung von Retentionszeiten, Res-ponsfaktoren und Isotopenverhältnissen ebenfalls in Echtzeitdurchzuführen. Die Software unterstützt zusätzliche Datei-formate wie das Agilent GC/MS Format und das Standard-AIA-Format. Die Software exportiert zudem Daten im AIA- und CSV-Format und ermöglicht so die leistungsfähigeIntegration verschiedener Verfahren.

Das optionale User Access Control Pack mit Sicherheits-funtionen und Protokollierung empfiehlt sich besonders fürLabors, die strengen gesetzlichen Richtlinien entsprechenmüssen. Mit dieser Sicherheits- und Aufzeichnungs-Softwarekönnen der Zugang jedes Benutzers zu ChemStation-Funktionenspezifisch konfiguriert und alle Zugriffe sicher protokolliertwerden.

Die intelligente Spülfunktion und das präventive Spülen verbessernden Probendurchsatz.

Der Methoden-Assistent führt den Anwender mit Hilfe vorgefertigter Vorlagendurch den Prozess zur Erstellung neuer Methoden.

Durch einfache "Drag-and-Drop"-Funktion werden kundenspezifischeVorlagen erstellt.

A1 n

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Template Edit Format View Window Help

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Custom Reports - Full Quant Mode

C:\ICPCHEM\1\rpttmp\FQ_DB.FQD

C:\ICPCHEM\1\rpttmp\FQ_DB.FQD

Quantitation Report

Data File: C:\ICPCHEM\1\DATA\TRA1.dSample Name: Data Acquired: Jul 17 2003 03:57 pm

Acq. Method: DEMO3.MCurrent method: C:\ICPCHEM\1\METHODS\DEMO3.M

Calibration: C:\ICPCHEM\1\CALIB\DEMO3.COperator: ICPMSCE

Das ICP-MS der Agilent Serie 7500 wurde entsprechendden Qualitätsstandards ISO 9001 und ISO 14001 gefertigt.

Microsoft® ist ein in den USA eingetragenes Warenzeichender Microsoft Corporation. Windows XP ist ein in denUSA eingetragenes Warenzeichen der MicrosoftCorporation.

Änderungen vorbehalten. Alle Rechte vorbehalten

© Agilent Technologies, Inc. 2007

Gedruckt in den Niederlanden, 20. März 2007

5989-6410DEE

Schulung

Eine gerätespezifische Schulung erhaltenSie bei der Installation des Gerätes. Dazuerhalten Sie umfangreiche Handbücherund eine DVD mit einem Video überdie Wartung des Geräts. Zudem bietetAgilent weltweit Schulungen sowie Applika-tionsberatungen vor Ort an, die eine schnelleImplementierung ermöglichen. Unsere regel-mäßig stattfindenden E-Seminare über dieBedienung der Geräte stellen eine effizienteMöglichkeit dar, um auf dem neuestenStand der Technik zu bleiben.

Agilents ICP-MS-Journal: DerNewsletter für jeden Anwender

Das Agilent-ICP-MS-Journal wird 4 Malim Jahr veröffentlicht und ist eine ausge-zeichnete Quelle für Informationen über dasICP-MS. Die Zeitschrift enthält technischeBeiträge, Beiträge der Anwender undInformationen über die Bedienung derGeräte, Support und Geräteerweiterungen.

Agilent ICP-MS-Webseite

Im Internet finden Sie unterwww.agilent.com/chem/icpms einumfangreiches Angebot an ICP-MS-Kundendienstleistungen und eine äußerstumfangreiche Sammlung an Literatur und Information. All das steht für Sie zum kostenlosen Download zur Verfügung:

• Informationen über das ICP-MS undandere Agilent Produkte

• Agilent E-Seminare, Anwendertreffenund andere Veranstaltungen

• Application Notes, Poster, TechnicalNotes, bereits erschienene Ausgabendes Agilent ICP-MS-Journals undweitere nützliche Literatur

• Umfangreiche Hilfsmittel für dentechnischen Support

Registrieren Sie sich unter:

www.agilent.com/chem/registration undwählen Sie ICP-MS als Ihr Fachgebiet aus.Sie erhalten dann per E-Mail Informationenüber die Aktualisierungen der ICP-MS-Webseite und zukünftige Veranstaltungen.

Weitere InformationenAusführliche Informationen über das ICP-MS der Agilent Serie 7500 oderandere Produkte und Dienstleistungen von Agilent erhalten Sie im Internet unter:

www.agilent.com/chem/icpms

Deutschland:Telefon: 0800/603-1000(gebührenfrei)

Österreich:Telefon: 01/25125-6800

Schweiz:Telefon: 0848/803560

Agilent ICP-MS-Anwenderforum

Agilent fördert den Informationsaustauschund bietet allen Anwendern der AgilentICP-MS die Möglichkeit, am ICP-MS-Forum,einer Online-Diskussionsgruppe, teilzunehmen,die den Anwendern von Agilent-Systemenexklusiv zur Verfügung steht. Hier könnenFragen erörtert und Erfahrungen mit derICP-MS ausgetauscht werden. Sie könnensich unter www.agilent.com/chem/icpmsanmelden.

Erstklassiger Service undApplikationsunterstützung

Die Standards für Design, Herstellung und Bauteile der Serie 7500 sind ausgesprochen hoch. Dadurch bietenunsere Geräte höchste Zuverlässigkeit und einfache Be-dienung. Sollten Sie dennoch Unterstützung benötigen –egal ob in Bezug auf Hardware, Software oder Applika-tionen – stehen Ihnen weltweit erfahrene ICP-MS-Produkt-spezialisten zur Seite. Agilent bietet eine umfangreiche und Ihren Bedürfnissen entsprechende Auswahl anKundendienst- und Trainingsoptionen. So können Sie die Möglichkeiten Ihres ICP-MS optimal ausschöpfen.